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IEEE East-West Design & Test Symposium

召开年：2017
召开地：Novi Sad(RS)
出版时间：-

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1.A design for testability technique for quantum reversible circuits

机译：量子可逆电路可测试技术的设计
- 作者：Mondal Joyati;Das Debesh K.;Kole Dipak K.;Rahaman Hafizur
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
- Missing-gate fault;
- quantum computing;
- reversible logic;
- testable design;
- universal test set;
2.Artificial neural network for software quality evaluation based on the metric analysis

机译：基于度量分析的软件质量评估人工神经网络
- 作者：Pomorova Oksana;Hovorushchenko Tetyana
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
3.A data modem for GSM Adaptive Multi Rate voice channel

机译：GSM自适应多速率语音通道的数据调制解调器
- 作者：Boloursaz M.;Hadavi A.H.;Kazemi R.;Behnia F.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
4.Synchronous rectifiers enable high efficiency for buck-boost converter

机译：同步整流器为降压 - 升压转换器实现高效率
- 作者：Shynkarenko Yurii;Klyuchnyk Igor
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
5.Low-voltage compatible linear voltage ramp generator for zero-crossing-based integrators

机译：基于零交叉的集成器的低压兼容线性电压斜坡发生器
- 作者：Melikyan Vazgen Sh.;Dingchyan Hayk H.;Sahakyan Arthur S.;Vardan Grigoryants P.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
- low voltage;
- voltage ramp generator;
- zero crossing based;
6.High accuracy equalization method for receiver active equalizer

机译：接收器主动均衡器的高精度均衡方法
- 作者：Melikyan Vazgen Sh.;Sahakyan Arthur S.;Safaryan Karo H.;Dingchyan Hayk H.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
- analog front end (AFE);
- continuous time linear equalizer (CTLE);
- equalizer;
- pre-emphases (P-MPH);
- receiver (RX);
- transmitter (TX);
7.Hybrid history-based test overlapping to reduce test application time

机译：基于混合历史的测试重叠，以降低测试应用时间
- 作者：Janfaza Vahid;Forouzandeh Bahjat;Behnam Payman;Najafi Mohammadreza
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
8.Sampling theorem applied to data interpolation problem

机译：应用于数据插值问题的抽样定理
- 作者：Khanyan Gamlet S.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
9.Loop nests parallelization for digital system synthesis

机译：循环嵌套并行化数字系统合成
- 作者：Chemeris Alexander;Gorunova Julia;Lazorenko Dmiry
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
10.High-level test program generation strategies for processors

机译：处理器的高级测试程序生成策略
- 作者：Hoseinzadeh Shima;Haghbayan Mohammad Hashem
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
- Processor testing;
- Test generation;
- Test program;
11.Functional fault model definition for bus testing

机译：总线测试功能故障模型定义
- 作者：Karimi Elmira;Haghbayan Mohamad Hashem;Maleki Adele;Tabandeh Mahmoud
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
12.Quantum computing approach for shortest route finding

机译：最短路线发现的量子计算方法
- 作者：Hahanov Vladimir;Miz Volodymyr
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
13.Self-calibration method for capacitor mismatch elimination

机译：电容器不匹配消除的自校准方法
- 作者：Melikyan Vazgen;Stepanyan Harutyun;Aleksanyan Ani;Harutyunyan Ani
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
14.Finite state machine synthesis for evolutionary hardware

机译：有限状态机合成进化硬件
- 作者：Bereza Andrey;Lyashov Maksim;Blanco Luis
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
15.Real-time interconnection network for single-chip many-core computers

机译：用于单芯片多核计算机的实时互连网络
- 作者：Richter Harald
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
- Benes Network;
- Looping Routing;
- Many-Core Computer;
- Real-time Network on Chip;
16.Scheduling tests for 3D SoCs with temperature constraints

机译：温度约束的3D SOC的调度测试
- 作者：Rawat Indira;Gupta M.K.;Singh Virendra
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
17.FPGA technologies in medical equipment: Electrical impedance tomography

