机译:基于六个sigma方案构建控制图,以解决具有不同样本量的不良品率
机译:基于六个sigma方案构建控制图,以解决具有不同样本量的不良品率
机译:分数缺陷的基于6 Sigma的控制图
机译:基于六西格玛计划的缺陷数量和平均单位缺陷数量的控制图构造
机译:可变样本大小和采样间隔Q控制图的研究
机译:X-bar控制图的自适应样本大小和自适应采样间隔方案
机译:基于平均游程长度的双采样X̄图的优化设计以最小化平均样本量
机译:基于六西格玛计划的控制图的构建,用于确定每个单元的缺陷数和平均缺陷数
机译:过程分数缺陷的经验贝叶斯属性控制图。