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IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices

召开年：2016
召开地：Boise, ID(US)
出版时间：-

会议文集：-

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1.First Measurements of a Microwave Frequency Comb with a Semiconductor Sample in a Scanning Tunneling Microscope

机译：在扫描隧道显微镜中对带有半导体样品的微波频率梳的首次测量
- 作者：Chad Rhoades;Joel Rasmussen;Patrick H. Bowles;Mark J. Hagmann;Dmitry A. Yarotski
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
2.Big Data and Predictive Analytics Methods for Modeling and Analysis of Semiconductor Manufacturing Processes

机译：用于半导体制造过程建模和分析的大数据和预测分析方法
- 作者：Sujata Butte;Sainath Patil
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
3.Fabrication and Characterization of Flexible Thin Film Transistors on Thin Solution-Cast Substrates

机译：薄溶液铸基板上柔性薄膜晶体管的制备与表征
- 作者：Haoyu U. Li;Thomas N. Jackson
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
4.Memory Bandwidth Extension through Tri-Level Signaling

机译：通过三级信令扩展内存带宽
- 作者：Timothy M. Hollis
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
5.Invited tutorials

机译：邀请的教程
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
6.'Inside-Out' Approach for Sub-nm Resolution Carrier Profiling in Semiconductors

机译：半导体中亚纳米分辨率载波分析的“由内而外”方法
- 作者：Mark J. Hagmann
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
7.Electromechanical Reliability Testing of Flexible Hybrid Electronics Incorporating FleX Silicon-On-Polymer Ics

机译：包含FleX聚合物硅集成电路的柔性混合电子产品的机电可靠性测试
- 作者：Darrell E. Leber;Brian N. Meek;Seth D. Leija;Dale G. Wilson;Richard L. Chaney;Douglas R. Hackler
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
8.Development of a 3D Stacked Package Solution for NAND 64DP Package

机译：NAND 64DP封装的3D堆叠封装解决方案的开发
- 作者：Kerry Yang;Mark Barney;Liana Foster;Elyn Xu;Mark Hall
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
9.Keynote talk

机译：主题演讲
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
10.Dynamic Mode Characterization of a New Super-Gain BJT and an Innovative Low-Loss AC Switch

机译：新型超增益BJT和创新的低损耗交流开关的动态模式表征
- 作者：Zheng Ren;Ambroise Schellmanns;Nathalie Batut
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
11.Memory Interface Design for Hybrid Memory Cube (HMC)

机译：混合内存多维数据集（HMC）的内存接口设计
- 作者：Feng Lin;Brent Keeth
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
12.Invited talks

机译：特邀演讲
- 作者：Michael I. Current
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
13.A Nonlinear Surface-Field Compact Model for Junctionless Nanowire MOSFETs

机译：无结纳米线MOSFET的非线性表面场紧凑模型
- 作者：Chuyang Hong;Libo Yang;Qi Cheng;Ting Han;James B. Kuo;Yijian Chen
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
14.Process and Metrology Challenges for Nano-Scale Electronics

机译：纳米电子的工艺和计量挑战
- 作者：Michael I. Current
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
15.Keynote address

机译：主题演讲
- 作者：Seung H. Kang
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
16.Passivity Verification and Macromodel Interpolation Using Singular Value Decomposition (SVD)

机译：使用奇异值分解（SVD）的被动验证和Macromodel插值
- 作者：Elgamel Dalia;Greeff Roy;Ovard David
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2015年
17.Controlled Formation of Square Crack in Thinned 3DI Silicon Wafers

机译：在稀释的3DI硅晶片中控制形成方形裂缝
- 作者：Abdelnaby Ahmed;Parker Randall;Chennapragada Pavan;Vadhavkar Sameer;Huang Wayne;Brand Michael;Varghese Sony;Dando Ross
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2015年
18.Keynote Talk

机译：主题演讲谈话
- 作者：Howard Bradley
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2015年
19.Invited Talks

机译：邀请谈话
- 作者：Guohan Hu
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2015年
20.Low-Noise CMOS Bandgap Reference Generator Using Two-Level Chopping Technique

机译：低噪声CMOS带隙参照发生器，使用双级斩波技术
- 作者：Bingxing Wu;Ay Suat
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2015年
21.Study of Channeling and Self-Sputtering Effects of Ion Implantation - Data and Modeling

机译：离子注入 - 数据和建模的通道和自溅射效应的研究
- 作者：Qin Shu
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2015年
22.Keynote Address

机译：主题演讲
- 作者：Krishnamurthy Lakshman
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2015年
23.Salicidation Processes and CoSi2 Resistance Study

机译：PATICINATINATION工艺和COSI2抵抗研究
- 作者：Lifang Xu;Shafi Alan;Meldrim Mark;Zengtao Liu;Yudong Kim;Rangaraju Nikhil
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2015年
24.Design Analysis of a 12.5 GHz PLL in 130 Nm SiGe BiCMOS Process

