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European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems
European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems
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1.
Recent studies of single-event phenomena in devices using the heavy-ion microbeam at JAERI
机译:
在JAERI中使用重离子微磁带的装置中单事件现象的最新研究
作者:
T. Hirao
;
J. S. Laird
;
H. Mori
;
S. Onoda
;
H. Itoh
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
关键词:
SEU;
Heavy-ion micro-beam;
Transient current;
Collected charge;
p{sub}n junction diode;
Transient-IBIC;
2.
Effects of high-temperature gamma ray and electron irradiation on npn Si transistors
机译:
高温伽马射线和电子照射对NPN SI晶体管的影响
作者:
H. Ohyama
;
T. Hirao
;
E. Simoen
;
C. Claeys
;
K. Kobayashi
;
M. Nakabayashi
;
S. Onoda
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
关键词:
MOSFETs;
Protons;
Radiation effects;
Radiation hardening;
3.
SEU measurements and predictions on MPTB for a large energetic solar particle event
机译:
SEU对MPTB进行大量高能太阳能粒子事件的测量和预测
作者:
Art Campbell
;
Steve Buchner
;
Ed Petersen
;
Bernie Blake
;
Joe Mazur
;
Clive Dyer
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
4.
Observation of changes in the single event upset rate in 4MB SRAM due to intervening materials in a neutron environment
机译:
在中子环境中介入材料导致的4MB SRAM中单事件镦粗率变化的观察
作者:
R. Wilkins
;
H. Huff
;
Gautam D. Badhwar
;
J. Moore
;
J. Zhou
;
Robert C. Singleterry Jr.
;
S. A. Wender
;
T. N. Fogarty
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
5.
Design and characterization of a radiation tolerant optical transmitter using discrete COTS bipolar transistors and VCSELs
机译:
使用离散的COT双极晶体管和VCSELs的辐射容耐光发射机的设计与表征
作者:
F. Berghmans
;
K. Embrechts
;
M. Van Uffelen
;
S. Coenen
;
M. Decreton
;
J. Van Gorp
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
关键词:
Bipolar transistor circuits;
Gamma rays;
Optical fiber communication;
Radiation effects;
Surface-emitting lasers;
6.
Single-event testing using heavy ion irradiation through thick layers of material
机译:
通过厚层使用重离子照射的单一事件测试
作者:
Gary M. Swift
;
Douglas G. Millward
;
Henry L. Clark
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
7.
Reliability of gas filled surge arresters characteristics under the influence of induced and built-in radiation
机译:
气体填充浪涌避雷器的可靠性在诱导和内置辐射的影响下的特征
作者:
B. Loncar
;
P. Osmokrovic
;
S. J. Stankovic
;
M. Stojanovic
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
8.
MOSFET prediction in space environments taking into account high frequency switched bias response
机译:
考虑到高频切换偏压响应的空间环境中的MOSFET预测
作者:
Ivan N. Shvetzov-Shilovsky
;
Viacheslav S. Pershenkov
;
Vladimir V. Belyakov
;
Guennady I. Zebrev
;
Arkady Y. Bashin
;
Dmitry V. Ivashin
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
9.
60 MeV proton irradiation effects on NO-annealed and standard-oxide deep submicron MOSFETs
机译:
无退火和标准氧化物深亚微米MOSFET的60 mev质子辐射效应
作者:
Eddy Simoen
;
Jan Hermans
;
Abdelkarim Mercha
;
Wim Vereecken
;
Carl Vermoere
;
Cor Claeys
;
Emmanuel Augendre
;
Goncal Badenes
;
Ali Mohammadzadeh
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
关键词:
MOSFETs;
Protons;
Radiation effects;
Radiation hardening;
10.
