首页> 外文期刊>Физика и техника полупроводников >МОДЕЛИРОВАНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК ФОТОПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ INGAAS/INP
【24h】

МОДЕЛИРОВАНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК ФОТОПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ INGAAS/INP

机译:造型特征phototransformator LASER INGAAS / INP

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Методом математического моделирования проведен анализ достижимых значений эффективности фотоэлектрического преобразования лазерного излучения с длиной волны 1.3 и 1.55 мкм в гетероструктурах In_(0.53)Ga_(0.47)As/InP с вводом излучения со стороны подложки n-InP. Исследовано влияние параметров гетероструктуры In_(0.53)Ga_(0.47)As/InP и конструкции фотопреобразователя лазерного излучения на кпд. Проведено сравнение характеристик промоделированных фотопроизводителей In_(0.53)Ga_(0.47)As/InP и фотопреобразователей на основе GaAs для длины волны 809 нм. Показано, что при мощностях излучения 2-6 Вт достижимы значения кпд 40% для длины волны 1.3 мкм и близкие к 50% для длины волны 1.55 мкм, однако при больших мощностях кпд заметно снижается. Установлено, что основным фактором, препятствующим достижению высокой эффективности преобразования излучения большой мощности, являются потери в подложке n-InP. Оценен оптимальный уровень легирования подложек n-InP для фотопреобразоватей лазерного излучения различной мощности.
机译:进行了数学建模方法,对激光辐射的光伏变换效率的可实现值进行分析,其中激光辐射的波长为1.3和1.55μm,在IN_(0.53)GA_(0.47)的异质结构中,如/ INP。来自N-InP衬底侧的发射。研究了异质结构的参数IN_(0.53)GA_(0.47)和激光辐射的光电图试剂对效率的影响。基于809nm波长的GaAs的GaAs,由基于GaAs的工业摄像剂IN_(0.53)GA_(0.47)和光电导体的特性进行比较。结果表明,辐射容量为2-6W,效率为1.3μm的波长效率为40%,波长为1.55微米的50%,但功率效率高,效率明显减少。已经确定,在N-INP衬底中,防止高功率辐射高效转化的主要因素是损耗。估计用于照射各种功率的光电辐射的掺杂N-InP基板的最佳水平。

著录项

  • 来源
  • 作者单位

    Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук 194021 Санкт-Петербург Россия;

    Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук 194021 Санкт-Петербург Россия;

    Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук 194021 Санкт-Петербург Россия;

    Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук 194021 Санкт-Петербург Россия;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 rus
  • 中图分类 半导体物理学;
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号