机译：医疗设备的FPGA技术：电阻断层扫描
- 作者：Artem Perepelitsyn;Dmitry Shulga
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
18.Identification discrete fractional order linear dynamic systems with errors-in-variables

机译：识别离散的分数阶线性动态动态系统，具有误差变量
- 作者：Ivanov D.V.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
19.A low power 1.2 GS/s 4-bit flash ADC in 0.18 #x00B5;m CMOS

机译：低功耗1.2 GS / S 4位闪光ADC IN0.18μmCMOS
- 作者：Chahardori Mohammad;Sharifkhani Mohammad;Sadughi Sirous
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
20.A 6-bit CMOS inverter based pseudo-flash ADC with low power consumption

机译：基于6位CMOS逆变器的伪闪频ADC，功耗低
- 作者：Morozov D.V.;Pilipko M.M.;Piatak I.M.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
21.Self compensating low noise low power PLL design

机译：自补偿低噪声低功耗PLL设计
- 作者：Melikyan Vazgen;Durgaryan Armen;Khachatryan Ararat;Hayk Manukyan
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
22.Microwave selective RC amplifiers with control parameters

机译：微波选择性RC放大器，具有控制参数
- 作者：Prokopenko N.N.;Krutchinsky S.G.;Budyakov P.S.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
23.Generating pipeline integrated circuits using C2HDL converter

机译：使用C2HDL转换器产生管道集成电路
- 作者：Dubrov Denis;Roshal Alexander
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
24.Secure data over GSM based on algebraic codebooks

机译：基于代数码本，通过GSM的安全数据
- 作者：Boloursaz M.;Kazemi R.;Nashtaali D.;Nasiri M.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
25.Semiconductor electronic parts testing efficiency

机译：半导体电子零件测试效率
- 作者：Oleg Martynov;Alexander Ogurtsov;Alexander Sashov
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
26.MIMO radar with phase-coded waveforms

机译：具有相位编码波形的MIMO雷达
- 作者：Roshanzamir Amirsadegh;Bastani M.H.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
- MIMO radar;
- phased-coded;
- waveforming;
27.Self-adaptive mobile wireless hotspot zones: Initial issues

机译：自适应移动无线热点区域：初始问题
- 作者：Yanovsky M.;Kharchenko V.;Gorbenko A.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
28.Delay testable sequential circuit designs

机译：延迟可测试的顺序电路设计
- 作者：Matrosova A.;Mitrofanov E.;Singh V.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
29.Estimation of structural complexity of IIR digital filters

机译：IIR数字滤波器结构复杂性的估算
- 作者：Lesnikov Vladislav A.;Chastikov Alexander V.;Naumovich Tatiana V.;Armishev Sergey V.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
30.Analysis of converters with heterogeneous three-pole chain structure

机译：具有异质三极链结构的转换器分析
- 作者：Sukhinets Zhanna;Gulin Artur
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
31.Diversity assessment of multi-version NPP IC Systems: NUREG7007 and CLB-BASED techniques

机译：多版NPP I＆C系统的多样性评估：Nureg7007和基于CLB的技术
- 作者：Kharchenko V.;Duzhyi V.;Sklyar V.;Volkoviy A.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
32.Matrix implementation of Moore FSM with nonstandard presentation of state codes

机译：摩尔fsm的矩阵实现，具有国家代码的非标准呈现
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
33.Optimal project solution decision making in telecommunication systems using multicriteria optimization methods

机译：使用多轨道优化方法的电信系统最佳项目解决方案决策
- 作者：Bezruk Valery;Bukhanko Alexander
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
34.RTL IP abstraction into optimized embedded software

机译：RTL IP抽象中的优化嵌入式软件
- 作者：Bombieri Nicola;Forrini Diego;Fummi Franco;Laurenzi Matteo
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
35.Smart road infrastructure

机译：智能公路基础设施
- 作者：Ziarmand Artur
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
36.Improved Scaling-Free CORDIC algorithm

机译：改进的无缩放CORDIC算法
- 作者：Moroz Leonid;Mykytiv Taras;Herasym Martyn
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
- CORDIC;
- Numerical methods;
- Scaling-Free;
37.Test data compression strategy while using hybrid-BIST methodology