机译：130 nm SiGe BICMOS过程中12.5 GHz PLL的设计分析
- 作者：Kehan Zhu;Saxena Vishal;Xinyu Wu;Balagopal Sakkarapani
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2015年
25.Invited Tutorial

机译：邀请教程
- 作者：Chenming Hu;Mansuri Mozhgan
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2015年
26.'Atomistic' Dopant Profiling Using Scanning Capacitance Microscopy

机译：使用扫描电容显微镜的“原子”掺杂剂分析
- 作者：Aghaei Samira;Andrei Petru;Hagmann Mark
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2015年
27.A Study of Differential Signaling: Stable and Accurate Mixed-Mode Conversion and Extraction of Differential S-Parameters

机译：差分信令的研究：稳定且精确的混合模式转换和差分S参数提取
- 作者：Hung Tran;Barannyk Lyudmyla;Elshabini Aicha;Barlow Fred
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2015年
28.Invited talks

机译：邀请谈话
- 作者：Michael I. Current
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
29.Big Data and Predictive Analytics Methods for Modeling and Analysis of Semiconductor Manufacturing Processes

机译：用于建模和分析半导体制造工艺的大数据和预测分析方法
- 作者：Sujata Butte;Sainath Patil
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
30.Memory Bandwidth Extension through Tri-Level Signaling

机译：通过三级信令的内存带宽扩展
- 作者：Timothy M. Hollis
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
31.'Inside-Out' Approach for Sub-nm Resolution Carrier Profiling in Semiconductors

机译：“半导体分辨率载波分析的”内外“方法
- 作者：Mark J. Hagmann
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
32.Dynamic Mode Characterization of a New Super-Gain BJT and an Innovative Low-Loss AC Switch

机译：新型超级增益BJT的动态模式表征和创新的低损耗交流开关
- 作者：Zheng Ren;Ambroise Schellmanns;Nathalie Batut
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
33.Memory Interface Design for Hybrid Memory Cube (HMC)

机译：混合内存立方体的内存接口设计（HMC）
- 作者：Feng Lin;Brent Keeth
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
34.Invited tutorials

机译：邀请教程
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
35.Keynote address

机译：主题演讲
- 作者：Seung H. Kang
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
36.Electromechanical Reliability Testing of Flexible Hybrid Electronics Incorporating FleX Silicon-On-Polymer Ics

机译：柔性混合电子设备的机电可靠性测试，包括柔性硅 - 聚合物IC
- 作者：Darrell E. Leber;Brian N. Meek;Seth D. Leija;Dale G. Wilson;Richard L. Chaney;Douglas R. Hackler
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
37.Keynote talk

机译：主题演讲谈话
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
38.Process and Metrology Challenges for Nano-Scale Electronics

机译：纳米级电子的过程和计量挑战
- 作者：Michael I. Current
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
39.A Nonlinear Surface-Field Compact Model for Junctionless Nanowire MOSFETs

机译：无线纳米线MOSFET的非线性表面场紧凑型模型
- 作者：Chuyang Hong;Libo Yang;Qi Cheng;Ting Han;James B. Kuo;Yijian Chen
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
40.First Measurements of a Microwave Frequency Comb with a Semiconductor Sample in a Scanning Tunneling Microscope

机译：在扫描隧道显微镜中与半导体样品进行微波频率梳的首先测量
- 作者：Chad Rhoades;Joel Rasmussen;Patrick H. Bowles;Mark J. Hagmann;Dmitry A. Yarotski
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
41.Development of a 3D Stacked Package Solution for NAND 64DP Package

机译：NAND 64DP包的3D堆叠包解决方案的开发
- 作者：Kerry Yang;Mark Barney;Liana Foster;Elyn Xu;Mark Hall
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
42.Fabrication and Characterization of Flexible Thin Film Transistors on Thin Solution-Cast Substrates

机译：薄溶液铸件上柔性薄膜晶体管的制造与表征
- 作者：Haoyu U. Li;Thomas N. Jackson
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2016年
43.Plenary talk: Ubiquitous mobile computing — Growth driver for the semiconductor industry: Technology trends, challenges and opportunities

机译：全体会议：无处不在的移动计算 - 半导体行业的增长驱动因素：技术趋势，挑战和机遇
- 作者：Yeap Geoffrey
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
44.Advance call for papers

机译：提前呼吁论文
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
45.Keynote: Bionanoscience for innovative global healthcare research technology (BIGHEART)

机译：主题演讲：创新全球医疗保健研究与技术的Bionanoscience（Bigheart）
- 作者：Lee Luke P.
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
46.List of author

机译：作者名单
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
47.Copyright page

机译：版权页面
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
48.Welcome

机译：欢迎
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
49.Organizing committee

