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Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.
Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.
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1.
Impedance spectroscopy investigation on the low-temperature degradation of tetragonal zirconia: influence of measurement conditions
机译:
四方氧化锆低温降解的阻抗谱研究:测量条件的影响
作者:
A.P.Santos
;
R.Z.Domingues
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
2.
Nondestructive characterization of corrosion protective coatings on aluminum alloy substrates
机译:
铝合金基材上防腐涂层的非破坏性表征
作者:
J.Hoffmann
;
S.Sathish
;
M.Khobaib
;
N.Meyendorf
;
U.Netzelmann
;
T.E.Matkas
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
3.
Nondestructive damage evaluation of electro-mechanical components suing a hybrid, computational and experimental approach
机译:
使用混合,计算和实验方法评估机电组件的无损损伤
作者:
C.Furlong
;
R.J.Pryputniewicz
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
4.
Three-dimensional, nondestructive imaging of low density materials
机译:
低密度材料的三维无损成像
作者:
J.H.Kinney
;
D.L.Haupt
;
J.D.Lemay
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
5.
Characterization of hydrogen in concrete by cold enutron prompt gamma-ray activation analysis and enutron incoherent scattering
机译:
冷中子快速伽马射线活化分析和中子非相干散射表征混凝土中的氢
作者:
Rick L.Paul
;
H.Heather Chen-Mayer
;
Richard M.lindstron
;
Mennoblaauw
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
6.
Development of nondestructive method or prediction of crack inst ability
机译:
非破坏性方法的发展或裂纹插入能力的预测
作者:
J.L.Schroeder
;
D.Eylon
;
E.B.Shell
;
T.E.Matikas
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
7.
In-situ spectroscopic ellipsometry for the real time process control of plasma etching of silicon nitride
机译:
用于氮化硅等离子体刻蚀的实时过程控制的原位光谱椭圆偏振法
作者:
I.G.Rosen
;
T.Parent
;
B.Fidan
;
A.Madhukar
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
8.
Infrared evaluation of heat generation during the cyclic deformation of a cellular Al alloy
机译:
蜂窝状铝合金循环变形过程中发热的红外评估
作者:
A.Rabiei
;
J.W.Hutchinson
;
A.G.Evans
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
9.
Interfacial diffusion in a mocvd grown barium titanate film
机译:
Mocvd生长的钛酸钡薄膜中的界面扩散
作者:
A.Datta
;
Soma Chattopadhyay
;
AG.Richter
;
J.Kmetko
;
C.B.Lee
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
10.
IRS and ESR characterizations of nanocomposite thin films derived from alkanetholates and gold nanoparticles
机译:
烷基醇盐和金纳米颗粒衍生的纳米复合薄膜的IRS和ESR表征
作者:
W.X.Zheng
;
F.L.Leibowitz
;
M.M.Maye
;
D.C.Gilbert
;
D.C.Doetschman
;
C.J.Zhong
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
11.
In-situ observation of oxidization process at the most upper surfaces by x-ray surface propagation waves
机译:
X射线表面传播波在最上表面的氧化过程的原位观察
作者:
Toshihisa Horiucki
;
Kenji Ishida
;
Kazumi Matsushige
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
12.
High-frequency stroboscopic x-ray topography under surface acoustic wave excitation
机译:
声表面波激发下的高频频闪X射线形貌
作者:
E.Zolotoyabko
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
13.
In situ spectroscopic ellipsometry study of the oxide etching and surface damaging processes on silicon under hydrogen plasma
机译:
氢等离子体下原位光谱椭圆偏光法研究硅上的氧化物腐蚀和表面损伤过程
作者:
I.M.Vargas
;
J.Y.Manso
;
J.R.Guzman
;
B.RWeiner
;
G.Morell
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
14.
Nondestructive evaluation of fatigue in titanium alloys
机译:
钛合金疲劳的无损评估
作者:
H.Rosner
;
N.Meyendorf
;
S.Aathish
;
T.E.Matikas
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
15.
TShermal penetration times as a nondestructive measure of orientation in polyimide film
机译:
热渗透时间作为聚酰亚胺薄膜取向的无损测量
作者:
C.Chandler
;
N.E.Mathis
;
R.J.Samuels
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
16.
Optimization of x-ray techniques for nondestructive characterization of single crystal turbine blades
机译:
用于单晶涡轮叶片无损表征的X射线技术优化
作者:
J.M.Winter
;
K.G.Lipetzky
;
R.E.Geen
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
17.
