掌桥科研
一站式科研服务平台
科技查新
收录引用
专题文献检索
外文数据库(机构版)
更多产品
首页
成为会员
我要充值
退出
我的积分:
中文会员
开通
中文文献批量获取
外文会员
开通
外文文献批量获取
我的订单
会员中心
我的包量
我的余额
登录/注册
文献导航
中文期刊
>
中文会议
>
中文学位
>
中国专利
>
外文期刊
>
外文会议
>
外文学位
>
外国专利
>
外文OA文献
>
外文科技报告
>
中文图书
>
外文图书
>
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
美国国防部AD报告
美国能源部DE报告
美国航空航天局NASA报告
美国商务部PB报告
外军国防科技报告
美国国防部
美国参联会主席指示
美国海军
美国空军
美国陆军
美国海军陆战队
美国国防技术信息中心(DTIC)
美军标
美国航空航天局(NASA)
战略与国际研究中心
美国国土安全数字图书馆
美国科学研究出版社
兰德公司
美国政府问责局
香港科技大学图书馆
美国海军研究生院图书馆
OALIB数据库
在线学术档案数据库
数字空间系统
剑桥大学机构知识库
欧洲核子研究中心机构库
美国密西根大学论文库
美国政府出版局(GPO)
加利福尼亚大学数字图书馆
美国国家学术出版社
美国国防大学出版社
美国能源部文献库
美国国防高级研究计划局
美国陆军协会
美国陆军研究实验室
英国空军
美国国家科学基金会
美国战略与国际研究中心-导弹威胁网
美国科学与国际安全研究所
法国国际关系战略研究院
法国国际关系研究所
国际宇航联合会
美国防务日报
国会研究处
美国海运司令部
北约
盟军快速反应部队
北约浅水行动卓越中心
北约盟军地面部队司令部
北约通信信息局
北约稳定政策卓越中心
美国国会研究服务处
美国国防预算办公室
美国陆军技术手册
一般OA
科技期刊论文
科技会议论文
图书
科技报告
科技专著
标准
其它
美国卫生研究院文献
分子生物学
神经科学
药学
外科
临床神经病学
肿瘤学
细胞生物学
遗传学
公共卫生&环境&职业病
应用微生物学
全科医学
免疫学
动物学
精神病学
兽医学
心血管
放射&核医学&医学影像学
儿科
医学进展
微生物学
护理学
生物学
牙科&口腔外科
毒理学
生理学
医院管理
妇产科学
病理学
生化技术
胃肠&肝脏病学
运动科学
心理学
营养学
血液学
泌尿科学&肾病学
生物医学工程
感染病
生物物理学
矫形
外周血管病
药物化学
皮肤病学
康复学
眼科学
行为科学
呼吸学
进化生物学
老年医学
耳鼻喉科学
发育生物学
寄生虫学
病毒学
医学实验室检查技术
生殖生物学
风湿病学
麻醉学
危重病护理
生物材料
移植
医学情报
其他学科
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
主题
主题
题名
作者
关键词
摘要
高级搜索 >
外文期刊
外文会议
外文学位
外国专利
外文图书
外文OA文献
中文期刊
中文会议
中文学位
中国专利
中文图书
外文科技报告
清除
历史搜索
清空历史
首页
>
外文会议
>
电子学、通信
>
Electron microscopy and analysis 1999
Electron microscopy and analysis 1999
召开年:
召开地:
出版时间:
-
会议文集:
-
会议论文
热门论文
全部论文
相关中文期刊
光通信技术
通信与广播电视
红外技术
电信科学
现代音响技术
洗净技术
数据采集与处理
中国无线电
真空电器技术
信息网络安全
更多>>
相关外文期刊
Theoretical Issues in Ergonomics Science
Journal of The Institute of Electronics Engineers of Korea
EDN Asia
JEITA Review
Industrial Electronics, Transactions of the IRE Professional Group on
Mobile Communications International
AV Magazine
IEEE Transactions on Signal Processing
Telecommunications Americas
Radio Engineers, Proceedings of the British Institution of
更多>>
相关中文会议
2006年电子机械和微波结构工艺学术会议
信息产业部通信电源专业情报网2007年年会
中国通信学会信息通信网络技术委员会2011年年会
2002北京国际电视技术研讨会
全国第三届DSP应用技术、第九届信号与信息处理联合学术会议
2009年全国微波毫米波会议
2005年中国合成孔径雷达会议
中国(天津)第五届国际绿色电子制造【表面安装(SMT)】技术与产业发展研讨会
第二届中国光纤器件发展研讨会
中国全球定位系统技术应用协会2011年年会暨“北斗”产业化和战略新兴产业发展论坛
更多>>
相关外文会议
Semiconductor wafer bonding 11: science, technology, and applications - in honor of ulrich gosele
Recent researches in communications and IT
36th annual conference on information sciences and systems (CISS 2002)
AES 21st International Conference on Architectural Acoustics and Sound Reinforcement Jun 1-3, 2002 St. Petersburg, Russia
Applied telecommunications symposium(ATS'99)
