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机译:基于频道电位的表面电位模型和基于基于DC通道 - 基于DC通道 - 基于直流通道的漏极电流模型,用于全耗尽的多Si薄膜晶体管,包括散装中的尾部和深度受体的陷阱状态
Front and back surface potential model; turn-on DC drain current model; channel-potential-based; fully-depleted polycrystalline silicon thin film transistor; tail and deep acceptor-like trap states in bulk; interface charge; average electric field; numerical integration;
机译:基于频道电位的表面电位模型和基于基于DC通道 - 基于DC通道 - 基于直流通道的漏极电流模型,用于全耗尽的多Si薄膜晶体管,包括散装中的尾部和深度受体的陷阱状态
机译:同时考虑深陷状态和尾陷状态的有机薄膜晶体管在不同温度下的分析漏电流模型
机译:包含尾态和深态的非晶IGZO薄膜晶体管的基于表面势的显式模型
机译:全耗尽型多晶硅薄膜晶体管的基于直流表面电势的漏极电流模型
机译:MOS晶体管的深亚微米漏极电流和电荷模型。
机译:本体和薄膜高迁移率共轭聚合物中的供体-受体堆叠结构使用分子建模MAS和表面增强型固态NMR光谱进行表征
机译:完全耗尽的源极/漏极UTB SOI MOSFET亚阈值特性的建模和仿真,包括衬底引起的表面电势效应