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Electron Microscopy and Analysis Group Conference
Electron Microscopy and Analysis Group Conference
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1.
In-situ EBSD Phase Transformation and Recrystallisation
机译:
原位EBSD相变和重结晶
作者:
H S Ubhi
;
J Parsons
;
N Othen
;
S Campbell
;
R Poole
;
A Gholinia
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
In-situ EBSD;
Phase Transformation;
Recrystallisation;
2.
Synthesis and characterization of a mixed phase of anatase TiO_2 and TiO_2(B) by low pressure chemical vapour deposition (LPCVD) for high photocatalytic activity
机译:
低压化学气相沉积(LPCVD)高压催化活性的锐钛矿TiO_2和TiO_2(B)混合相的合成与表征
作者:
Y. Chimupala
;
G. Hyett
;
R. Simpson
;
R. Brydson
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Synthesis;
characterization;
a mixed phase;
3.
Resistive switching in ZrO_2 films:physical mechanism for filament formation and dissolution
机译:
Zro_2薄膜电阻切换:长丝形成和溶解的物理机制
作者:
Pedro Parreira
;
Stephen McVitie
;
DA MacLaren
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Resistive switching;
ZrO_2 films;
physical mechanism;
4.
Development of an environmental high voltage electron microscope and its application to nano and bio-materials
机译:
开发环境高压电子显微镜及其在纳米和生物材料的应用
作者:
N. Tanaka
;
J. Usukura
;
M. Kusunoki
;
Y. Saito
;
K. Sasaki
;
T. Tanji
;
S. Muto
;
S. Arai
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Development;
an environmental;
high voltage;
electron microscope;
5.
A novel 2D and 3D method for automated insulin granule measurement and its application in assessing accepted preparation methods for electron microscopy
机译:
一种用于自动胰岛素颗粒测量的新型2D和3D方法及其在评估电子显微镜的预接受制备方法中的应用
作者:
J Mantell
;
D Nam
;
D Bull
;
A.Achim
;
P.Verkade
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
A novel 2D;
3D method;
automated insulin;
6.
Sample preparation and EFTEM of Meat Samples for Nanoparticle Analysis in Food
机译:
食品中纳米粒子分析的肉类样品样品制备及eftem
作者:
L. Lari
;
A. Dudkiewicz
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Sample preparation;
EFTEM;
Meat Samples;
7.
Observation of depth-dependent atomic displacements related to dislocations in GaN by optical sectioning in the STEM
机译:
茎中光学切片观察与GaN中的脱位相关的深度依赖性原子位移
作者:
J G Lozano
;
M P Guerrero-Lebrero
;
A Yasuhara
;
E Okinishi
;
S Zhang
;
C J Humphreys
;
P L Galindo
;
P B Hirsch
;
P D Nellist
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Observation;
depth-dependent;
atomic displacements;
8.
Probing the core-shell-shell structure of CdSe/CdTe/CdS type II quantum dots for solar cell applications
机译:
探测太阳能电池应用的CDSE / CDTE / CDS II型量子点的核心壳 - 壳结构
作者:
E A Lewis
;
R C Page
;
D J Binks
;
T J Pennycook
;
P OBrien
;
S J Haigh
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Probing;
the core-shell-shell structure;
CdSe/CdTe/CdS;
9.
Characterisation of Defects at Non-Polar GaN/InGaN Junctions in Novel Materials for Application in Light Emitting Diodes
机译:
在发光二极管应用中的非极性GaN / IngaN交界处的缺陷表征
作者:
J Severs
;
J G Lozano
;
S Hooper
;
P D Nellist
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Characterisation;
Defects;
Non-Polar;
10.
Understanding the limitations of the Super-X energy dispersive x-ray spectrometer as a function of specimen tilt angle for tomographic data acquisition in the S/TEM
机译:
了解Super-X能量分散X射线光谱仪作为标本倾斜角度在S / TEM中断层数据采集的函数的局限
作者:
T J A Slater
;
P H C Camargo
;
M G Burke
;
N J Zaluzec
;
S J Haigh
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Understanding;
the limitations;
the Super-X energy;
11.
