ОПРЕДЕЛЕНИЕ СРЕДНЕКВАДРАТИЧНОГО ОТКЛОНЕНИЯ ИНТЕНСИВНОСТИ ИЗЛУЧЕНИЯ ПРИ МИКРОРЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОМ АНАЛИЗЕ КЕРАМИЧЕСКИХ КОМПОЗИЦИОН

摘要

Предложена методика исследования однородности композиционных керамических материалов путем оиределения среднеквадратичного отклонения значений интенсивностей вторичного рентгеновского излучения при микрореитгеноспектральном анализе.