テスト命令に基づくDDR3メモリモジュールテスタの開発

摘要

メモリモジュールメーカでは，製造したメモリモジュールの品質を保証するためにテストする必要がある． しかし，市販されているメモリモジュールテスタは高価であることや，低コストのものは任意のテストパターンの作成が行えないなどの問Mがある． そこで我々は評価とテストの自由度が高く，低コストなメモリモジュールテスタの開発を行った． このテスタでは，メモリテストアルゴリズムに基づくメモリテストプロセッサL DDR3メモリモジュールインタフエースをFPGAに実装している． 本論文では，開発したDDR3メモリモジュールテスタについて述べ，更に試作したテスタを使用した評価結果を報告する．