TEM imaging and application of thin-film magnetic rings for phase plates
机译:
相板薄膜磁环的TEM成像及应用
作者:
C J Edgcombe
;
J C Loudon
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
TEM imaging;
application;
thin-film;
12.
Direct Detectors for Electron Microscopy
机译:
用于电子显微镜的直接探测器
作者:
R N Clough
;
G Moldovan
;
A I Kirkland
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Direct Detectors;
Electron;
Microscopy;
13.
Three-dimensional electron diffraction mapping for cyclic twinned nanostructures
机译:
循环孪晶纳米结构的三维电子衍射映射
作者:
Xin Fu
;
Jun Yuan
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Three-dimensional;
electron diffraction;
mapping;
14.
A dissociation mechanism for the a+c dislocation in GaN
机译:
GaN中A + C脱位的解离机制
作者:
A. Yasuhara
;
E. Okunishi
;
S. Zhang
;
S.-L. Sahonta
;
M.J. Kappers
;
C.J. Humphreys
;
M.A. Moram
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
A dissociation mechanism;
the a+c dislocation;
GaN;
15.
A practical approach to quantify the ADF detector in STEM
机译:
一种量化茎中ADF检测器的实用方法
作者:
D. S. He
;
Z. Y. Li
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
A practical approach;
quantify;
the ADF detector;
16.
Electron Cryomicroscopy:From Molecules to Cells
机译:
电子冷冻镜:从分子到细胞
作者:
W. Baumeister
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Electron Cryomicroscopy;
Molecules;
Cells;
17.
Auger Electron Spectroscopy in high vacuum:Nanocharacterisation in the Scanning Electron Microscope
机译:
高真空中的螺旋钻电子光谱:扫描电子显微镜中的纳米色谱
作者:
Xiaoping Zha
;
Christopher GH Walker
;
Mohamed El-Gomati
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Auger Electron Spectroscopy;
high vacuum;
Nanocharacterisation;
18.
A methodology for the extraction of quantitative information from electron microscopy images at the atomic level
机译:
从原子水平上从电子显微镜图像提取定量信息的方法
作者:
P L Galindo
;
J Pizarro
;
E Guerrero
;
M P Guerrero-Lebrero
;
G Scavello
;
A Yá?ez
;
B M Nú?ez-Moraleda
;
J M Maestre
;
D L Sales
;
M Herrera
;
S I Molina
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
A methodology;
the extraction;
quantitative;
19.
Quantitative Electron Tomography of Rubber Composites
机译:
橡胶复合材料的定量电子断层扫描
作者:
Lech Staniewicz
;
Thomas Vaudey
;
Christophe Degrandcourt
;
Marc Couty
;
Fabien Gaboriaud
;
Paul Midgley
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Quantitative;
Electron Tomography;
Rubber Composites;
20.
Characterisation of Nanoparticle Structure by High Resolution Electron Microscopy
机译:
高分辨率电子显微镜表征纳米粒子结构
作者:
Robert D. Boyd
;
Rickard Gunnarsson
;
Iris Pilch
;
Ulf Helmersson
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Characterisation;
Nanoparticle Structure;
High Resolution;
21.
Indium-doped ZnO nanopencils:structural and field emission properties
机译:
铟掺杂的ZnO纳米油香料:结构和场发射性能
作者:
H. Algarni
;
M. M. El-Gomati
;
M. S. Al-Assiri
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Indium-doped;
ZnO nanopencils;
structural;
22.
Hydrothermal synthesis, off-axis electron holography and magnetic properties of Fe_3O_4 nanoparticles
机译:
水热合成,轴外电子全息和Fe_3O_4纳米颗粒的磁性
作者:
Trevor P. Almeida
;
Adrian R. Muxworthy
;
Wyn Williams
;
Takeshi Kasama
;
Rafal E. Dunin-Borkowski
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Hydrothermal synthesis;
off-axis electron;
holography;
23.