Evaluation of a design methodology dedicated to dose rate hardened linear integrated circuits
机译:
评估专用于剂量率硬化线性集成电路的设计方法
作者:
Y. Deval
;
H. Lapuyade
;
P. Fouillat
;
H. Barnaby
;
F. Darracq
;
R. Briand
;
D. Lewis
;
R. D. Schrimpf
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
11.
Effects of previous ionizing radiation exposure on programming EPROMS
机译:
先前电离辐射暴露对编程EPROM的影响
作者:
Peter J. McNulty
;
Sushan Yow
;
Leif Z. Scheick
;
Geraldine Polge
;
Laurent. Dusseau
;
Michael G. Davis
;
Michelle Tortora
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
12.
Single event burnout in DC-DC converters for the LHC experiments
机译:
LHC实验的DC-DC转换器中的单一事件烧坏
作者:
C. Rivetta
;
B. Allongue
;
G. Berger
;
F. Faccio
;
W. Hajdas
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
13.
Single-event sensitivity of a single SRAM cell
机译:
单个SRAM单元的单事件敏感性
作者:
F. Darracq
;
T. Beauchene
;
V. Pouget
;
H. Lapuyade
;
D. Lewis
;
P. Fouillat
;
A. Touboul
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
14.
Dose and dose rate effects on NPN bipolar junction transistors irradiated at high temperature
机译:
高温照射NPN双极结晶体管的剂量和剂量率效应
作者:
J. Boch
;
F. Saigne
;
T. Maurel
;
F. Giustino
;
L. Dusseau
;
R. D. Schrimpf
;
K. F. Galloway
;
I. P. David
;
R. Ecoffet
;
J. Fesquet
;
J. Gasiot
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
15.
Kinetic models and spectral dependencies of the radiation induced attenuation in pure silica fibres
机译:
纯二氧化硅纤维中辐射诱导衰减的动力学模型和光谱依赖性
作者:
P. Borgermans
;
B. Brichard
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
关键词:
Optical fibres;
Radiation effects;
Silica;
Kinetic models;
Spectral dependencies;
16.
Two-parameter model calculations of the proton and pion-induced SEU cross sections
机译:
质子的两参数模型计算和π诱导的SEU横截面
作者:
M. G. Tverskoy
;
Sophie Duzellier
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
17.
Observation and analysis of single event effects on-board the SOHO satellite
机译:
船上卫星在板上的单一事件效应的观察与分析
作者:
R. Harboe-Sorensen
;
E. Daly
;
F. Teston
;
H. Schweitzer
;
R. Nartallo
;
P. Perol
;
F. Vandenbussche
;
H. Dzitko
;
J. Cretolle
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
18.
Implications of advanced microelectronics technologies for heavy ion single event effect (SEE) testing
机译:
高级微电子技术对重离子单事件效果的影响(参见)测试
作者:
Christian Poivey
;
Janet A. Barth
;
Robert Reed
;
Kenneth A. LaBel
;
Michael Xapsos
;
Epaminondas G. Stassinopoulos
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
19.
Towards a single event transient hardness assurance methodology
机译:
迈向单一事件瞬态硬度保证方法
作者:
Ronan Marec
;
Christian Chatry
;
Philippe Adell
;
Olivier Mion
;
Catherine Barillot
;
Philippe Calvel
;
Laetitia Cresciucci
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
20.
Ion beam testing of SRAM-based FPGA's
机译:
基于SRAM的FPGA的离子束测试
作者:
M. Bellato
;
M. Ceschia
;
M. Menichelli
;
A. Papi
;
J. Wyss
;
A. Paccagnella
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
21.
Novel results on fluence dependence and annealing behavior of oxygenated and non-oxygenated silicon detectors
机译:
氧化和非含氧硅探测器的流量依赖性和退火行为的新颖结果
作者:
C. Martinez
;
J. M. Rafi
;
M. Lozano
;
F. Campabadal
;
J. Santander
;
L. Fonseca
;
M. Ullan
;
A. Moreno
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
关键词:
Annealing;
Oxygenation;
Proton irradiation;
Silicon detectors;
22.