INDLAS 2007: Industrial Laser Applications
Three-dimensional and multidimensional microscopy: image acquisition and processing XXIV
Information and communication technology
Emerging liquid crystal technologies X
Advanced Laser Technologies 2005 pt.2
更多>>
热门会议
Meeting of the internet engineering task force;IETF
日本建築学会;日本建築学会大会
日本建築学会(Architectural Institute of Japan);日本建築学会年度大会
日本建築学会学術講演会;日本建築学会
日本建築学会2010年度大会(北陸)
Korean Society of Noise & Vibration Control;Institute of Noise Control Engineering;International congress and exposition on noise control engineering;ASME Noise Control & Acoustics Division
土木学会;土木学会全国大会年次学術講演会
応用物理学会秋季学術講演会;応用物理学会
総合大会;電子情報通信学会
The 4th International Conference on Wireless Communications, Networking and Mobile Computing(第四届IEEE无线通信、网络技术及移动计算国际会议)论文集
更多>>
最新会议
2011 IEEE Cool Chips XIV
International workshop on Java technologies for real-time and embedded systems
Supercomputing '88. [Vol.1]. Proceedings.
RILEM Proceedings PRO 40; International RILEM Conference on the Use of Recycled Materials in Buildings and Structures vol.1; 20041108-11; Barcelona(ES)
International Workshop on Hybrid Metaheuristics(HM 2007); 20071008-09; Dortmund(DE)
The 57th ARFTG(Automatic RF Techniques Group) Conference, May 25, 2001, Phoenix, AZ
Real Time Systems Symposium, 1989., Proceedings.
Conference on Chemical and Biological Sensing V; 20040412-20040413; Orlando,FL; US
American Filtration and Separations Society conference
Combined structures congress;North American steel construction conference;NASCC
更多>>
全选(
0
)
清除
导出
1.
Metal-ceramic interface characterisation of capacitor-discharge joined alumina
机译:
电容放电结合氧化铝的金属陶瓷界面表征
作者:
Turan S
;
Ozkaya D
;
Bucklow IA
;
Wallach ER
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
2.
Microstructural studies of CVD diamond films by transmissin electron microscopy
机译:
透射电子显微镜对CVD金刚石膜的显微结构研究
作者:
A G Fitzgerald
;
Y Fan
;
P John
;
C E Troupe
;
J I B Wilson
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
3.
Microstructure of high strength TiN/TiB_x multilayered ceramic coatings
机译:
高强度TiN / TiB_x多层陶瓷涂层的微观结构
作者:
T J Steer
;
B J Inkson
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
4.
Automatic surface reconstruction using SEM images based on a new computer vision approach
机译:
基于新的计算机视觉方法,使用SEM图像进行自动表面重建
作者:
S Scherer
;
P Werth
;
A Pinz
;
A Tatschl
;
O Kolednik
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
5.
Temperature and energy dependence of SEM dopant contrast
机译:
SEM掺杂剂对比的温度和能量依赖性
作者:
S L Elliott
;
R F Broom
;
C J Humphreys
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
6.
