光電子図折分光法による表面·薄膜の局所原子構造·電子状態解析

摘要

局在した内殻準位からの光電子·Auger電子回折パターンの解析からは原子配列の情報が得られる．また，内殻励起光電子分光や軟X縁取収分光法は表面の電子·磁気構造の有力な分析手段である．両者を組み合わせた回折分光法は表層下領域の電子·磁気構造の原子レベル解析を可能とする．本手法を原子層ごとでのNi薄膜の電子·磁気構造の研究に応用した例を紹介する．