On the use of VHDL simulation and emulation to derive error rates
机译:
关于VHDL仿真和仿真的使用来推导错误率
作者:
F. Lima
;
S. Rezgui
;
L. Carro
;
R. Velazco
;
R. Reis
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
关键词:
Fault injection;
Microprocessor;
Field programmable gate arrays;
23.
Characterization of An integrated sensor using optically stimulated luminescence for in-flight dosimetry
机译:
使用光学刺激的飞行中的荧光发光的集成传感器的表征
作者:
D. Plattard
;
G. Ranchoux
;
L. Dusseau
;
G. Polge
;
J. -R. Vaille
;
J. Gasiot
;
J. Fesquet
;
R. Ecoffet
;
N. Iborra-Brassart
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
24.
Injecting single event upsets in a digital signal processor by means of direct memory access requests: a new method for generating bit flips
机译:
通过直接内存访问请求注入数字信号处理器中的单个事件upsets:一种生成位翻转的新方法
作者:
Pablo A. Ferreyra
;
Carlos A. Marques
;
Raoul Velazco
;
Oscar Calvo
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
关键词:
Single event upsets;
SEU injection;
SEU test;
SEU tolerance;
25.
Comparison of the sensitivity to heavy ions of 0.25μm bulk and SOI technologies
机译:
对0.25μm批量和SOI技术的敏感性的比较
作者:
G. Gasiot
;
V. Ferlet-Cavrois
;
P. Roche
;
P. Flatresse
;
C. DHose
;
O. Musseau
;
J. du Port de Poncharrra
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
26.
A new approach to measuring the sensitive volume using a pulsed laser system
机译:
一种使用脉冲激光系统测量敏感卷的新方法
作者:
Jones R.
;
Chugg A.M.
;
Jones P.
;
Harboe-Sorensen R.
;
Fitzgerald R.
;
Allison R.
;
OShea T.
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
关键词:
SRAM chips;
radiation hardening (electronics);
laser beam effects;
integrated circuit testing;
sensitive volume measurement;
pulsed laser system;
memory devices;
laser pulsing;
charge collection depth;
sensitivity profile;
memory cell;
ionisation tra;
27.
Proton radiation hardening of silicon oxynitride gate nMOSFETs formed by nitrogen implantation into silicon prior to oxidation
机译:
通过氮气植入氧化成氧化成硅的氮氧化硅栅极Nmosfet的质子辐射硬化
作者:
Jose A. Diniz
;
Jose Godoy Fo
;
Maria B. P. Zakia
;
Ioshiaki Doi
;
Jacobus W. Swart
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
28.
Radiation-induced absorption in optical fibers in the near-infrared region: the effect of H{sub}2- and D{sub}2-loading
机译:
近红外区域中光纤中的辐射诱导的吸收:H {Sub} 2-和D {Sub} 2-Loading的效果
作者:
M. O. Zabezhailov
;
A. L. Tomashuk
;
I. V. Nikolin
;
K. M. Golant
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
29.
Coping with SEUs/SETs in microprocessors by means of low-cost solutions: a comparison study
机译:
通过低成本解决方案应对微处理器中的SEU / SET:比较研究
作者:
M. Rebaudengo
;
M. Sonza Reorda
;
M. Violante
;
B. Nicolescu
;
R. Velazco
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
30.
Single-chip pressure sensor radiation hardness research
机译:
单芯片压力传感器辐射硬度研究
作者:
A. S. Artamonov
;
D. V. Boychenko
;
A. Y. Nikiforov
;
A. V. Sogoyan
;
N. A. Shelepin
;
V. A. Telets
;
M. G. Tverskoy
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
31.
The role of fluorine-doped cladding in radiation-induced absorption of silica optical fibers
机译:
氟掺杂包层在辐射诱导的二氧化硅光纤吸收中的作用
作者:
M. O. Zabezhailov
;
A. L. Tomashuk
;
I. V. Nikolin
;
K. M. Golant
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
32.
