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机译:通过像差校正扫描透射电子显微镜氧气填充空隙和亚稳ZnSB结构的直接元件成像
Ningbo Univ Lab Infrared Mat &
Devices Res Inst Adv Technol Ningbo 315211 Zhejiang Peoples R China;
Leibniz Inst Surface Engn IOM Permoserstr 15 D-04318 Leipzig Germany;
Ningbo Univ Lab Infrared Mat &
Devices Res Inst Adv Technol Ningbo 315211 Zhejiang Peoples R China;
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Thin films; High-angle annular dark field (HAADF); Scanning/transmission electron microscopy (STEM); Diffusion; Microstructure;
机译:通过像差校正扫描透射电子显微镜氧气填充空隙和亚稳ZnSB结构的直接元件成像
机译:通过定量像差校正扫描透射电子显微镜对亚稳Ge2Sb2Te5的晶体结构和缺陷进行直接成像
机译:定量像差校正扫描透射电子显微镜对亚稳Ge_2Sb_2Te_5晶体结构和缺陷的直接成像
机译:通过像差校正扫描透射电子显微镜通过校正扫描扫描晶体晶界偏析和元素位点位置的原子水平表征
机译:用原位和像差校正扫描透射电子显微镜表征电化学和电子材料
机译:像差校正扫描透射电子显微镜的三维点扩散函数
机译:新型磷灰石型氧化物离子导体Bi2La8 [(GeO4)6] O3:结构,性质和使用像差校正的扫描透射电子显微镜对低级间隙氧原子的直接成像。