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最新の単結晶X線構造解析システム

机译:最新的单晶X射线结构分析系统

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摘要

単結晶X線構造解析は,物質の三次元構造を精度よく決定する手法として,なくてはならない分析手段である。特に,新規化合物の絶対構造を決める手段としては,事実上単結晶X線構造解析が唯一の方法である。単結晶X線構造解析の効果について疑問を差し挟む余地はないが,以前は結晶学を専門とする研究者のみが利用できる手法とされていた。しかしながら近年では,装置やソフトウェアの発達により,誰でも利用できる分析手段の1つとなってきている。本稿では,単結晶X線構造解析用装置の構成要素のなかで近年著しい進歩を遂げている,単結晶X線構造解析用検出器とソフトウェアの現状を紹介する。
机译:单晶X射线结构分析是一种基本分析装置,作为准确地确定物质的三维结构的方法。 特别地,作为用于确定新型化合物的绝对结构的装置,几乎单晶X射线结构分析是唯一的方法。 没有疑问单晶X射线结构分析的影响,而且只使用专业化晶体学的研究人员。 但是,近年来,设备和软件的发展已成为可用的分析手段之一。 在本文中,我们介绍了单晶X射线结构分析检测器和软件的当前状态,近年来单晶X射线结构分析装置的组件在近年来取得了显着进展。

著录项

  • 来源
    《有機合成化学協会誌》 |2014年第5期|共6页
  • 作者

    山崎 幹緒; 山野 昭人;

  • 作者单位

    株式会社リガク応用技術センター(196-8666東京都昭島市松原町3-9-12);

    株式会社リガク応用技術センター(196-8666東京都昭島市松原町3-9-12);

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类 有机化学;
  • 关键词

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