机译：使用混合 - BIST方法测试数据压缩策略
- 作者：Karimi E.;Tabandeh M.;Haghbayan M.H.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
38.On the problem of selection of code with summation for combinational circuit test organization

机译：关于组合电路测试组织求和的代码选择问题
- 作者：Efanov Dmitry;Sapozhnikov Valery;Sapozhnikov Vladimir;Blyudov Anton
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
39.The use of natural resources for increasing a checkability of the digital components in safety-critical systems

机译：使用自然资源来增加数字组件在安全关键系统中的可验证性
- 作者：Drozd A.;Kharchenko V.;Antoshchuk S.;Drozd J.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
40.A research of heuristic optimization approaches to the test set compaction procedure based on a decomposition tree for combinational circuits

机译：基于组合电路分解树的测试集压缩过程的启发式优化方法研究
- 作者：Andreeva Valentina;Sorudeykin Kirill A.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
41.Models for quality analysis of computer structures

机译：计算机结构质量分析模型
- 作者：Abbas Murad Ali;Chumachenko S.V.;Hahanova A.V.;Gorobets A.A.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
42.Observability calculation of state variable oriented to robust PDFs and LOC or LOS techniques

机译：定向到强大的PDF和LOC或LOS技术的状态变量的可观察性计算
- 作者：Matrosova A.;Ostanin S.;Melnikov A.;Singh V.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
- ROBDD;
- equivalent normal form (ENF);
- path delay fault (PDF);
- robust PDF;
- scan based techniques;
43.Methodology to design-for-testability automation for mixed-signal integrated circuits

机译：用于混合信号集成电路的可测试性自动化方法的方法
- 作者：Mosin Sergey
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
44.Models for embedded repairing logic blocks

机译：嵌入式修复逻辑块的模型
- 作者：Hahanov V.I.;Litvinova E.I.;Frolov A.;Yves Tiecoura
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
45.Hardware reduction for compositional microprogram control unit dedicated for CPLD systems

机译：用于CPLD系统专用的组成微型控制单元的硬件减少
- 作者：Barkalov A.;Titarenko L.;Smolinski L.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
46.Expanding wireless bandwidth in a power-efficient way: developing a viable mm-wave radio technology

机译：以节能的方式扩展无线带宽：开发可行的MM波无线电技术
- 作者：Foty Daniel;Smith Bruce;Sinha Saurabh;Schroter Michael
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
47.Multi-beam constant modulus adaptive arrays in real-valued arithmetic

机译：实值算术中的多光束常数模量自适应阵列
- 作者：Djigan Victor I.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
48.Cloud traffic control system

机译：云交通管制系统
- 作者：Hahanov V.I.;Gus O.A.;Ziarmand A.;Umerah Ngene Christopher
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
49.Theory of optimal nonlinear filtering in infocommunication's problems

机译：信息性问题最优非线性滤波理论
- 作者：Panteleev Victor V.
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
50.Analysis of error-detection possibilities of CED circuits based on Hamming and Berger codes

机译：基于汉明和伯杰码的CED电路误差检测可能性分析
- 作者：Sapozhnikov Valery;Sapozhnikov Vladimir;Efanov Dmitry;Blyudov Anton
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2013年
51.Fully Delay and Multiple Stuck-at Faults Testable FSM Design

机译：完全延迟和多个卡在故障可测试FSM设计
- 作者：A. Matrosova;V. Andreeva;V. Tomkov
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- finite state machines (FSMs);
- path delay faults (PDFs);
- multiple stuck-at faults;
- monotonous functions;
52.Digital Adaptive System of Power Amplifier Linearization

机译：功率放大器线性化数字自适应系统
- 作者：Natalya V. Gudkova;Vladimir M. Chuykov;Ksenya V. Besklubova
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- Digital Adaptive System;
- Power Amplifier Linearization;
- LUT;
53.Design and research of portable RFID localization system

机译：便携式RFID定位系统的设计与研究
- 作者：Yuri Gimpilevich;Vladimir Iskiv;Yuri Mickhayluck;Alexandr Savochkin;Andrey Schekaturin;Andrey Lukyanchikov;Eduard Levin
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- Design;
- research;
- portable RFID localization system;
54.Real-Time State-of-Energy Estimation of Supercapacitor-based Energy Storage