Results of a pilot experiment on direct phase determination of diffracted beams in TEM
机译:
直接测量TEM中衍射光束的初步实验结果
作者:
B M Mertens
;
P Kruit
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
7.
Precipitation in superaustenitic stainless steels with partial replacement of Mo by W
机译:
用W部分替代Mo的超奥氏体不锈钢中的析出
作者:
S Heino
;
E M Knutson-Wedel
;
B Karlsson
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
8.
Preliminary experiments on grazing-exit electron probe microanalysis (GE-EPMA)
机译:
放牧电子探针显微分析(GE-EPMA)的初步实验
作者:
K Tsuji
;
Z Spolnik
;
K Wagatsuma
;
R Nullens
;
R E Van Grieken
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
9.
Polymerisation of C_60 and C_70 under thermobaric treatment
机译:
高压处理下C_60和C_70的聚合
作者:
V D Blank
;
B A Kulnitskiy
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
10.
Microstructural characterisation of molybdenum disilicide consolidated by hot isostatic pressing
机译:
热等静压固结的二硅化钼的微观结构表征
作者:
A.R.Bhatti
;
M.ABarnett
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
11.
A Scanning electron microscopic analysis of hot-rolled steel / vitreous enamel layer
机译:
热轧钢/玻璃搪瓷层的扫描电子显微镜分析
作者:
J.Kinson
;
A.Jha
;
R.C Cochrane
;
A.Hardwick
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
12.
Advanced spatially resolved electronic structure analysis
机译:
先进的空间分辨电子结构分析
作者:
P.E Batson
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
关键词:
EELS;
STEM;
electronic structure;
semiconductors;
GeSi;
dislocation;
13.
Preparation of electron transparent SiC monofilaments using focussed-ion-beam lithography techniques
机译:
使用聚焦离子束光刻技术制备电子透明SiC单丝
作者:
M.A.Barnett
;
D.Imeson
;
C.Reeves
;
G.Williams
;
A.J.Pidduck
;
K.L.Dyos
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
14.
Operation of the fringe field monochromator in field emission STEM
机译:
场发射STEM中边缘场单色仪的操作
作者:
H.W.Mook
;
P.E.Batson
;
P.Kruit
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
15.
HREM analysis of the nanostructure/oxygen buffering capacity relationship in a Rh/CeTbO_x catalyst
机译:
Rh / CeTbO_x催化剂中纳米结构/氧气缓冲能力关系的HREM分析
作者:
G Blanco
;
J J Calvino
;
M A Cauqui
;
P Corchado
;
C Lopez-Cartes
;
J A Perez-Omil
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
16.
Investigation of formation and annihilation behaviours of athermal #omega#-phase crystals in a Ti-Mo alloy formed by cooling to 77k using in-situ dark field imaging and in-situ HREM methods
机译:
利用原位暗场成像和原位HREM方法研究冷却至77k的Ti-Mo合金中#omega#相无热晶体的形成和an没行为
作者:
H M atsumoto
;
E Sukedai
;
H Hashimoto
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
17.
Microstructural evolution on firing low cement castable refractories
机译:
烧成低水泥可浇铸耐火材料的微观组织演变
作者:
H.Sarpoolaky
;
K.G.Ahari
;
W.E.Lee
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
18.
Microstructures of Ag based metal electrode - PZT electroceramic interfaces
机译:
银基金属电极的微结构-PZT电陶瓷界面
作者:
L J Ecclestone
;
I M Reaney
;
W E Lee
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
19.
#agnetic force microscopy of recording heads#G P Heydon; W M Rainforth; M R
机译:
#记录头的磁力显微镜#G P Heydon; W M Rainforth;先生
作者:
J Gibbs
;
H A Davies
;
J E L Bisho
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
20.
Nano-EELS characterization of multi-element nano-structures
机译:
多元素纳米结构的Nano-EELS表征
作者:
K Suenaga
;
S Iijima
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
21.
Electron microscopy characterisation of porous ceramic bodies
机译:
多孔陶瓷体的电子显微镜表征
作者:
S P McBride
;
M Ramzan
;
K B Dickinson
;
R Brydson
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
22.