机译：组织委员会
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
50.Invited talk: Automata processor and its applications in bioinformatics

机译：邀请谈话：自动机处理器及其在生物信息学中的应用
- 作者：Aluru Srinivas
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
51.Invited talk: 3D chip stacking

机译：邀请谈话：3D芯片堆叠
- 作者：Farooq Mukta
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
52.Invited talk: Early estimation of on-chip clock jitter accumulation — A brief tutorial

机译：邀请的谈话：片上时钟抖动积累的早期估计 - 简要教程
- 作者：Hollis Timothy M.
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
53.Invited tutorial: The classical/emerging reliability considerations of semiconductor devices

机译：邀请教程：半导体器件的经典/新兴可靠性考虑因素
- 作者：Alam Muhammad A.
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
54.Title page

机译：封面
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
55.Invited talk: CMOS device scaling — Past, present, and future

机译：邀请的谈话：CMOS设备缩放 - 过去，礼物和未来
- 作者：Taur Yuan
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
56.Invited talk: The perfect memory storm

机译：邀请谈话：完美的记忆风暴
- 作者：Keeth Brent
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
57.Technical program

机译：技术计划
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
58.Invited tutorial: Noise in amplifiers, mixers and oscillators

机译：邀请教程：放大器，混频器和振荡器中的噪声
- 作者：Lee Tom
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
59.LDD implant process optimization for high voltage NMOS improvement

机译：LDD植入工艺优化高压NMOS改进
- 作者：Liu Lequn Jennifer;Mikhalev Vladimir;McLean Nick;Irwin Mike
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
- LDD;
- beam current;
- channeling effect;
- high voltage NMOS;
- implant damage;
- lateral junction depth;
- punch through;
60.List of paper

机译：纸清单
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
61.Dark current in standard CMOS pinned photodiodes for Time-of-Flight sensors

机译：标准CMOS的暗电流固定光电二极管，用于飞行时间传感器
- 作者：Illade-Quinteiro J.;Brea Victor M.;Lopez P.;Blanco-Filgueira B.
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
62.Low-current sensing circuit and topology for portable gamma radiation sensor

机译：便携式伽马辐射传感器的低电流传感电路和拓扑
- 作者：Ailavajhala M.S.;Latif M.R.;Mitkova M.
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
- Circuit topology;
- Low-current;
- Radiation sensing circuitry;
63.Thermal budget impact on HKMG Al2O3 and La gate stacks for advanced DRAM periphery transistors

机译：用于高级DRAM外围晶体管HKMG AL2O3和LA栅极堆栈的热预算冲击
- 作者：Ritzenthaler R.;Schram T.;Spessot A.;Caillat C.
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
- Alumina capping;
- Arsenic ion Implantation;
- DRAM periphery transistors;
- La capping;
64.Optimized process simulation of USJ for HKMG DRAM periphery transistors

机译：用于HKMG DRAM外围晶体管USJ的优化过程模拟
- 作者：Spessot A.;Caillat C.;Ritzenthaler R.;Schram T.
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
- DRAM periphery;
- TCAD;
- USJ;
- thermal budget;
65.Scanning frequency comb microscopy (SFCM) shows promise for sub-10 nm dopant profiling

机译：扫描频率梳理显微镜（SFCM）显示了Sub-10 NM掺杂剂分析的承诺
- 作者：Hagmann Mark J.;Andrei Petru
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
66.Contributed papers

机译：贡献的论文
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
67.Ion beam effect on Ge-Se chalcogenide glass films: Non-volatile memory array formation, structural changes and device performance

机译：对Ge-Se硫属化物玻璃膜的离子束效应：非易失性存储器阵列形成，结构变化和装置性能
- 作者：Latif M.R.;Nichol T.L.;Mitkova M.;Tenne D.A.
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
- Redox conductive bridge memory;
- chalcogenide glass;
- film and device characterization;
68.Physically flexible high performance single crystal CMOS integrated with printed electronics

机译：物理柔性高性能单晶CMOS集成与印刷电子产品
- 作者：Chaney Richard L.;Hackler Douglas R.;Wilson Dale G.;Meek Brian N.
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
- FHS;
- FleX;
- flexible;
69.Microelectronics wirebond pull and shear test simulations using finite element method

机译：使用有限元方法进行微电子线粘连和剪切试验模拟
- 作者：Hunter Stevan;Hill Levi W.
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年
70.The effect of Shallow Trench Isolation improvement on program disturb response in 20 nm NAND flash technology

机译：浅沟渠隔离改善对20nm NAND闪存技术中的节目干扰响应的影响
- 作者：Chandrasekaran Suresh;Venkatesan Srivatsan;Eagle Oliver H.;Iyengar Vikram V.
- 会议名称：《IEEE Workshop On Microelectronics and Electron Devices》 | 2014年