nano tech 2011展に見る計測評価技術

摘要

2月16日～18日、国際ナノテクノロジー総合展·技術会議「nano tech2011」が東京都江東区の東京ビッグサイトで開催、ナノ材料や超微細加工技術、計測評価など様々な製品·技術が展示される。ここでは、島津製作所の展示機器を通じて、ナノ領域における計測のニーズと対応する計測評価技術の一端を紹介したい。