Evolution of Microstructure in direct laser fabricated TiAl component
机译:
直接激光制备的TiAl组件的微观结构演变
作者:
D.Srivastava
;
I.T.H.Chang
;
M.H.Loretto
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
23.
Environmental scanning electron microscopy of hydrated refractory oxides
机译:
水合难熔氧化物的环境扫描电子显微镜
作者:
K.Ghanbari Ahari
;
W.E.Lee
;
S.Habesch
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
24.
ELNES investigation of the oxidation of AlN
机译:
ELNES研究AlN的氧化
作者:
Maureen MacKenzie
;
Alan J.Craven
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
25.
HRTEM studies of the aggregation of size-selected Ag clusters deposited onto graphite
机译:
沉积在石墨上的按尺寸选择的Ag团簇聚集的HRTEM研究
作者:
M couillard
;
S Pratontep
;
M Streun
;
RE Palmer
;
PD Nellist
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
26.
HREM studies of an electron beam induced morphological rearrangement in acicular ZnO
机译:
HREM研究针状ZnO中电子束引起的形态重排
作者:
I M Ross
;
C J Kiely
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
27.
Influence of Cr~+ and Nb~+ substrate sputter cleaning on the formation of Ti_1-xAl_xN/steel interfaces generated in a combined cathodic arc/unbalanced magnetron deposition system
机译:
Cr〜+和Nb〜+衬底溅射清洗对阴极弧/不平衡磁控管组合沉积系统中Ti_1-xAl_xN /钢界面形成的影响
作者:
C Schonjahn
;
H Paritong
;
L A Donohue
;
W-D Munz
;
R D Twesten
;
I Petrov
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
28.
Indirect super resolved microscopy in the TEM
机译:
TEM中的间接超分辨显微镜
作者:
A.I.Kirkland
;
R.R.Meyer
;
W.O.Saxton
;
J Hutchison
;
R.Dunin-Borkowski
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
29.
Low temperature nano-growth of carbon on a Ni/Silica catalyst during the hydrodechlorination of chlorobenzene
机译:
Ni /二氧化硅催化剂上氯苯加氢脱氯过程中碳的低温纳米增长
作者:
C Menini
;
C Park
;
R Brydson
;
M A Keane
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
30.
Investigation of gold nano-particles by energy-filtered imaging
机译:
能量过滤成像研究金纳米颗粒
作者:
T Walther
;
W Mader
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
31.
Measurement of higher-order correlation functions in amorphous materials via coherent microdiffraction
机译:
通过相干微衍射测量非晶态材料中的高阶相关函数
作者:
J M Rodenburg
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
32.
Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
机译:
使用电子背散射衍射测量小的取向不良
作者:
Angus J Wilkinson
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
33.
Magnetic force microscopy of soft magnetic films
机译:
软磁膜的磁力显微镜
作者:
G P Heydon
;
W M Rainforth
;
M R J Gibbs
;
H A Davies
;
G Hill
;
J E L Bishop
;
J W Tucker
;
S Huo
;
G Pan
;
D J Mapps
;
W W Clegg
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
34.
The microstructure of clean mechanically alloyed titanium-titanium boried alloys
机译:
机械合金化纯钛钛合金的显微组织
作者:
A P Brown
;
R Brydson
;
C Hammond
;
A Wisbey
;
T M T Godfrey
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
35.
The electron optics of cold field emitters
机译:
冷场发射器的电子光学
作者:
C J Edgcombe
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
36.
The nanoscale structure of the B and I_w phases in yttrium and erbium SiAlONs
机译:
钇和b SiAlONs中B和I_w相的纳米结构
作者:
I MacLaren
;
L K L Falk
;
Y Menke
;
A Diaz
;
S Hampshire
;
J Parmentier
;
D P Thompson
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
37.
The determination of the composition of InAs quantum dots in a GaAs matrix using STEM
机译:
使用STEM确定GaAs基质中InAs量子点的组成
作者:
H.J.Davock
;
A.J.Harvey
;
P.J.Goodhew
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
38.
