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IEEE International Test Confeence
IEEE International Test Confeence
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1.
Is It Cost-Effective to Achieve Very High Fault Coverage for Testing Homogeneous SoCs with Core-Level Redundancy?
机译:
实现具有核心级冗余的均匀SoC的非常高的故障覆盖率是否具有成本效益?
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
2.
An Efficient Secure Scan Design for an SoC Embedding AES Core
机译:
用于SOC嵌入AES核心的高效安全扫描设计
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
3.
On the generation of test programs for chip multi-thread computer architectures
机译:
关于芯片多线程计算机架构的测试程序的生成
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
4.
Diagnosis of Logic-to-chain Bridging Faults
机译:
诊断逻辑转向桥接故障
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
5.
Computing at the Crossroads (And What Does it Mean to Verification and Test?)
机译:
在十字路口计算(验证和测试意味着什么?)
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
6.
IEEE P1581 drastically simplifies connectivity test for memory devices
机译:
IEEE P1581大大简化了内存设备的连接测试
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
7.
Managing Test in the End-to-End, Mega Supply Chain
机译:
在端到端管理测试,巨型供应链
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
8.
Analog #x00026; Mixed-Signal are Key for Test Development Engineering Program
机译:
模拟和混合信号是测试开发工程计划的关键
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
9.
Call for Papers 2009
机译:
致电2009
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
10.
A Low-Cost Programmable Memory BIST Design for Multiple Memory Instances
机译:
用于多个内存实例的低成本可编程内存BIST设计
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
11.
VLSI Test Exercise Courses for Students in EE Department
机译:
EE部门学生的VLSI测试练习课程
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
12.
The Importance of Functional-Like Access for Memory Test
机译:
内存测试的功能式访问的重要性
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
13.
Test-Access Solutions for Three-Dimensional SOCs
机译:
三维SoC的测试访问解决方案
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
14.
SoC Yield Improvement: Redundant Architectures to the Rescue?
机译:
SOC产量改进:救援的冗余架构?
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
15.
Capture and Shift Toggle Reduction (CASTR) ATPG to Minimize Peak Power Supply Noise
机译:
捕获和移位切换减少(CASTR)ATPG以最小化峰值电源噪声
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
16.
Functional test-bench refinement through automatic constraint extraction
机译:
通过自动约束提取功能的功能性测试
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
17.
Having FUN with Analog Test
机译:
玩模拟测试
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
18.
Will Test Compression Run Out Of Gas?
机译:
测试压缩耗尽气体吗?
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
19.
Copyright page
机译:
版权页面
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
20.
Some Burning Issues that Justify Power-Aware DFT
机译:
一些燃烧的问题,证明了动力感知DFT
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
21.
International Test Conference 2008 Technical Program Committee
机译:
2008年国际测试会议技术计划委员会
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
22.
The University DFT Tool Showdown - Introduction
机译:
大学DFT工具摊牌 - 介绍
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
23.
Analog Test Technology: Stable and Grounded, or Open Loop and Spurious?
机译:
模拟测试技术:稳定和接地,或开环和虚假?
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
24.
SOC Test Optimization with Compression-Technique Selection
机译:
具有压缩技术选择的SOC测试优化
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
25.
Yield Learning: Everybody Gains, But Who Picks up the Tab?
机译:
产量学习:每个人都收益,但拿起标签?
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
26.
High Test Quality in Low Pin Count Applications
机译:
低针计数应用中的高测试质量
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
27.
Proceedings International Test Conference 2008
机译:
1988年法律程序国际测试大会
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
28.
Debug War Stories
机译:
调试战争故事
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
29.
Power-Aware DFT - Do Not Risk It, Use It
机译:
动力感知DFT - 不冒风险,使用它
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
30.
ITC 2007 Paper Awards
机译:
ITC 2007纸奖
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
31.
Analog Test Technology: Stable and Grounded, or Open Loop and Spurious
机译:
模拟测试技术:稳定和接地,或开环和虚假
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
32.
Overview of OpenSPARC??
机译:
OpenSPARC概述?
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
33.
Overview of a High Speed Top Side Socket Solution
机译:
高速顶侧插座解决方案概述
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
34.
System JTAG Initiative Group Advancements
机译:
系统JTAG主动组进步
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
35.
Benchmarking Academic DFT Tools on the OpenSparc Microprocessor
机译:
在OpenSPARC微处理器上基准测试学术DFT工具
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
36.
Covers
机译:
盖子
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
37.
Welcome Message
机译:
欢迎信息
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
38.
FPGA Time Measurement Module: Preliminary Results
机译:
FPGA时间测量模块:初步结果
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
39.
Parametric Testing of Optical Interfaces
机译:
光学接口的参数测试
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
40.
ITC Technical Paper Evaluation and Selection Process
机译:
ITC技术纸张评估和选择过程
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
41.
Test Quality Improvement with Timing-aware ATPG: Screening small delay defect case study
机译:
用时序感知ATPG测试质量改进:筛选小延迟缺陷案例研究
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
42.