Effect of amplifier parameters on single-event transients in an inverting operational amplifier
机译:
放大器参数对反相运算放大器中单事件瞬态的影响
作者:
A. L. Sternberg
;
L. W. Massengill
;
R. D. Schrimpf
;
Y. Boulghassoul
;
H. J. Barnaby
;
S. Buchner
;
R. L. Pease
;
J. W. Howard
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
33.
Charge collection studies of SOI diodes
机译:
SOI二极管的收费研究
作者:
T. Colladant
;
V. Ferlet-Cavrois
;
O. Musseau
;
A. LHoir
;
A. B. Campbell
;
S. Buchner
;
A. Knudson
;
D. McMorrow
;
B. Fischer
;
M. Schlogl
;
D. Lewis
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
34.
Characterization of power transistors and low voltage logic circuits at high dose and temperature
机译:
高剂量和温度下功率晶体管和低压逻辑电路的表征
作者:
J. -P. Le Gac
;
A. Giraud
;
B. Brichard
;
C. Brisset
;
C. Picard
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
35.
Transient noise in a CCD camera sensor induced by neutron and gamma irradiation
机译:
由中子和伽马辐射引起的CCD摄像机传感器中的瞬态噪声
作者:
J. Baggio
;
C. DHose
;
M. Martinez
;
O. Musseau
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
36.
Memory irradiation measurements for the European SMART-1 spacecraft
机译:
欧洲智能1宇宙飞船的记忆辐照测量
作者:
D. Novak
;
A. Kerek
;
L. -O. Norlin
;
G. Dajko
;
A. Fenyvesi
;
J. Molnar
;
G. Szekely
;
L. Granholm
;
S. Wallin
;
A. Matilainen
;
A. Virtanen
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
37.
Radiation environment measurements with SPICA on-board the MIR station
机译:
辐射环境与马赛卡卡在MIR站上测量
作者:
S. Barde
;
J. Cueto
;
R. Ecoffet
;
D. Falguere
;
T. Nuns
;
S. Duzellier
;
D. Boscher
;
S. Bourdarie
;
I. Tsourilo
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
38.
TH7890M TH7891M image sensors for star trackers
机译:
TH7890M&TH7891M星形跟踪器的图像传感器
作者:
Florian Julien
;
Joel Vaillant
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
39.
Energy dependence of proton damage in optical emitters
机译:
质子损伤在光发射器中的能量依赖性
作者:
A. H. Johnston
;
T. F. Miyahira
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
40.
Spectral response of gamma and electron irradiated pin photodiode
机译:
伽马和电子辐照销光电二极管的光谱响应
作者:
S. Onoda
;
T. Hirao
;
J. S. Laird
;
H. Mori
;
T. Okamoto
;
Y. Koizumi
;
H. Itoh
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
关键词:
Pin photodiode;
Optical spectral response;
Non-ionizing energy loss (NIEL);
Equivalent displacement damage dose;
Minority carrier diffusion length;
41.
N new approach to measuring the sensitive volume using a pulsed laser system
机译:
n使用脉冲激光系统测量敏感卷的新方法
作者:
R. Jones
;
A. M. Chugg
;
P. Jones
;
R. Harboe-Sorensen
;
R. Fitzgerald
;
R. Allison
;
T. OShea
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
42.
Characterization of the parasitic bipolar amplification in SOI technologies submitted to transient irradiation
机译:
SOI技术中寄生双极扩增的表征,提交给瞬态照射
作者:
V. Ferlet-Cavrois
;
C. Marcandella
;
G. Giraud
;
G. Gasiot
;
T. Colladant
;
O. Musseau
;
C. Fenouillet
;
J. du Port de Poncharra
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
43.