The structure of FeCo/Ag multilayers
机译:
FeCo / Ag多层结构
作者:
W M Rainforth
;
L-C Wang
;
H Hatton
;
C J D Hetherington
;
M R J Gibbs
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
39.
Subangstrom resolution imaging using annular dark-field STEM
机译:
使用环形暗场STEM的亚埃分辨率成像
作者:
P D Nellist
;
S j Pennycook
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
40.
Crystal growth of nanocrystalline SnO_2 thin films
机译:
纳米晶SnO_2薄膜的晶体生长
作者:
J G Zheng
;
X Pan
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
41.
Grain boundary observation in a SrTiO_3 ceramic condenser
机译:
SrTiO_3陶瓷电容器的晶界观察
作者:
M Kawasaki
;
S Sato
;
K Watanabe
;
A I Kirkland
;
M Shiojiri
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
42.
X-ray spectrometry in SEM and elements of the first transition series
机译:
SEM中的X射线光谱法和第一个过渡系列的元素
作者:
P Poelt
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
43.
ALCHEMI studieds of B2 Nb-Al-V alloys
机译:
ALCHEMI研究了B2 Nb-Al-V合金
作者:
T.S.Rong
;
N.Jiang
;
M.Aindow
;
I.P Jones
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
44.
Arsenic dopant profiling around trench capacitors in a memory chip using EDX in a field-emission TEM/STEM
机译:
在场发射TEM / STEM中使用EDX在存储芯片中的沟槽电容器周围进行砷掺杂分析
作者:
G.J.C.Carpenter
;
M.W.Phaneuf
;
L.Weaver
;
D.McCotter
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
45.
Characterisation of silicon nanocrystals in silica and correlation with luminescence
机译:
二氧化硅中硅纳米晶体的表征及其与发光的关系
作者:
N Sharma
;
V J Keast
;
T S Iwayama
;
I Boyd
;
C J Humphreys
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
46.
Calibratinof the relationship between white-line intensity and valence states for the first transition series
机译:
校准第一过渡系列白线强度与价态之间的关系
作者:
V Stolojan
;
C A Walsh
;
J Yuan
;
L M Brown
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
47.
Composition of grain boundaries and interfaces: a comparison of modern analytical techniques using a 300kV FEGTEM
机译:
晶界和界面的组成:使用300kV FEGTEM的现代分析技术的比较
作者:
V J Keast
;
P A Midgley
;
S J Lloyd
;
P J Thomas
;
M Weyland
;
C B Boothroyed
;
C J Humphreys.
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
48.
Comparative study of properties of DLC films by electron energy loss spectroscopy and X-ray reflectivity
机译:
电子能量损失谱和X射线反射率对DLC薄膜性能的比较研究
作者:
V Stolojan
;
LM Brown
;
AC Ferrari
;
J Robertson
;
A Li Bassi
;
BK Tanner
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
49.
Compositional mapping of nanoscale metallic multilayers: a comparison of techniques
机译:
纳米级金属多层膜的成分映射:技术比较
作者:
V J Keast
;
A Misra
;
H Kung
;
T E Mitchell
;
C J Humphreys
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
50.
Comprehensive characterisation of a FEGTEM
机译:
FEGTEM的全面表征
作者:
A I Kirkland
;
R E Dunin-Borkowski
;
J L Hutchison
;
W O Saxton
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
51.
Detection and quantification of small misalignments in nanometer-sized particles on oxide support systems by the analysis of plan view HREM images
机译:
通过分析平面HREM图像来检测和量化氧化物支撑系统上纳米级颗粒中的微小错位
作者:
R T Baker
;
J J Calvino
;
C Lopez-Cartes
;
C Mira
;
J A Perez-Omil
;
J M Rodriguez-Izquierdo
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
52.
Convergent beam electron diffraction analysis of #beta#- and #gamma#- Zn_3(VO_4)_2 in V_2O_5-doped ZnO varistors
机译:
V_2O_5掺杂的ZnO压敏电阻中#beta#-和#γ#-Zn_3(VO_4)_2的会聚束电子衍射分析
作者:
H H Hng
;
P A Midgley
;
K M Knowles
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
53.