机译：基于超级电容器的能量存储的实时状态估计
- 作者：Noam Reichbach
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- SOE;
- SOC;
- supercapacitor;
55.Clock Gating and Multi-V_(TH) Low Power Design Methods Based on 32/28 nm ORCA Processor

机译：基于32/28 nm orca处理器的时钟门控和多V_（TH）低功耗设计方法
- 作者：Vazgen Melikyan;Davit Babayan;Eduard Babayan;Poghos Petrosyan;Anush Melikyan;Edvard Mkrtchyan
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- RISC;
- architecture;
- ORCA;
56.Integrated Up/Down Switched Capacitor Converter with Full Digital Feedback Control and Output Voltage Regulation

机译：集成上/下开关电容转换器，具有全数字反馈控制和输出电压调节
- 作者：Vache Galstyan
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- CMOS;
- power converter;
- frequency modulation;
- transmission gate;
- power cell;
- digital control oscillator;
- efficiency;
- output ripple;
57.Quality Improvement of Analog Circuits Fault Diagnosis Based on ANN Using Clusterization as Preprocessing

机译：基于ANN的模拟电路故障诊断的质量改进使用集群化作为预处理
- 作者：Sergey Mosin
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- analog circuits;
- fault diagnosis;
- neural networks;
- clustering;
- classification;
58.High-Speed Mobile Satellite Communication: Technologies and Challenges

机译：高速移动卫星通信：技术和挑战
- 作者：Vadim Teplyakov
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- Technologies;
- Challenges;
- performance;
59.Standalone Functional Verification of Multicore Microprocessor Memory Subsystem Units Based on Application of Memory Subsystem Models

机译：基于存储器子系统模型应用的多核微处理器存储器子系统单元的独立功能验证
- 作者：Irina Stotland;Aleksey Meshkov;Vitaly Kutsevol
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
60.Localization in MISO Airborne Passive Radar through Heavy Ground Clutters

机译：在Miso空中被动雷达通过重物夹层定位
- 作者：Mohammad J. Ahmadi;Rouhollah Amiri;Fereidoon Behnia
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- Localization;
- MISO Airborne Passive Radar through Heavy Ground Clutters;
- proposed method;
61.Low Power Duty Cycle Adjustment Simple Method In High Speed Serial Links

机译：低功耗循环调整高速串行链路简单方法
- 作者：Vazgen Melikyan;Arthur Sahakyan;Davit Trdatyan;Aram Shishmanyan;Tigran Khazhakyan
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- Duty Cycle (DC);
- switch capacitors;
- low pass filter;
- degraded invertor;
- DC detector;
- process - voltage - temperature (PVT);
62.Functional Approach in Self-Timed Circuit Design

机译：自定时电路设计中的功能方法
- 作者：Plekhanov LP;Zakharov V.N;Stepchenkov Y.A
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- Functional Approach;
- Self-Timed Circuit Design;
- main problems;
63.A Power Based Memory BIST Grouping Methodology

机译：基于力量的内存BIST分组方法
- 作者：L. Martirosyan;G. Harutyunyan;S. Shoukourian;Y. Zorian
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- BIST;
- Grouping Methodology;
- UPF;
64.Mobile Communication System with a Hybrid Phased Array Antenna System

机译：具有混合相控阵天线系统的移动通信系统
- 作者：Andrey Ivanov;Vadim Teplyakov;Vladimir Kalinin
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- Mobile Communication System;
- Hybrid Phased Array Antenna System;
- LEO;
65.A Fault-Tolerant Combinational Circuit Design

机译：容错组合电路设计
- 作者：S. Ostanin;I. Kirienko;V. Lavrov
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- analysis;
- reliability;
- proposed scheme;
66.Survey on Designing a CAD Model for GaN HEMT Based on Measurements

机译：基于测量的GaN HEMT设计CAD模型的调查
- 作者：Egor Belousov;Aleksandr Timoshenko;Ksenia Lomovskaya
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- Survey;
- Designing;
- CAD Model;
67.Method for Functional Testing Critical Control Systems