A comparison of experiment and simulation of light particle production in silicon by 74 MeV neutrons
机译:
74 MeV中子硅光颗粒生产实验与仿真的比较
作者:
Dezso Novak
;
A. Kerek
;
W. Klamra
;
J. Molnar
;
J. van der Marel
;
L. -O. Norlin
;
J. Nyberg
;
P. -U. Renberg
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
44.
Defects produced by medium energy proton bombardment of MOS devices
机译:
MIDE能源轰炸MOS器件产生的缺陷
作者:
P. M. Lenahan
;
T. D. Mishima
;
J. B. Jumper
;
T. N. Fogarty
;
M. Marrero
;
L. Cruz
;
S. Shojah-Ardalan
;
R. Dwivedi
;
R. Wilkins
;
L. P. Trombetta
;
C. Singh
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
45.
Analysis of the proton induced permanent degradation in an optocoupler
机译:
优化光耦合器中的质子诱导的永久性降解分析
作者:
R. Germanicus
;
L. Dusseau
;
F. Saigne
;
S. Barde
;
R. Ecoffet
;
O. Mion
;
P. Calvel
;
J. Fesquet
;
J. Gasiot
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
46.
Single-event transient (SET) characterization of a LM119 voltage comparator: an approach to SET model validation using a pulsed laser
机译:
LM119电压比较器的单事件瞬态(SET)表征:使用脉冲激光器设定模型验证的方法
作者:
S. Buchner
;
D. McMorrow
;
A. Sternberg
;
L. Massengill
;
R. L. Pease
;
M. Maher
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
47.
In situ measurement of the particle linear energy transfer using the sensitive junctions of the device under test
机译:
原位测量粒子线性能量传递使用静电设备的敏感结
作者:
Robert A. Reed
;
David R. Roth
;
Ray Ladbury
;
Scott Kniffin
;
Ken LaBel
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
48.
Electronic circuit analogue model for CMOS devices
机译:
CMOS器件的电子电路模拟模型
作者:
L. Varga
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
49.
Contribution of GEANT4 to the determination of sensitive volumes in case of high-integrated RAMs
机译:
GEANT4对高集成RAM的情况下的敏感卷的贡献
作者:
C. Inguimbert
;
S. Duzellier
;
R. Ecoffet
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
50.
Characterization of a 63 MeV proton beam with optically stimulated luminescent films
机译:
具有光学刺激发光薄膜的63meV质子梁的表征
作者:
G. Polge L. Dusseau
;
K. Idri
;
D. Plattard
;
J. R. Vaille
;
G. Ranchoux
;
J. Fesquet
;
J. Gasiot
;
N. Iborra-Brassard
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
51.
Effects of single-event upsets on satellite communications: issues for blind equalizer design
机译:
单事件upsets对卫星通信的影响:盲均衡器设计问题
作者:
J. B. Destro-Filho
;
David W. Matolak
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
52.
'Test conditions for COTS CMOS PEMs in total dose environments'
机译:
“总剂量环境中的COTS CMOS PEM的测试条件”
作者:
Stuart Dowling
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
53.
Radiation hardening of pure silica optical fibres by high pressure hydrogen treatment
机译:
高压氢处理纯二氧化硅光纤的辐射硬化
作者:
H. Henschel
;
O. Kohn
;
U. Weinand
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
54.
Gamma-ray irradiation and post-irradiation responses of high dose range RADFETs
机译:
γ射线照射和高剂量范围radfet的辐照反应
作者:
A. Jaksic
;
G. Ristic
;
M. Pejovic
;
A. Mohammadzadeh
;
C. Sudre
;
W. Lane
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
55.
Direct measurement of internal charging currents in geostationary transfer orbit
机译:
地球静止转移轨道中内部充电电流的直接测量
作者:
K. A. Ryden
;
D. J. Rodgers
;
P. A. Morris
;
A. D. Frydland
;
H. S. Jolly
;
C. S. Dyer
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
56.