Crystal structure of lead pyroniobate
机译:
焦铌酸铅的晶体结构
作者:
r Ubic
;
I M Reaney
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
54.
Domain structure and tetragonality in manganese based spinels
机译:
锰基尖晶石的畴结构和四方性
作者:
GDC Csete de Gyorgyfalva
;
IM Reaney
;
C Metzmacher
;
W A Groen
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
55.
Development of microstructure in mechanically alloyed FeAl
机译:
机械合金化FeAl的显微组织发展
作者:
E M Knutson-Wedel
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
56.
Dewtetting behaviour of reactive silicate glass films on single crystal ceramic substrates
机译:
反应性硅酸盐玻璃薄膜在单晶陶瓷基板上的露湿行为
作者:
C Barry Carter
;
N Ravishandar
;
Svetlana V Yanina
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
57.
Determination of the distribution of NbC precipitates in novel microalloyed steels
机译:
NbC沉淀物在新型微合金钢中的分布测定
作者:
W M Rainforth
;
M P Black
;
R M Poths
;
R L Higginson
;
J A Whiteman
;
E J Palmiere
;
C M Sellars
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
58.
Electron microscopy of real ceramics
机译:
真实陶瓷的电子显微镜
作者:
W E Lee
;
Y Iqbal
;
S Zhang
;
C McConville
;
H Sarpoolaky
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
59.
Dissolution behaviour of precipitates in the HAZ of microalloyed steels
机译:
析出物在微合金钢热影响区中的溶解行为
作者:
D J Egner
;
R C Cochrane
;
R Brydson
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
60.
Dislocations in a multiphase Ni-Al-Fe alloy
机译:
Ni-Al-Fe多相合金中的位错
作者:
E Pekarskaya
;
C N Jones
;
C J Humphreys
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
61.
Electron energy loss studies at dislocations in GaN
机译:
GaN中位错的电子能量损失研究
作者:
P SHang
;
U Bangert
;
A J Harvey
;
N Duxbury
;
K Jacobs
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
62.
Electrons and pholons:exploiting the connection
机译:
电子和声子:开发连接
作者:
A Howie
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
63.
Electron spectroscopy from outside - aloof beam or near field ?
机译:
来自外部超束或近场的电子光谱学?
作者:
F J Garcia de Abajo
;
A Howie
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
64.
Probing nitride thin films in 3-dimensions using a variable energy electron beam
机译:
使用可变能量电子束探测3维氮化物薄膜
作者:
Carol Trager-Cowan
;
J-F Treguer
;
S T F Grimson
;
I Osborne
;
M Barisonzi
;
P G Middleton
;
S K Manson-Smith
;
A Mohammed
;
K P ODonnell
;
W Van der Strich
;
K Jachobs
;
I Moerman
;
P Demeester
;
M F Wu
;
A Vantomme
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
65.
Operation modes of a TEM monochromator
机译:
TEM单色仪的操作模式
作者:
P C Tiemeijer
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
66.
Interface science -knowing more about less
机译:
界面科学-了解更少
作者:
M Ruhle
;
T Gemming
;
O Kienzle
;
R Schweinfest
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
67.
Atomic resolution Z-contrast imaging of grain boundaries in Ag-sheathed BSCCO high-T_c superconducting tapes
机译:
Ag鞘BSCCO高T_c超导带中晶界的原子分辨率Z对比成像
作者:
K Kishida
;
N D Browning
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
68.
Structure modelling by molecular dynamics:analysis of TEM images of bonded interfaces
机译:
通过分子动力学进行结构建模:键合界面的TEM图像分析
作者:
K Scheerschmidt
;
A Belov
;
D Conrad
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
69.
Microstructural study of arc-melted and melt-spun Ti_3Al-Si alloys
机译:
电弧熔融和熔纺Ti_3Al-Si合金的显微组织研究
作者:
A Jazayeri-G
;
R A Buckley
;
H A Davies
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
70.
