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【24h】

システム·レベルESDで電子デバイスが受けるストレスの測定-同相モードのストレスを受けるので差動プローブでの測定が肝要

机译:通过系统级ESD的电子设备接收的应力测量 - 由于它接收相位模式应力,用差分探头测量很重要

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摘要

筆者たちは2010年から2012年にかけて,JEITAにおけるシステム·レベルESD故障PGによるガイドライン作成の一環で,PCボード上でシステム·レベルESDストレスを受けてラッチアップを起こすICのグランド·電源間の波形を測定する実験を実施し,これを報告した.この解説はそのときの実験を基礎として,システム内のデバイスがシステム·レベルのストレスで受けるストレスをオシロスコープで測定する手法を提案する.
机译:2010年至2012年的作家,部分系统级ESD故障PG在Jeita,IC的接地电源之间的波形,导致系统级ESD应力在PC板上进行,并在闩锁上进行闩锁进行测量的实验并报道。 该评论基于当时的实验,并提出了一种测量系统中器件与示波器接收系统级应力的应力的方法。

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