Platform Independent Test Access Port Architecture
机译:
平台独立测试访问端口架构
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
43.
ITC 2008 Most Significant Paper Award
机译:
ITC 2008最重要的论文奖
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
44.
Analog Test Technology: Challenges Abound
机译:
模拟测试技术:挑战比比皆是
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
45.
Diagnosis of Mask-Effect Multiple Timing Faults in Scan Chains
机译:
屏蔽效应扫描链中的多个定时故障的诊断
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
46.
Improving the Accuracy of Test Compaction through Adaptive Test Update
机译:
通过自适应测试更新提高测试压缩的准确性
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
47.
Power Distribution Failure Analysis Using Transition-Delay Fault Patterns
机译:
使用过渡延迟故障模式分配故障分析
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
48.
Low Power Test
机译:
低功率测试
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
49.
Power-Aware DFT - Do we really need it?
机译:
动力感知DFT - 我们真的需要吗?
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
关键词:
IR drop;
Power aware;
capture power;
functional mode;
scan-test mode;
shift power;
voltage droop;
50.
Will Test Compression Run Out of Gas?
机译:
测试压缩耗尽气体吗?
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
51.
Challenges in Scaling Software-Based Self-Testing to Multithreaded Chip Multiprocessors
机译:
将基于软件的自我测试缩放到多线程芯片多处理器的挑战
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
52.
A Cost Analysis Framework for Multi-core Systems with Spares
机译:
具有备件的多核系统成本分析框架
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
53.
An Automatic Post Silicon Clock Tuning System for Improving System Performance based on Tester Measurements
机译:
一种自动硅时钟调谐系统,可根据基于测试仪测量改进系统性能
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
54.
The Advantages of Limiting P1687 to a Restricted Subset
机译:
将P1687限制为受限制子集的优点
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
55.
Scan Based Testing of Dual/Multi Core Processors for Small Delay Defects
机译:
基于扫描基于Dual / Multi核心处理器的测试,用于小延迟缺陷
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
56.
A Method to Generate a Very Low Distortion, High Frequency Sine Waveform Using an AWG
机译:
一种使用AWG产生非常低的失真的方法,高频正弦波形
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
57.
Linearity Test Time Reduction for Analog-to-Digital Converters Using the Kalman Filter with Experimental Parameter Estimation
机译:
使用Kalman滤波器具有实验参数估计的模数转换器的线性测试时间减少
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
58.
Statistical Yield Modeling for Sub-wavelength Lithography
机译:
子波长光刻的统计产量建模
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
59.
The Economics of Harm Prevention through Design for Testability
机译:
通过设计设计造成伤害的经济性
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
60.
Augmenting Boundary-Scan Tests for Enhanced Defect Coverage
机译:
增强缺陷覆盖率的增强边界扫描测试
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
61.
Embedded Power Delivery Decoupling in Small Form Factor Test Sockets
机译:
嵌入式电力传递在小型系数测试插座中解耦
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
62.
Failing Frequency Signature Analysis
机译:
频率签名分析失败
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
63.
Low cost testing of multi-GBit device pins with ATE assisted loopback instrument
机译:
具有ATE辅助环回仪器的多Gbit器件引脚的低成本测试
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
64.
Observations of Supply-Voltage-Noise Dispersion in Sub-nsec
机译:
亚NSEC中供给噪声分散的观察
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
65.
Boundary-Scan Testing of Power/Ground Pins
机译:
电力/接地引脚的边界扫描测试
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
66.
RTL Error Diagnosis Using a Word-Level SAT-Solver
机译:
使用Word级SAT-Solver诊断RTL错误诊断
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
67.
Steering Committee and Subcommittees
机译:
指导委员会和小组委员会
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
68.
We Need Faster #x00026; Deeper Scan and More Realistic Tests
机译:
我们需要更快,更深的扫描和更现实的测试
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
69.
The Limits of Compression
机译:
压缩的限制
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
关键词:
Scan compression;
combinational / sequential compression;
compression bounds;
design for compression;
entropy;
70.
Finding Power/Ground Defects on Connectors - Case Study
机译:
在连接器上找到电源/地面缺陷 - 案例研究
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
71.
Solder Bead on High Density Interconnect Printed Circuit Board
机译:
高密度互连印刷电路板上的焊料珠子
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
72.
Jitter and Signal Integrity Verification for Synchronous and Asynchronous I/Os at Multiple to 10 GHz/Gbps
机译:
多个到10 GHz / Gbps的同步和异步I / O的抖动和信号完整性验证
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
73.
2008 Technical Paper Reviewers
机译:
2008年技术纸质评论者
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
74.
Jitters in high performance microprocessors
机译:
高性能微处理器中的乱码
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
75.
Embedded Testing in an In-Circuit Test Environment
机译:
在线测试环境中嵌入式测试
会议名称:
《IEEE International Test Confeence》
|
2008年
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