Obtaining bonding information from EELS near-edge structures: grain-boundaries in NiAl
机译:
从EELS近边缘结构获取键合信息:NiAl中的晶界
作者:
D A Pankhurst
;
G A Botton
;
C J Humphreys
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
71.
Microstructure of laser-ablated La_2CuO_4F_x thin films on SrTiO_3
机译:
SrTiO_3上激光烧蚀La_2CuO_4F_x薄膜的微观结构
作者:
G Kong
;
M Aindow
;
M O Jones
;
I Gameson
;
S T Lees
;
K E Gibbons
;
J.S Abell
;
P P Edwards
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
72.
Microstructure of commercial bone china
机译:
商业骨瓷的微观结构
作者:
Y Iqbal
;
W E Lee
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
73.
Monte-carlo calculation and experimental measurement of electron backscattering from solids
机译:
固体电子反向散射的蒙特卡洛计算和实验测量
作者:
V Stary
;
J Zemek
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
74.
High resolution X-ray spectrometers for material analysis
机译:
用于材料分析的高分辨率X射线光谱仪
作者:
Jens Hohne
;
Matthias Buhler
;
theo Hertrich
;
Uwe Hess
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
75.
Fourier deconvolution of image-spectra:the removal of plural scattering from energy-filtered series
机译:
图像光谱的傅里叶反卷积:从能量滤波序列中消除多重散射
作者:
P J Thomas
;
P A Midgley
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
76.
HREM and EELS analysis of fullerene-like carbon films
机译:
类富勒烯碳膜的HREM和EELS分析
作者:
I.Alexandrou
;
H.-JScheibe
;
c.J.Kiely
;
A.J.Papworth
;
G.A.J.Amaratunga
;
L.Hultman
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
77.
High spatial resolution interface chemistry investigations on spin-polarised magnetic tunnel junctions
机译:
自旋极化磁隧道结的高空间分辨率界面化学研究
作者:
D Ozkaya
;
R E Dunin-Borkowski
;
A K Petford-Long
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
78.
Influence of additives on microstructual evolution of MgO-C refractories
机译:
添加剂对MgO-C耐火材料显微组织演变的影响
作者:
S Zhang
;
N J Marriott
;
W E Lee
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
79.
In-situ structural modification of Nb_8-nW_9+nO_47 (n=0-4) in a gas reaction cell transmission electron microscope
机译:
气体反应池透射电子显微镜中Nb_8-nW_9 + nO_47(n = 0-4)的原位结构修饰
作者:
M J Sayagues
;
F Krumeich
;
J L Hutchison
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
80.
In situ electron microscopy of CeO_2 and CeO_2-ZrO_2 reduction
机译:
CeO_2和CeO_2-ZrO_2还原的原位电子显微镜
作者:
Renu Sharma
;
Peter Crozier
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
81.
Contrast for mation in the environmental scanning electron microscope-imaging liquid-liquid systems
机译:
环境扫描电子显微镜-成像液-液系统中成像的对比
作者:
R G Mathews
;
D J Stokes
;
B L Thiel
;
A M Donald
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
82.
Magnetic contrast in a focused ion beam microscope
机译:
聚焦离子束显微镜中的磁对比
作者:
S J Lloyd
;
A C Twitchett
;
M G Blamire
;
P A Midgley
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
83.
Investigation of redox-cycled Ce-Zr mixed oxides for automotive catalysts by electron microscopy
机译:
用电子显微镜研究汽车催化剂中氧化还原循环的Ce-Zr混合氧化物
作者:
R.T.Baker
;
S.Bernal
;
C.Lopez-Cartes
;
J.A.Perez-Omil
;
Y.Montardi
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
84.
Inversion of dynamic scattering:Determination of local object thickness and orientation
机译:
动态散射反演:确定局部物体的厚度和方向
作者:
K Scheerschmidt
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
85.
Microanalysis of precipitates in Ti-Al alloy
机译:
钛铝合金中析出物的显微分析
作者:
J G Zheng
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
86.
Magnetic force microscopy of recording heads
机译:
记录头的磁力显微镜
作者:
G P Heydon
;
W M Rainforth
;
M R J Gibbs
;
H A Davies
;
J E L Bishop
;
J W Tucker
;
S Huo
;
G Pan
;
D J Mapps
;
W W Clegg
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
87.