Characterization of nanoembedded alloyed thermoelectrics
机译:
纳米卧床合金热电的特征
作者:
L. Lari
;
C.J. Nuttall
;
M.P. Copley
;
R.J. Potter
;
J. Simon
;
N. Mingo
;
D.Ozkaya
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Characterization;
nanoembedded alloyed;
thermoelectrics;
24.
TEM and EELS studies of microwave-irradiation synthesis of bimetallic platinum nanocatalysts
机译:
微波辐射合成双金属铂纳米催化剂的TEM和EELS研究
作者:
N R Mathe
;
N J Coville
;
J E Olivier
;
M R Scriba
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
TEM;
EELS studies;
microwave-irradiation;
25.
Thermal induced structural transformation of bimetallic AuPd nanoparticles
机译:
热诱导双金属AUPD纳米粒子的结构转化
作者:
A. Bruma
;
Z. Y. Li
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Thermal induced;
structural transformation;
bimetallic;
26.
Structural quantification of nanoparticles by HAADF STEM
机译:
HAADF茎纳米颗粒的结构定量
作者:
K E MacArthur
;
L B Jones
;
S Lozano-Perez
;
D Ozkaya
;
P D Nellist
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Structural quantification;
nanoparticles;
HAADF STEM;
27.
Plasmonic Enhancement at Metal Atoms on Graphene Edges revealed by EFTEM
机译:
石墨烯边缘金属原子的等离子体增强eftem
作者:
W Pierce
;
R Zan
;
Q M Ramasse
;
C B Boothroyd
;
U Bangert
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Plasmonic Enhancement;
Metal Atoms;
Graphene;
28.
Preparation of plan-view Co-doped FeSi thin film TEM specimens using FIB
机译:
使用FIB的平面视图共掺杂FESI薄膜TEM标本的制备
作者:
M B Ward
;
N A Porter
;
P Sinha
;
R Brydson
;
C H Marrows
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Preparation;
plan-view Co-doped;
FeSi thin;
29.
Microstructural characterisation and microanalysis of creep resistant steels
机译:
蠕变抗钢材的微观结构特征及微分析
作者:
M Wang
;
Y Chiu
;
I Jones
;
N Rowlands
;
J Holland
;
Z Zhang
;
D Flahaut
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Microstructural characterisation;
microanalysis;
creep resistant steels;
30.
Field emission properties of aligned ZnO nanorods on Ti substrate
机译:
Ti衬底上对准ZnO纳米棒的场排放特性
作者:
H. Algarni
;
M. M. El-Gomati
;
M. S. Al-Assiri
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Field emission;
properties;
aligned ZnO;
31.
High Angle Dark Field Imaging of Two-Dimensional Crystals
机译:
二维晶体高角度暗场成像
作者:
R Zan
;
Q M Ramasse
;
R Jalil
;
T Georgiou
;
U Bangert
;
K S Novoselov
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
High Angle;
Dark Field Imaging;
Two-Dimensional Crystals;
32.
Comparison of atom probe tomography and transmission electron microscopy analysis of oxide dispersion strengthened steels
机译:
原子探测断层扫描和透射电子显微镜分析氧化物分散的比较强化钢
作者:
AJ London
;
S Lozano-Perez
;
S Santra
;
S Amirthapandian
;
BK Panigrahi
;
CS Sundar
;
CRM Grovenor
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Comparison;
atom probe tomography;
transmission;
33.
Microstructure characterisation of an X70 grade pipeline steel and its dislocation development during Bauschinger testing
机译:
X70级管道钢及其位错发展的微观结构特征及其在Bauschinger试验中的脱位发展
作者:
T S Pereira
;
Y L Chiu
;
I P Jones
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Microstructure characterisation;
an X70 grade;
pipeline steel;
34.