Characterization of low voltage SRAM response to gamma radiation
机译:
低电压SRAM响应对伽马辐射的表征
作者:
A. Giraud
;
J. P. Le Gac
;
J. M. Armani
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
57.
Radiation effects on high performance spaceborne electronics
机译:
高性能星载电子产品的辐射效应
作者:
Richard W. Berger
;
Ron Brown
;
Scott Doyle
;
Nadim Haddad
;
Paul Kapcio
;
John Rodgers
;
Neil Wood
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
58.
The effect of low energy protons on the operational characteristics of EPIC-MOS CCDs
机译:
低能量质子对史型MOS CCD的运行特性的影响
作者:
A. F. Abbey
;
R. M. Ambrosi
;
D. R. Smith
;
E. Kendziorra
;
I. Hutchinson
;
A. Short
;
P. Bennie
;
A. Holland
;
T. Clauss
;
M. Kuster
;
W. Rochow
;
M. Brandt
;
M. J. L. Turner
;
A. Wells
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
关键词:
Charge-coupled device;
Metal oxide semiconductor;
Proton damage;
Charge transfer inefficiency;
59.
Numerical study of a gg-nMOS protection transistor under ionizing radiation and electrostatic discharge
机译:
电离辐射下GG-NMOS保护晶体管的数值研究和静电放电
作者:
Ph. Galy
;
V. Berland
;
A. Guilhaume
;
B. Foucher
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
60.
Design and validation testing of the SEE-hardened IS1825 ASRH pulse width modulator
机译:
See-Hardened IS1825 ASRH脉冲宽度调制器的设计和验证测试
作者:
Nicolaas W. Van Vonno
;
Warren H. Newman
;
Alan P. Williams
;
Thomas G. Marshall
;
Eric N. Cartagena
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
61.
Analysis of total dose tolerance of LOCOS isolated MOSFET by 2D self consistent simulations
机译:
2D自一致性模拟分析Locos隔离MOSFET的总剂量容差
作者:
A. Torres
;
O. Flament
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
62.
Estimation of ion- and proton-induced SEU rate by two values of saturation cross sections
机译:
通过两个饱和横截面值估计离子和质子诱导的SEU率
作者:
A. I. Chumakov
;
M. G. Tverskoy
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
63.
Heavy ion induced hard errors in memory devices with sub-micron feature sizes
机译:
重离子在具有子微米特征尺寸的存储器件中引起的硬误差
作者:
R. Koga
;
S. Crain
;
K. Crawford
;
P. Yu
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
64.
Radiation characterization and test methodology study of optocouplers devices for space applications
机译:
用于空间应用的光耦合器装置的辐射特征及测试方法研究
作者:
R. Mangeret
;
L. Bonora
;
T. Bouchet
;
D. Peyre
;
R. Harboe-Sorensen
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
65.
A new radiation hard optical fibre for high dose values
机译:
用于高剂量值的新辐射硬光纤
作者:
H. Henschel
;
O. Kohn
;
U. Weinand
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
66.
A fault injection analysis of Virtex FPGA TMR design methodology
机译:
Virtex FPGA TMR设计方法的故障注射分析
作者:
F. Lima
;
C. Carmichael
;
J. Fabula
;
R. Padovani
;
R. Reis
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
关键词:
Field programmable gate arrays;
Virtex;
Fault injection;
Triple modular redundancy;
67.
Temperature dependence of heavy ion induced current transients in Si epilayer devices
机译:
重离子诱导电流瞬变在SI脱锁装置中的温度依赖性
作者:
J. S. Laird
;
T. Hirao
;
S. Onoda
;
H. Mori
;
H. Itoh
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
关键词:
TCAD;
SEP;
Transient-IBIC;
Transient current;
MeV heavy-ion micro-beam;
TCAD simulation;
68.
