首页> 外文期刊>Электронная Обработка Материалов >РАСЧЕТ ЭЛЕМЕНТНОГО СОСТАВА ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ СЛОЕВ ПРИ МАГНЕТРОННОМ РАСПЫЛЕНИИ МОЗАИЧНЫХ МИШЕНЕЙ
【24h】

РАСЧЕТ ЭЛЕМЕНТНОГО СОСТАВА ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ СЛОЕВ ПРИ МАГНЕТРОННОМ РАСПЫЛЕНИИ МОЗАИЧНЫХ МИШЕНЕЙ

机译:马赛克靶磁控溅射中薄膜层元素组成的计算

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Предложена модель процесса магнетронного распыления, которая позволяет прогнозировать элементный состав нанесенных пленок при распылении мозаичных мишеней с произвольным расположением вставок для аксиальных магнетронных распылительных систем (МРС). Модель основана на интегрировании распыленного потока с каждой точки зоны распыления и учитывает коэффициенты распыления и электронно-ионной эмиссии материалов основы и вставок. Кривая распределения плотности тока разряда аппроксимируется с применением третьего центрального момента в распределении типа "сдвоенная гауссиана", что дает возможность использовать реальные параметры зоны распыления и тока разряда магнетрона и с достаточной точностью математически описать распределение плотности ионного тока. Для верификации предложенной модели проведены экспериментальные исследования по нанесению тонкопленочных слоев методом магнетронного распыления Ti/Zr и Ti/Zr/Pb мозаичных мишеней. Анализ результатов моделирования показывает, что погрешность модели не превышает 10%.
机译:所述磁控溅射过程的模型,提出了一种允许你喷涂镶嵌目标带插入用于轴向磁控管喷涂系统(MRCS)的任意布置中预测所施加的膜的元素组成。该模型是基于从喷雾区的每个点处的喷流的积分,并考虑到喷射系数和基部和插入的材料的电子 - 离子发射。放电电流密度分布曲线中的类型“Gauscean”型的,这使得它可以使用喷雾区的真实参数的分布使用第三中心矩近似和电流磁控管放电的并以足够的精度,以数学上描述的离子电流密度分布。对于所提出的模型的验证,实验研究在薄膜层的由磁控管的溅射Ti / Zr和Ti / Zr的/铅镶嵌目标的方法中的应用程序进行。分析模拟结果表明,模型误差不超过10%。

著录项

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号