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作物研究における低真空走査電子顕微鏡とX線微量分析の利用

机译:在作物研究中使用低真空扫描电子显微镜和X射线痕量分析

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摘要

電子顕微鏡は,植物の微細構造を明らかにすることで,形態のみならず生理や生化学なども含めた多様な課題について研究の進展に寄与してきた.この連載ではすでに,透過型電子顕微鏡について解説しているが(三宅2005),本稿では,低真空走査電子顕微鏡による形態観察をかいつまhで紹介し,さらにX線微量分析装置と組み合わせた分析法を取り上げる.高額な機器ではあるが,学部や研究所の共用備品として保有している機関も少なくないので,形態を機能と関連づけて検討するための道具のひとつとして活用されたい.
机译:电子显微镜揭示了植物的微观结构,有助于研究的进展,包括但也是生理学,生物化学等。 在该系列中,已经解释了透射型电子显微镜(Miyake 2005),并且在本文中,我们用低真空扫描电子显微镜引入形态学观察,并与X射线跟踪分析仪一起进行。占用。 虽然它是一个昂贵的设备,但没有许多机构作为本科和研究机构的共同产品,因此应该用作与该功能相关联的表格之一。

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