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$Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.$

Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.

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1.Effects of a measurement floor on Mueller matrix measurements in a DRR BSDF system

机译：DRR BSDF系统中测量平台对Mueller矩阵测量的影响
- 作者：Stephen E. Nauyoks;Michael A. Marciniak
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
2.Matrix determination of hidden object reflectance by indirect photography

机译：用间接摄影法确定隐藏物体的反射率
- 作者：Simon S. Ferrel;Michael A. Marciniak
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
3.Advanced gloss sensing for robotic applications

机译：适用于机器人应用的高级光泽感测
- 作者：Christian Deinhammer;Markus Brandner
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
4.Estimating hemispherical scatter from incident plane measurements of isotropic samples

机译：从各向同性样本的入射平面测量值估计半球散射
- 作者：John C. Stover
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
5.A BRDF model for scratches and digs

机译：用于划痕和挖坑的BRDF模型
- 作者：Gary L. Peterson
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
6.Comparison of NRC goniometric and integrating sphere methods for realizing an absolute diffuse reflectance scale

机译：NRC测角法和积分球法实现绝对漫反射标度的比较
- 作者：Réjean Baribeau;Joanne Zwinkels
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
7.Effective medium analysis on the optical properties of silicon nanowire arrays

机译：硅纳米线阵列光学特性的有效介质分析
- 作者：Han Wang;Xianglei Liu;Liping Wang;Zhuomin Zhang
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
8.Surface characterization using combined analysis of original and scatter image

机译：使用原始图像和散射图像的组合分析进行表面表征
- 作者：Wenjing Zhao;Cornelius Hahlweg;Hendrik Rothe
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
9.Inter-laboratory comparison using integrating sphere spectrophotometers to measure reflectance and transmittance ofspecular, diffuse, and light-redirecting glazing products

机译：使用积分球分光光度计进行实验室间比较，以测量 n镜面，漫射和光重定向玻璃制品的反射率和透射率
- 作者：Jacob C. Jonsson;Charlie Curcija
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
10.Upper roughness limitations on the TIS/RMS relationship

机译：TIS / RMS关系的粗糙度上限
- 作者：John C. Stover
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
11.Roughness evaluation of very smooth surfaces using a novel method of scatter measurement

机译：使用新的散射测量方法评估非常光滑的表面的粗糙度
- 作者：Romuald Synak;Wlodzimierz Lipinski;Marcin Pawelczak
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
12.Reflectance variability of surface coatings reveals characteristic eigenvalue spectra

机译：表面涂层的反射率变化揭示了特征特征值光谱
- 作者：José M. Medina;Rui Barros
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
13.Homogeneity measurements of hardness standards with a nondestructive optical method

机译：用非破坏性光学方法对硬度标准品进行均质性测量
- 作者：Jose G. Suarez-Romero;Eduardo Hernandez-Gomez
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
14.A fast and accurate surface plasmon resonance system

机译：快速准确的表面等离子体共振系统
- 作者：Y. M. Espinosa Sánchez;D. Luna Moreno;E. Noé Arias;G. Garnica Campos
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
15.Measuring grazing-angle DHR with the infrared grazing angle reflectometer

机译：用红外掠角反射仪测量掠角DHR
- 作者：Michael R. Benson;Michael A. Marciniak
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
16.The focusing of light scattered from diffuse reflectors using phase modulation

机译：使用相位调制聚焦从漫反射器散射的光
- 作者：Jessica M. Schafer;Michael A. Marciniak
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
17.Scattering computation for 3D laser imagery and reconstruction algorithms

机译：3D激光成像的散射计算和重建算法
- 作者：Ion Berechet;Stefan Berechet
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
18.Electromagnetic scattering in the open elliptic quantum billiard

机译：椭圆椭圆量子台球中的电磁散射
- 作者：Hipolito Garcia-Gracia;Julio C. Gutiérrez-Vega
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
19.The Southwest Research Institute ultraviolet reflectance chamber (SwURC): a far ultraviolet reflectometer

机译：西南研究所紫外线反射室（SwURC）：远紫外线反射仪
- 作者：Gregory S. Winters;Kurt D. Retherford;Michael W. Davis;Stephen M. Escobedo;Eric C. Bassett;Edward L. Patrick;Maggie E. Nagengast;Matthew H. Fairbanks;Paul F. Miles;Joel W. Parker;G. Randall Gladstone;David C. Slater;S. Alan Stern
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
20.Sophisticated light scattering techniques from the VUV to the IR regions

机译：从VUV到IR区域的复杂光散射技术
- 作者：Sven Schröder;Marcus Trost;Tobias Herffurth;Alexander von Finck;Angela Duparré
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
21.Surface-plasmon mediated near-field light diffraction

机译：表面等离子体激元介导的近场光衍射
- 作者：Danhong Huang;L. David Wellems
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
22.Backscatter based projectile trajectory measurement under daylight conditions

机译：白天条件下基于后向散射的弹丸轨迹测量
- 作者：Uwe Chalupka;Hendrik Rothe
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
23.Extensive goniometric spectral measurements at desert sites for military engineering

机译：沙漠地点用于军事工程的大量测角光谱测量
- 作者：T. E. Berry;J. C. Morgan;J. S. Furey;T. A. DeMoss;J. R. Kelley;J. R. McKenna
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
24.Optimized diffusers for reflective mirasol displays: experience from metrology characterization

机译：用于反射式米拉索尔显示器的优化漫射器：计量表征方面的经验
- 作者：Evgeni Y. Poliakov;Russel A. Martin;Ion Bita;Matthew Sampsell
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
25.Scatterometer basing on a STAR GEM idea for optical measurements of microlenses

机译：基于STAR GEM理念的散射仪，用于微透镜的光学测量
- 作者：Etsuo Kawate;Miroslav Hain
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
26.Comparison of the domain of validity of several approximate surface scatter theories

机译：几种近似表面散射理论有效性范围的比较
- 作者：Narak Choi;James E. Harvey
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
27.How accurate is the Kubelka-Munk theory of diffuse reflection? A quantitative answer

机译：Kubelka-Munk漫反射理论的准确性如何？定量答案
- 作者：Richard I. Joseph;Michael E. Thomas
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
28.Tunable supercontinuum fiber laser source for BRDF measurements in the STARR II gonioreflectometer

机译：可调谐超连续光纤激光源，用于STARR II角反射仪中的BRDF测量
- 作者：Heather J. Patrick;Clarence J. Zarobila;Thomas A. Germer;Victor A. Ying;Catherine A. Cooksey;Benjamin K. Tsai
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
29.Converting surface roughness data into PSD and BSDF

机译：将表面粗糙度数据转换为PSD和BSDF
- 作者：Richard N. Pfisterer
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
30.Design of combined microscopical and scatterometrical imaging device of surface inspection

机译：显微和散射组合表面检测成像装置的设计
- 作者：Wenjing Zhao;Cornelius Hahlweg;Hendrik Rothe
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
31.Using differential ray tracing in stray light analysis

机译：在散射光分析中使用差分射线跟踪
- 作者：David F. Rock
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
32.Optical non-contact micrometer thickness measurement system for silica thick films

机译：用于二氧化硅厚膜的光学非接触式千分尺测厚系统
- 作者：K. Thambiratnam;H. Ahmad;A. Z. Zulkifli;S. W. Harun
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年
33.Domain of validity of the equation for total integrated scatter (TIS)

机译：总积分散射（TIS）方程的有效性范围
- 作者：James E. Harvey;Narak Choi
- 会议名称：《Reflection, scattering, and diffraction from surfaces III.》 | 2012年

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