Low-pressure ETEM Studies of Au assisted MgO Nanorod Growth
机译:
AU辅助MgO纳米棒生长的低压ETEM研究
作者:
Linus D. L. Duchstein
;
Christian D. Damsgaard
;
Thomas W. Hansen
;
Jakob B. Wagner
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Low-pressure ETEM Studies;
Au assisted;
MgO Nanorod Growth;
35.
Aberration Corrected (S)TEM and Nano Beam Diffraction (NBD) of Pt and Pd on Al_2O_3 Catalysts
机译:
在Al_2O_3催化剂上的Pt和Pd的像差校正(S)TEM和纳米束衍射(NBD)
作者:
M R Ward
;
E D Boyes
;
P L Gai
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Aberration;
Corrected (S)TEM;
Nano Beam;
36.
Exit wave reconstruction of radiation-sensitive materials from low-dose data
机译:
从低剂量数据出出辐射敏感材料的出口波重建
作者:
C. Huang
;
K. B. Borisenko
;
A. I. Kirkland
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Exit wave reconstruction;
radiation-sensitive materials;
low-dose data;
37.
EELS modelling of graphitisation
机译:
石墨术的鳗化建模
作者:
C R Seabourne
;
R Brydson
;
A P Brown
;
C D Latham
;
M I Heggie
;
A J Scott
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
EELS;
modelling;
graphitisation;
38.
Electron microscopy of multi-layered polymer-nanocomposite based dielectrics
机译:
基于多层聚合物 - 纳米复合材料的电介质电子显微镜
作者:
Amoghavarsha Mahadevegowda
;
Neil P Young
;
Patrick S Grant
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Electron microscopy;
multi-layered polymer-nanocomposite;
based dielectrics;
39.
Two-dimensional Object Functions and Three-dimensional Illumination Functions:their Validity, Interaction and Utility
机译:
二维物体功能和三维照明功能:它们的有效性,交互和实用程序
作者:
L. Jones
;
P. D. Nellist
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Two-dimensional;
Object Functions;
Three-dimensional;
40.
Microstructure of as-cast Mg-4.2Zn-0.8Y (at.) alloys containing Gd
机译:
含有GD的AS-铸造Mg-4.2Zn-0.8Y(at。%)合金的微观结构
作者:
J. Wu
;
Y.L. Chiu
;
I.P. Jones
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Microstructure;
as-cast Mg-4.2Zn-0.8Y (at.);
alloys containing Gd;
41.
EBSD study of substrate-mediated growth of hexagonal boron nitride
机译:
EBSD研究基质介导的六边形氮化硼生长
作者:
J Dias
;
P R Kidambi
;
S Hofmann
;
C Ducati
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
EBSD study;
substrate-mediated growth;
hexagonal;
42.
Helium ion microscopy and energy selective scanning electron microscopy - two advanced microscopy techniques with complementary applications
机译:
氦离子显微镜和能量选择性扫描电子显微镜 - 两种具有互补应用的高级显微镜技术
作者:
C Rodenburg
;
M A E Jepson
;
Stuart A. Boden
;
Darren M. Bagnall
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Helium ion microscopy;
energy selective;
scanning electron;
43.
Nanoscale characterisation of hybrid photovoltaic cells based on C_(61) capped CdSe QDs
机译:
基于C_(61)盖CDSE QDS的混合光伏电池纳米级表征
作者:
S Cacovich
;
G Divitini
;
E Capria
;
A Fraleoni Morgera
;
V Lughi
;
C Ducati
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Nanoscale characterisation;
hybrid photovoltaic;
cells based;
44.
Microstructural characterization of low and high carbon CoCrMo alloy nanoparticles produced by mechanical milling
机译:
机械研磨生产的低碳高碳COCRMO合金纳米粒子的微观组织特征
作者:
TA Simoes
;
AE Goode
;
AE Porter
;
MP Ryan
;
SJ Milne
;
AP Brown
;
RMD Brydson
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Microstructural characterization;
low;
high carbon;
45.