机译：功能测试关键控制系统的方法
- 作者：Konstantin Gerasimenko;Tamer Bani Amer;Vladimir Hahanov;Aleksey Pryimak
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- Method;
- Functional Testing Critical Control Systems;
- hardware-software;
68.Combined Approach to Place Electronic Computing Equipment Circuit Elements

机译：放置电子计算设备电路元件的组合方法
- 作者：Vladimir Kureichik;D.V. Zaruba
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- Combined Approach;
- Place Electronic Computing Equipment Circuit Elements;
- ECE;
69.Secure Environment Establishment for FPGA-based Safety-Critical Systems

机译：基于FPGA的安全关键系统安全环境建立
- 作者：Vyacheslav Kharchenko;Andriy Kovalenko;Vladimir Sklyar
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- Secure Environment Establishment;
- FPGA-based Safety-Critical Systems;
- RadICS;
70.Solution of an Optimal Control Problem with Mathcad

机译：Mathcad的最佳控制问题解决方案
- 作者：David Devadze;Marina Abashidze;Vakhtang Beridze
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- Solution;
- Optimal Control Problem;
- Mathcad;
71.Classification of Structures of IIR Digital Filters

机译：IIR数字过滤器结构的分类
- 作者：Vladislav Lesnikov;Tatiana Naumovich;Alexander Chastikov
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- Classification;
- Structures;
- IIR Digital Filters;
72.Cloud Service - Cyber Social Democracy and Smart University

机译：云服务 - 网络社会民主和智能大学
- 作者：Vugar Abdullayev;Vladimir Hahanov;Eugenia Litvinova;Dahiri Farid;Anton Arefiev;Yulia Hahanova
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- initiating;
- activity;
- teaching;
73.A RESOURCE APPROACH TO ON-LINE TESTING OF COMPUTING CIRCUITS

机译：计算电路在线测试的资源方法
- 作者：J. Drozd;A. Drozd;M. Al-dhabi
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- RESOURCE APPROACH;
- ON-LINE TESTING;
- COMPUTING CIRCUITS;
74.Design of Blocks for a Field Programmable Mixed Array (FPMA)

机译：字段可编程混合阵列（FPMA）的块设计
- 作者：Ata Sarrafinazhad;Ismail Kara;Faik Baskaya
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- FPMA;
- CMOS;
- FPGA;
75.New Sum Code for Effective Detection of Double Errors in Data Bits

机译：用于有效检测数据位中双误差的新总和代码
- 作者：Valery Sapozhnikov;Vladimir Sapozhnikov;Dmitry Efanov;Vyacheslav Dmitriev
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- Effective Detection;
- Double Errors;
- Data Bits;
76.Combined method for localization of mobile objects

机译：移动对象本地化的组合方法
- 作者：Volodymyr Rustinov;Anton Sorokin;Adnan Khamad;Emmanuel Darlington
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- Combined method;
- localization;
- mobile objects;
77.Test Program Generation for Mixed-Signal Integrated Circuits Based on Automata Network

机译：基于自动网络网络的混合信号集成电路测试程序生成
- 作者：Sergey Mosin
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- test program generation;
- mixed-signal integrated circuits;
- design-for-testability;
- automata network;
78.Sum Code Formation with Minimum Total Number of Undetectable Errors in Data Vectors

机译：和数据向量中的最低未定位错误总数的总和代码
- 作者：Dmitry Efanov;Valery Sapozhnikov;Vladimir Sapozhnikov;Dmitry Nikitin
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2015年
- Minimum Total Number;
- Undetectable Errors;
- Data Vectors;
79.Extension of the corner stitching data structure for arbitrary layout shapes

机译：任意布局形状的角落拼接数据结构的扩展
- 作者：Wieslaw Kuzmicz
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Shape;
- Layout;
- Data structures;
- Spirals;
- Algorithm design and analysis;
- Containers;
- Integrated circuits;
80.The radiation-hardened differential difference operational amplifiers for operation in the low-temperature analog interfaces of sensors

