プログラマブル光再構成型ゲートアレイのホログラム窓の影響解析

摘要

近年，集積回路の高密度化，多機能化がますます求められているが，トランジスタの微細化が限界に達しつつあり，集積回路の進歩が難しくなってきている．そのため集積回路の高性能化，多機能化の鈍化に対する打開策として，光によって動的に再構成を行うことができる光再構成型ゲートアレイの研究が進められている．この光再構成型ゲートアレイは，レーザアレイ，ホログラムメモリ，ゲートアレイVLSIから構成されている．光再構成型ゲートアレイはレーザアレイ部からの光の照射によってホログラムメモリ内に記憶されたコンテキスト情報（回路情報）を選択的に読み出し，ゲートアレイVLSIへとコンテキスト情報を転送することによって，内部の回路を動的に書き換えていく新しいタイプのVLSIである．そのような光再構成型ゲートアレイの研究の中で，現在，ライターによって外部からホログラム内のコンテキスト情報を書き換え可能な新しいタイプの光再構成型ゲートアレイの研究が進められている．本稿では，プログラマブル光再構成型ゲートアレイにおいて，外部からコンテキスト情報を得るホログラム窓の傷，汚れの影響について評価した結果について報告する．