Aberration corrected STEM of iron rhodium nanoislands
机译:
像差校正铁铑纳诺岛
作者:
M J McLaren
;
F S Hage
;
M Loving
;
Q M Ramasse
;
L H Lewis
;
C H Marrows
;
R M D Brydson
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Aberration corrected STEM;
iron rhodium;
nanoislands;
46.
Electron microscopy reveals unique microfossil preservation in 1 billion-year-old lakes
机译:
电子显微镜显示出10亿岁的湖泊中独特的微泡渣保存
作者:
M Saunders
;
C Kong
;
S Menon
;
D Wacey
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Electron microscopy;
reveals unique;
microfossil preservationlakes;
47.
How flat is your detector? Non-uniform annular detector sensitivity in STEM quantification
机译:
你的探测器有多平衡?茎定量中的非均匀环形检测器灵敏度
作者:
K E MacArthur
;
L B Jones
;
P D Nellist
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
How flat;
detector;
Non-uniform;
48.
Analytical transmission electron microscopy in the third dimension
机译:
第三尺寸中的分析透射电子显微镜
作者:
Daniela Sudfeld
;
Oleg Lourie
;
Stephan Kujawa
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Analytical transmission;
electron microscopy;
the third dimension;
49.
High resolution electron exit wave reconstruction from a diffraction pattern using Gaussian basis decomposition
机译:
使用高斯基础分解的衍射图案高分辨率电子出口波重建
作者:
Konstantin B. Borisenko
;
Angus I. Kirkland
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
High resolution;
electron;
a diffraction;
50.
Compressed Sensing Electron tomography using adaptive dictionaries:a simulation study
机译:
使用自适应词典压缩传感电子断层扫描:模拟研究
作者:
A.AlAfeef
;
P.Cockshott
;
I.MacLaren
;
S.McVitie
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Compressed Sensing;
Electron;
tomography;
51.
An in-house developed annular bright field detection system
机译:
内部开发的环形明场检测系统
作者:
Leonardo Lari
;
Ian Wright
;
Daniel Pingstone
;
Jonathan Steward
;
Daniel Gilks
;
Vlado K Lazarov
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
An in-house;
developed annular;
bright field;
52.
Investigating the medium range order in amorphous Ta_2O_5 coatings
机译:
在无定形TA_2O_5涂层中调查中等范围顺序
作者:
Riccardo Bassiri
;
Martin Hart
;
Robert L. Byer
;
Konstantin B. Borisenko
;
Keith Evans
;
Martin M. Fejer
;
Angie C. Lin
;
Ian MacLaren
;
Ashot S. Markosyan
;
Iain W. Martin
;
Roger K. Route
;
Sheila Rowan
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Investigating;
the medium range order;
amorphous Ta_2O_5 coatings;
53.
Novel bilayer graphene structures produced by arc-discharge
机译:
通过电弧放电产生的新型双层石墨烯结构
作者:
Peter J.F. Harris
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Novel bilayer;
graphene structures;
produced;
54.
EELS from organic crystalline materials
机译:
来自有机结晶材料的鳗鱼
作者:
R Brydson
;
M D Eddleston
;
W Jones
;
C R Seabourne
;
N. Hondow
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
EELS;
organic crystalline;
materials;
55.
Aberration corrected environmental STEM (AC ESTEM) for dynamic in-situ gas reaction studies of nanoparticle catalysts
机译:
纳米颗粒催化剂的动态原位气体反应研究的畸变校正环境干(AC estem)
作者:
E D Boyes
;
P L Gai
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Aberration;
corrected environmental;
STEM (AC ESTEM);
56.
Correlated structure-optical properties studies of plasmonic nanoparticles
机译:
等离子体纳米粒子相关结构 - 光学性质研究
作者:
Emilie Ringe
;
Richard P. Van Duyne
;
Laurence D. Marks
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Correlated;
structure-optical;
properties studies;
57.
Towards sub-10 meV energy resolution STEM-EELS
机译:
朝向10MeV能量分辨率茎鳗
作者:
Ondrej L Krivanek
;
Tracy C Lovejoy
;
Matthew F Murfitt
;
Gwyn Skone
;
Philip E. Batson
;
Niklas Dellby
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Towards sub-10;
meV energy;
resolution;
STEM-EELS;
58.