机译：用于在传感器的低温模拟界面中操作的辐射硬化差分差分运算放大器
- 作者：N. N. Prokopenko;A. V. Bugakova;I. V. Pakhomov
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Operational amplifiers;
- Mirrors;
- Degradation;
- Bipolar transistors;
- Systematics;
- Field effect transistors;
81.A quality characteristics estimation methodology for the hierarchy of RTL compilers

机译：RTL编译器层次的质量特征估计方法
- 作者：L. Martirosyan
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Logic gates;
- Servers;
- Power demand;
- Maintenance engineering;
- Interpolation;
- Estimation error;
82.Research of asynchronous algorithm for molecular dynamics task on the PDCS “Buran” models

机译：PDCS“Buran”模型中分子动力学任务的异步算法研究
- 作者：L. S. Khodosh;A. V. Klimov;N. N. Levchenko;A. S. Okunev;D. N. Zmejev
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Computational modeling;
- Context;
- Algorithm design and analysis;
- Scalability;
- Distribution functions;
- Heuristic algorithms;
- Supercomputers;
83.The analog array chip AC-1.3 for the tasks of tool engineering in conditions of cryogenic temperature, neutron flux and cumulative radiation dose effects

机译：模拟阵列芯片AC-1.3用于刀具工程的任务，在低温温度，中子通量和累积辐射剂量效应的条件下
- 作者：O. V. Dvornikov;N. N. Prokopenko;I. V. Pakhomov;A. V. Bugakova
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Transistors;
- Neutrons;
- Temperature measurement;
- Integrated circuits;
- Bipolar transistors;
- Temperature distribution;
84.The use of Petri nets as the basis of algorithm for gate level digital circuits simulation

机译：Petri网的使用作为门级数字电路仿真算法的基础
- 作者：A. V. Lapin;D. A. Bulakh;A. V. Korshunov;G. G. Kazennov
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Integrated circuit modeling;
- Petri nets;
- Logic gates;
- Digital circuits;
- Switches;
- Algorithm design and analysis;
- Heuristic algorithms;
85.ROBDDs application for finding the shortest transfer sequence of sequential circuit or only revealing existence of this sequence without deriving the sequence itself

机译：ROBDDS应用程序用于查找顺序电路的最短传输序列或仅在不导出序列本身的情况下显示该序列的存在
- 作者：A. Matrosova;V. Andreeva;A. Melnikov
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Data structures;
- Boolean functions;
- Sequential circuits;
- Proposals;
- Input variables;
- Joining processes;
- Circuit faults;
86.Simulation of a hierarchical routing protocol for MANET

机译：模拟MANET的分层路由协议
- 作者：D. E. Prozorov;A. P. Metelyov;A. V. Chistyakov;S. V. Romanov
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Routing protocols;
- Computational modeling;
- Routing;
- Mobile ad hoc networks;
- Mobile computing;
87.1.9 GHz 1.05V 16-bit RISC core for high density and low power operation in 28nm technology

机译：1.9 GHz 1.05V 16位RISC芯，用于高密度和28nm技术的低功耗操作
- 作者：Davit Babayan;Eduard Babayan;Poghos Petrosyan;Anna Tumanyan;Emil Kagramanyan;Tigran Hakhverdyan
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Reduced instruction set computing;
- Clocks;
- Standards;
- Integrated circuits;
- Threshold voltage;
- Ground penetrating radar;
88.A technique for low power, stuck-at fault diagnosable and reconfigurable scan architecture

机译：一种低功耗，卡在故障诊断和可重新配置扫描架构的技术
- 作者：Binod Kumar;Boda Nehru;Brajesh Pandey;Virendra Singh;Jaynarayan Tudu
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Computer architecture;
- Silicon;
- Circuit faults;
- Testing;
- Logic gates;
- Inverters;
- Clocks;
89.The multifunctional current logical element for digital computing devices, operating on the principles of linear (not boolean) algebra