The metastable C40 structure in sputtered MoSi_2 thin films
机译:
溅射MoSi_2薄膜中的亚稳C40结构。
作者:
X.Y.Wang
;
I.T.H.Chang
;
M.Aindow
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
88.
Unusual Incommensurate,modulated and disordered structures in refractory metal disilicides
机译:
难熔金属二硅化物中异常的不对称,调制和无序结构
作者:
T E Mitchell
;
R M Dickerson
;
A Misra
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
89.
Simulation of a low voltage SEM objective lens with through the lens secondary electron detection
机译:
低压SEM物镜通过透镜二次电子检测的仿真
作者:
A R Walker
;
S Kumashiro
;
T Marui
;
R Badheka
;
S Fujita
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
90.
Secondary-phase precipitation and surface morphology variations in photolithographically patterned YBa_2Cu_3O_7-x/PrBa_2Cu_3O_7-x multilayer device structures
机译:
光刻图案化的YBa_2Cu_3O_7-x / PrBa_2Cu_3O_7-x多层器件结构中的次生相沉淀和表面形貌变化
作者:
M.A.Barnett
;
J.S.Abell
;
N.G.Chew
;
P.J.Hirst
;
R.G.Humphreys
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
91.
The role of TEM in semiconductor device development and manufacture
机译:
TEM在半导体器件开发和制造中的作用
作者:
R Beanland
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
92.
The refinement of oxide structures
机译:
氧化物结构的细化
作者:
D A.Jefferson
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
93.
TEM,EDX and EELS study of CN_x and Si doped CN_x thin films
机译:
CN_x和Si掺杂的CN_x薄膜的TEM,EDX和EELS研究
作者:
C Fernandez-Ramos
;
M J Sayagues
;
T C Rojas
;
S Sidhoum
;
J A Odriozola
;
A Fernandez
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
94.
The composition and structure of C-S-H in blended cement pastes containing fly ash
机译:
粉煤灰掺水泥浆中C-S-H的组成和结构
作者:
C A Love
;
I G Richardson
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
95.
Simplified aberration corrector for low-voltage SEM
机译:
低压SEM的简化像差校正器
作者:
S A M Mentink
;
T Steffen
;
P C Tiemeijer
;
M P C M Krijin
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
96.
Supported nanocrystals:watching every move
机译:
支持的纳米晶体:观察每一步
作者:
Mark Yeadon
;
J.C.Yang
;
M.Ghaly
;
R.S.Averback
;
J.M.Gibson
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
97.
Transmission electron microscopy studies of La_2O_3-doped #alpha#-SiAlON ceramics
机译:
La_2O_3掺杂#alpha#-SiAlON陶瓷的透射电子显微镜研究
作者:
S.Turan
;
H.Mandal
;
F.Kara
;
K.M.Knowles
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
98.
Thin film structures formed from metallic nanoparticles; manipulation of the self-assembly process
机译:
由金属纳米颗粒形成的薄膜结构;自组装过程的操纵
作者:
C.J.Kiely
;
J.Fink
;
T.Hutchinson
;
J.G.Zheng
;
M.Brust
;
D.Bethell
;
D.J.Schiffrin
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
99.
Three-dimensional atomic scale analysis of interfaces
机译:
界面的三维原子尺度分析
作者:
A.Cerezo
;
M.Abraham
;
H.Lane
;
D.J.Larson
;
M.Thuvander
;
K.Seto
;
P.J.Warren
;
G.D.W.Smith
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
100.
TEM nanoscale analysis of InAs quantum dots grown on GaAs by MBE
机译:
MBE在GaAs上生长的InAs量子点的TEM纳米分析
作者:
MA Al-Khafaji
;
AG Cullis
;
M Hopkinson
;
L R Wilson
;
SR Parnell
;
DJ Mowbray
;
MS Skolnick
会议名称:
《Electron microscopy and analysis 1999》
|
1999年
意见反馈
回到顶部
回到首页