Addressing Coulomb's singularity, nanoparticle recoil and Johnson's noise
机译:
解决库仑的奇点,纳米粒子反冲和约翰逊的噪音
作者:
Archie Howie
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Addressing;
Coulomb's singularity;
nanoparticle recoil;
59.
TEM observation of Pt/C electrode catalysts in a moisturized cathode atmosphere
机译:
Pt / C电极催化剂在保湿阴极大气中的TEM观察
作者:
K Yoshida
;
X Zhang
;
N Tanaka
;
E D Boyes
;
P L Gai
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
TEM observation;
Pt/C electrode catalysts;
a moisturized;
60.
In-situ Reduction of Co_3O_4 in H_2 using Environmental HRTEM
机译:
使用环境HRTEM的H_2中的CO_3O_4的原位减少
作者:
M R Ward
;
E D Boyes
;
P L Gai
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
In-situ Reduction;
Co_3O_4;
H_2 using;
61.
In-situ electrical and structural characterization of individual GaAs nanowires
机译:
单个GaAs纳米线的原位电气和结构表征
作者:
V T Fauske
;
D C Kim
;
A M Munshi
;
D L Dheeraj
;
B-O Fimland
;
H Weman
;
A T J van Helvoort
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
In-situ electrical;
structural characterization;
individual;
62.
Nanocharacterisation of precipitates in austenite high manganese steels with advanced techniques:HRSTEM and DualEELS mapping
机译:
具有先进技术的奥氏体高锰钢中沉淀物的纳米特征:SPRSEM和DULEELS映射
作者:
J. Bobynko
;
A.J. Craven
;
D. McGrouther
;
I. MacLaren
;
G. Paul
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Nanocharacterisation;
precipitates;
austenite high;
63.
TEM and HRTEM of Soot-in-oil particles and agglomerates from internal combustion engines
机译:
来自内燃机的煤液颗粒的TEM和HRTEM和来自内燃机的凝聚
作者:
M W Fay
;
A La Rocca
;
PJ Shayler
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
TEM;
HRTEM;
Soot-in-oil particles;
64.
Studying the interface between cyanobacteria and biotite mineral surfaces using FIB and TEM
机译:
使用FIB和TEM研究蓝藻和Biotite矿物表面的界面
作者:
M B Ward
;
A P Brown
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Studying;
the interface between;
cyanobacteria;
biotite;
65.
Quantitative electron tomography investigation of a TiO_2 based solar cell photoanode
机译:
基于TiO_2的太阳能电池光电仪的定量电子断层扫描研究
作者:
G Divitini
;
A Abrusci
;
F Di Fonzo
;
H Snaith
;
C Ducati
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Quantitative electron;
tomography investigation;
a TiO_2 based;
66.
Development of a high-efficiency DF-STEM detector
机译:
开发高效DF-阀杆探测器
作者:
T. Kaneko
;
A. Saitow
;
T. Fujino
;
E. Okunishi
;
H. Sawada
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Development;
a high-efficiency;
DF-STEM detector;
67.
The influence of emitter conditioning on the performance of a tungsten <111>cold field emission gun operating at 300kV
机译:
发射器调理对300kV运行的钨<111型冷场排放枪性能的影响
作者:
I M Ross
;
W Li
;
T Walther
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
The influence;
emitter conditioning;
the performance;
68.
In situ heating and tomography of gold nanoparticles on carbon structures
机译:
在碳结构上的金纳米粒子的原位加热和断层扫描
作者:
M W Fay
;
A La Torre
;
M Giménez-López
;
C Herreros Lucas
;
A N Khlobystov
;
P D Brown
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
situ heating;
tomography;
gold nanoparticles;
69.