机译：数字计算设备的多功能电流逻辑元件，在线性（不是布尔）代数的原理
- 作者：N. N. Prokopenko;N. I. Chernov;V. Yugai;N. V. Butyrlagin
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Maximum likelihood estimation;
- Transistors;
- Linear algebra;
- Logic functions;
- Standards;
- Control systems;
- Junctions;
90.Research of metastability timing characteristics for threshold voltage and process-voltage-temperature variations

机译：阈值电压和工艺 - 电压 - 温度变化的常规性时序特性研究
- 作者：Tigran Khazhakyan
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Delays;
- Clocks;
- Flip-flops;
- Threshold voltage;
- Latches;
- Synchronization;
91.Using high-level synthesis for rapid design of video processing pipes

机译：利用高级合成进行视频处理管快速设计
- 作者：Aydin Emre Guzel;Vecdi Emre Levent;Mustafa Tosun;M. Akif ?zkan;Toygar Akgun;Duygu Büyükaydin;Cengiz Erbas;H. Fatih Ugurdag
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Field programmable gate arrays;
- Pipeline processing;
- Algorithm design and analysis;
- Timing;
- Hardware;
- Optical design;
- Software;
92.On optimization of multi-cycle tests for test quality and application time

机译：关于测试质量和应用时间多循环试验的优化
- 作者：Cemil Cem Gursoy;Abdullah Yildiz;Sezer G?ren
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Circuit faults;
- Clocks;
- Testing;
- Computers;
- Transistors;
- Computational modeling;
- Fault detection;
93.Hybrid genetic algorithm for cutting stock and packaging problems

机译：杂交遗传算法切割股票和包装问题
- 作者：Anton Orlov;Alexander Glushchenko;Vladimir Kureichik
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Genetic algorithms;
- Packaging;
- Algorithm design and analysis;
- Optimization;
- Sociology;
- Statistics;
- Minimization;
94.Automated generation of core test description file for hierarchical test

机译：自动生成核心测试描述文件进行分层测试
- 作者：Hayk Chukhajyan
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Multiprotocol label switching;
- Data mining;
- Ports (Computers);
- Multicore processing;
- Syntactics;
- Hardware design languages;
95.Pseudo-exhaustive testing of sequential circuits for multiple stuck-at faults

机译：多重卡故障的顺序电路伪穷举测试
- 作者：A. Matrosova;E. Mitrofanov
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Circuit faults;
- Logic gates;
- Boolean functions;
- Sequential circuits;
- Data structures;
- Input variables;
- Delays;
96.UVM based approaches to functional verification of communication controllers of microprocessor systems

机译：基于UVM的微处理器系统通信控制器功能验证的方法
- 作者：Irina Stotland;Danil Shpagilev;Nadezhda Starikovskaya
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Physical layer;
- Process control;
- Registers;
- Routing;
- Monitoring;
- Adaptation models;
- Control systems;
97.Automated solution for preventing design rules violations at abutment stage for standard cells synthesis flow

机译：用于防止设计规则违规的自动化解决方案在邻接阶段进行标准细胞合成流程
- 作者：Sergey Bykov;Nikolai Ryzhenko;Anton Sorokin
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Standards;
- Layout;
- Routing;
- Algorithm design and analysis;
- Law;
- Minimization;
98.System on chip for comparison of precise time sources

机译：精确时间源比较的芯片系统
- 作者：Jiri Dostal;Vladimir Smotlacha
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Field programmable gate arrays;
- Clocks;
- Protocols;
- Radiation detectors;
- Switches;
- Delays;
99.Robust algorithm for detection of image features

机译：用于检测图像特征的鲁棒算法
- 作者：Konstantin Rumyantsev;Dmitry Petrov
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Feature extraction;
- Robustness;
- Detectors;
- Detection algorithms;
- Stability analysis;
- Finite element analysis;
- Mathematical model;
100.An EFSM-driven and model checking-based approach to functional test generation for hardware designs

机译：基于EFSM驱动和模型检查的硬件设计功能测试生成方法
- 作者：Alexander Kamkin;Mikhail Lebedev;Sergey Smolov
- 会议名称：《IEEE East-West Design Test Symposium》 | 2016年
- Hardware design languages;
- Model checking;
- Hardware;
- Radiation detectors;
- Automata;
- Labeling;