Method and instrumentation for nondestructive characterization of surface area and pore size distribution of thin-fims in their deposited state
机译:
沉积状态下薄膜的表面积和孔径分布的无损表征方法和仪器
作者:
E.S.Boltz
;
Y.H.Spooner
;
S.G.Alanna
;
J.P.Abeyta
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
18.
Nonlinear ultrasonic parameter in precipitate-hardened steels
机译:
沉淀硬化钢中的非线性超声参数
作者:
D.C.Hurley
;
D.Balzar
;
P.T.Purtscher
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
19.
Quantitative measurement of local carrier concentration of semiconductor from displacement current-voltage curve using scanning vibrating tip
机译:
使用扫描振动尖端从位移电流-电压曲线定量测量半导体局部载流子浓度
作者:
Yutaka Majima
;
Yutaka Oyama
;
Mitsumasa Iwamoto
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
20.
Precise determination of thin metal film thickness with laser-induced acoustic grating technique
机译:
激光诱导声光栅技术精确测定金属薄膜厚度
作者:
A.A.Maznev
;
M.J.Banet
;
M.Gostein
;
R.B.Hanselman
;
M.a.Joffe
;
R.Sacco
;
K.A.Nelson
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
21.
Non-destructive evaluation of 304 stalinless steels using a scaaning hall-sensor microscope: visualization of strain-induced austenite-phase breakdown
机译:
扫描霍尔传感器显微镜对304不锈钢的无损评估:应变诱发奥氏体相破坏的可视化
作者:
A.Oota
;
K.Miyake
;
D.Suglyamam
;
H.Aoki
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
22.
Nondestructive measurement of in-olane residual stress in silicon strips
机译:
硅带平面内残余应力的无损测量
作者:
Tieyu Zheng
;
Steven Danyluk
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
23.
Non-destructive evaluation of mechanical properties of magnetic materials
机译:
磁性材料力学性能的无损评估
作者:
Kevin P.Kankolenski
;
Susan Z.Hua
;
David X.Yang
;
G.E.Hichio
;
L.J.Swartzendruber
;
Z.Zang
;
Harsh Deep Chopra
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
24.
Nondestructive characterization of GaN films grown at low and high temperatures
机译:
在低温和高温下生长的GaN薄膜的无损表征
作者:
C.H.Yan
;
H.W.Yao
;
J.M.Van Hove
;
A.M.Wowchak
;
P.P.Chow
;
J.Han
;
J.M.Zavada
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
25.
Non-destructive dielectridc assessment of water permeation in composite structures
机译:
复合结构渗水的无损介电评估
作者:
P.Boinard
;
E.Boinard
;
R.A.Pethrick
;
W.M.Banks
;
R.L.Crane
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
26.
X-ray microtomography of fatigue crack closure as a function of aalied load in Al-Li 2090 T8E41 samples
机译:
Al-Li 2090 T8E41样品中疲劳裂纹闭合的X射线显微照片与总载荷的关系
作者:
R.Morano
;
S.R.Stock
;
G.R.Davis
;
J.C.Elliott
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
27.
Characterization of Ni-and Ni(Pt)-silicide formation on narrow polycrystalline Si lines by raman spectroscopy
机译:
用拉曼光谱表征窄多晶Si线上的Ni和Ni(Pt)硅化物形成
作者:
P.S.Lee
;
D.Mangelinck
;
K.L.Pey
;
J.Ding
;
T.Osipowicz
;
C.S.Ho
;
G.L.Chen
;
L.Chan
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
28.
Characterization of nitrided silicon-silicon dioxide interfaces
机译:
氮化硅-二氧化硅界面的表征
作者:
M.L.Polignano
;
M.Alessandri
;
D.Brazzelli
;
B.Crivelli
;
G.Ghidini
;
RZonca
;
A.P.Caricato
;
M.Bersani
;
M.Sbetti
;
L.Vanzetti
;
G.C.Xing
;
G.E.Miner
;
N.Astici
;
S.Kuppurao
;
D.Lopes
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
29.
Dual band infrared thermography as a NDT tool for the characterization of the building materials and conservation performance in thistoric structures
机译:
双波段红外热成像技术作为无损检测工具,用于表征楼房结构中的建筑材料和保护性能
作者:
A.Moropoulou
;
N.P.Avdelidis
;
M.Koui
;
N.K.Kanellopoulos
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
30.