Orientation dependence of shock induced dislocations in tantalum single crystals
机译:
患有钽单晶诱导脱位的取向依赖性
作者:
B Pang
;
I Jones
;
Y Chiu
;
J Millett
;
G Whiteman
;
N Bourne
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Orientation dependence;
shock induced;
dislocations;
70.
Measuring in vitro cellular uptake of nanoparticles by transmission electron microscopy
机译:
通过透射电子显微镜测量纳米颗粒的体外摄取
作者:
A P Brown
;
R M D Brydson
;
N S Hondow
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Measuring;
vitro cellular uptake;
nanoparticles;
71.
The energy spread of a LaB6 cathode operated in the virtual source mode
机译:
在虚拟源模式下操作的Lab6阴极的能量扩展
作者:
T Wells
;
M El-Gomati
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
The energy spread;
a LaB6 cathode;
operated;
72.
Application of Low Energy STEM with the In-lens Cold FE-SEM
机译:
低能量杆与镜片冷FE-SEM的应用
作者:
Y. Orai
;
T. Sunaoshi
;
S. Okada
;
T. Ogashiwa
;
H. Ito
;
M. Konno
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Application;
Low Energy;
STEM;
73.
In-situ Fe+ Ion Irradiation of an Oxide Dispersion Strengthened Steel
机译:
原位Fe +离子照射氧化物分散加强钢
作者:
V. de Castro
;
M. Briceno
;
M. L. Jenkins
;
M. Kirk
;
S. Lozano-Perez
;
S. G. Roberts
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
In-situ;
Fe+ Ion;
Irradiation;
Oxide Dispersion;
74.
The use of transmission electron microscopy in the quantification of nanoparticle dose
机译:
透射电子显微镜在纳米粒子剂量的定量中使用
作者:
N Hondow
;
R Brydson
;
A Brown
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
The use;
transmission electron;
microscopy;
75.
Structural investigation of precipitates with Cu and Zn atomic columns in Al-Mg-Si alloys by aberration-corrected HAADFSTEM
机译:
通过像校正哈拉施加型HAAD系统在Al-Mg-Si合金中用Cu和Zn原子柱沉淀物的结构研究
作者:
Takeshi Saito
;
Calin D. Marioara
;
Sigmund J. Andersen
;
Williams Lefebvre
;
Randi Holmestad
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Structural investigation;
precipitates with Cu;
Zn atomic columns;
76.
Simulating Neutron Radiation Damage of Graphite by In-situ Electron Irradiation
机译:
通过原位电子照射模拟石墨的中子辐射损伤
作者:
Brindusa E Mironov
;
H M Freeman
;
R M D Brydson
;
A V K Westwood
;
A J Scott
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Simulating Neutron;
Radiation Damage;
Graphite;
77.
A STEM study of twin defects in Fe3O4(111)/YZO(111)
机译:
Fe3O4(111)/ yzo双缺陷的干预(111)
作者:
D Gilks
;
L Lari
;
K Matsuzaki
;
R Evans
;
K McKenna
;
T Susaki
;
V K Lazarov
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
A STEM study;
twin defects;
Fe3O4(111)/YZO(111);
78.
In-situ environmental (scanning) transmission electron microscopy of catalysts at the atomic level
机译:
原子水平原位环境(扫描)透射电子显微镜催化剂
作者:
P L Gai
;
E D Boyes
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
In-situ environmental (scanning);
transmission electron microscopy;
catalysts;
79.
Nanocycles of Materials' Transport studied by in-situ Electron Microscopy and Diffraction
机译:
用原位电子显微镜和衍射研究的材料的纳米键
作者:
K Takayanagi
;
Y Oshima
;
S Lee
;
T Tanaka
;
Y Tanishiro
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Nanocycles;
Materials' Transport;
Electron Microscopy;
80.
Expunging Diffraction Contrast:EELS and HAADF in STEM
机译:
曝光衍射造影:鳗鱼鳗和哈德夫
作者:
L. M. Brown
会议名称:
《Electron Microscopy and Analysis Group Conference》
|
2014年
关键词:
Expunging Diffraction Contrast;
EELS;
HAADF;
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