Контрольно-измерительная система для исследования процессов высокотемпературного формирования порошково-обжиговыж покрытий

摘要

Рассмотрены вопросы построения контрольно измерительной системы для исследования процессов высокотемпературного формирования порошково-обжиговых покрытий на базе компьютерных технологий виртуальных приборов фирмы National Instruments, Показана возможность повышения точности контроля путем преобразования границ теневого изображения в световые реперные метки с последующим нахождением центра распределения освещенности. Достигнута точность контроля профиля покрытия 1 мкм при диапазоне измерения 4 мм, что позволило проводить более детальные исследования формирования на-триево-боросиликатных покрытий на керамической подложке.