Characterization of copper surfaces using if electronic circuit boards by reflectance Ft_Ir
机译:
使用电子电路板通过反射率Ft_Ir表征铜表面
作者:
James M.sloan
;
Charles G.Pergantis
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
31.
Electrically based non-destructive microstructural characterization of all classes of materials
机译:
所有类型材料的基于电的无损微结构表征
作者:
Rosario A.Gerhardt
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
32.
Experimental simulation of contamination arising from electro rocket engne-jet on surface of spacecraft units
机译:
航天器单元表面电子火箭发动机喷气产生的污染的实验模拟
作者:
A.Chirov
;
A.Nadiradze
;
V.Shaposhnikov
;
V.Egorov
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
33.
Giant magnetoresistance imaging for NDE of conductive materials
机译:
导电材料无损检测的巨磁电阻成像
作者:
E.S.Boltz
;
S.G.Albanna
;
A.R.Stallings
;
Y.Y.Spooner
;
J.P.abeyta
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
34.
Image-guided failure assessment of porous materials
机译:
多孔材料的图像引导失效评估
作者:
M.Tantillo
;
R.Muller
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
35.
In-situ monitoring of mocvd of aluminum nitride by optical spectroscopies
机译:
用光谱法现场监测氮化铝的含量
作者:
S.C.Allen
;
H.H.Richardson
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
36.
Monitoring silicon quality from diffusion furnaces using in-line measurements
机译:
使用在线测量监控扩散炉的硅质量
作者:
Matt Stoker
;
kelvin Catmull
;
Greg Horner
;
Brian Letherer
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
37.
The role of structure-to-property-relationships in materials characterization
机译:
结构与属性的关系在材料表征中的作用
作者:
W.Morgner
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
38.
IR tomography of the lifftime and diffusion length of charge carriers in semiconductor silicon ingots
机译:
半导体硅锭中载流子的扩散时间和扩散时间的红外层析成像
作者:
V.D.Akhmetov
;
N.V.Fateev
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
39.
Microscopic techniques for characterization of magnetic layers
机译:
表征磁性层的微观技术
作者:
N.Meyendorf
;
I.Altpeter
;
U.Netzelmann
;
J.Hoffmann
;
W.Nichtl-Pecher
;
H.Grimm
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
|
1999年
40.
Quantitative contact spectroscopy and imaging by atomic-force acoustic microscopy
机译:
原子力声学显微镜定量接触光谱法和成像
作者:
W.Arnold
;
S.Amelio
;
S.Hirsekorn
;
U.Rabe
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
41.
Photoelastic imaging of process induced deffects in 300mm-silicon wafers
机译:
300毫米硅晶片中工艺引起的缺陷的光弹性成像
作者:
H.D.Geiler
;
W.Kurner
;
O.Storbeck
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
42.
Real-time optical characterization and control of heteroepitaxial Ga_xIn_(1-x)P growth by P-polarized reflectance
机译:
通过P偏振反射率实时光学表征和控制外延Ga_xIn_(1-x)P的生长
作者:
N.Dietz
;
K.Ito
;
I.Lauko
;
V.Woods
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
43.
Raman characterization of composition and strain in Si_(1-x)Ge_x/Si heterostructures
机译:
Si_(1-x)Ge_x / Si异质结构中成分和应变的拉曼表征
作者:
Ran Liu
;
B.Tillack
;
P.Zaumseil
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
44.
Small signal ac-surface photovoltage technique for non-contact monitoring of near surface doping and recombination-generation in the depletion layer
机译:
小信号交流表面光电压技术用于非接触监测耗尽层中的近表面掺杂和复合生成
作者:
D.Marinskiy
;
J.Lagowski
;
M.Wilson
;
A.Savtchouk
;
L.Jastrzebski
;
D.DeBusk
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
45.
Scanning acoustic microscopy and x-ray diffraction investigation of near crack tip stresses
机译:
扫描声显微镜和X射线衍射研究近裂纹尖端应力
作者:
S.Sathish
;
R.W.Martiin
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
46.
Real-time monitroring of acoustric linear and nonlinear behavior of titanium alloys during cyclic loading
机译:
钛合金在循环加载过程中的实时线性模拟和线性声学行为
作者:
J.Frouin
;
J.Maurer
;
S.Aathish
;
D.Eylon
;
J.K.Na
;
T.E.Matikas
会议名称:
《Symposium on Nondestructive Methods for Materials Characterization held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A.》
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1999年
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