Heavy ion characterization of SEU mitigation methods for the Virtex FPGA
机译:
SEU缓解方法的重型离子特征Firtex FPGA
作者:
F. Sturesson
;
S. Mattsson
;
C. Carmichael
;
R. Harboe-Sorensen
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
关键词:
FPGA;
Radiation;
Xilinx;
Virtex;
Single event upset;
Mitigation;
69.
Silicon carbide radiation detector for harsh environments
机译:
用于恶劣环境的碳化硅辐射探测器
作者:
S. Metzger
;
H. Henschel
;
O. Kohn
;
W. Lennartz
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
70.
Embedding techniques for irradiation-induced defects in crystalline SiO{sub}2
机译:
嵌入辐照诱导的晶体SiO {sub} 2的缺陷技术
作者:
Arthur H. Edwards
;
Peter V. Sushko
;
Alexander L. Shluger
;
Vladimir B. Sulimov
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
71.
Total-dose tolerance of the commercial American microsystems Inc. (AMI) 0.35-μm CMOS process
机译:
商业美国MicroSystems Inc.(AMI)的总剂量容忍0.35-μmCMOS工艺
作者:
R. C. Lacoe
;
J. V. Osborn
;
D. C. Mayer
;
S. Brown
;
J. Gambles
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
72.
Nuclear models for proton induced upsets: a critical comparison
机译:
质子诱导upsets的核模型:批判性比较
作者:
A. Akkerman
;
J. Barak
;
Y. Lifshitz
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
73.
High energy ion irradiation effects on thin oxide p-channel MOSFETs
机译:
薄氧化物P沟道MOSFET的高能离子辐照效应
作者:
A. Candelori
;
D. Contarato
;
N. Bacchetta
;
D. Bisello
;
G. Hall
;
E. Noah
;
J. Wyss
;
M. Raymond
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
74.
Software dependability techniques validated via fault injection experiments
机译:
通过故障注射实验验证的软件可靠性技术
作者:
A. Benso
;
S. Di Carlo
;
G. Di Natale
;
P. Prinetto
;
L. Tagliaferri
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
75.
Total dose effects on ATLAS-SCT front-end electronics
机译:
ATLAS-SCT前端电子产品的总剂量效应
作者:
Miguel Ullan
;
David Dorfan
;
Tim Dubbs
;
Alexander A. Grillo
;
Edwin Spencer
;
Abraham Seiden
;
Helmuth Spieler
;
Murdock Gilchriese
;
Manuel Lozano
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
关键词:
Bipolar integrated circuits;
Bipolar transistors;
Radiation detectors;
Radiation effects;
76.
A CCD miniature radiation monitor
机译:
CCD微型辐射监测器
作者:
A. M. Chugg
;
R. Jones
;
J. Jones
;
P. Nieminen
;
A. Mohammadzadeh
;
M. S. Robbins
;
K. Lovell
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
77.
Improving an SEU hard design using a pulsed laser
机译:
使用脉冲激光改善SEU硬设计
作者:
J. M. Dutertre
;
F. M. Roche
;
P. Fouillat
;
D. Lewis
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
78.
Radiation effects on commercial CCDs
机译:
商业CCD的辐射效应
作者:
T. Nuns
;
J. -P. David
;
J. -G. Loquet
;
F. Gardillou
;
M. Lescure
;
S. Barde
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
79.
Charge-collection dynamics of InP-based high electron mobility transistors (HEMTs)
机译:
基于INP的高电子移动晶体管(HEMTS)的充电收集动态
作者:
Dale McMorrow
;
J. Brad Boos
;
Doe Park
;
Stephen Buchner
;
Alvin R. Knudson
;
Joseph S. Melinger
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
80.
The influence of dose rate on total dose radiation effects on MOSFETs
机译:
剂量率对MOSFET的总剂量辐射效应的影响
作者:
R. E. Sharp
;
S. L. Pater
会议名称:
《European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems》
|
2002年
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