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Conference on Interferometry
Conference on Interferometry
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1.
Interferometric Testing through Transmissive Media (TTM)
机译:
通过透射媒体(TTM)干涉测试
作者:
Sen Han
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
through glass measurement;
testing through transmissive media;
MEMS/NEMS testing;
microfluidic MEMS testing;
optical profiler;
white light interferometry;
2.
Single fringe pattern with closed fringes demodulation using row by row scanners
机译:
单条纹图案与闭合条纹解调行按行扫描仪使用行
作者:
J. C. Estrada
;
M. Servin
;
J. A. Quiroga
;
J. L. Marroquin
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
3.
Fast and accurate non-contact in situ optical metrology for end-point detection
机译:
用于终点检测的快速准确的非接触式光学计量学
作者:
Wojciech J. Walecki
;
Alexander Pravdivstev
;
Manuel Santos II
;
Ann Koo
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
low coherence interferometery;
semiconductor metrology;
4.
Fast and accurate non-contact in situ optical metrology for end-point detection
机译:
用于终点检测的快速准确的非接触式光学计量学
作者:
Wojciech J. Walecki
;
Alexander Pravdivstev
;
Manuel Santos II
;
Ann Koo
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
Low coherence interferometery;
semiconducor metrology;
5.
Dynamic optical coherence tomography for paper wetting measurements
机译:
纸张润湿测量的动态光学相干断层扫描
作者:
Tapio Fabritius
;
Risto Myllylae
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
wetting;
penetration velocity;
light scattering;
paper testing;
6.
Dynamic optical coherence tomography for paper wetting measurements
机译:
纸张润湿测量的动态光学相干断层扫描
作者:
Tapio Fabritius
;
Risto Myllyla
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
wetting;
penetration velocity;
light scattering;
paper testing;
7.
Comparison of the contrast-phase map reconstruction by Fresnel transform method and the angular spectrum backward propagation algorithm in RuO2:LiNbO3 crystal
机译:
菲涅耳变换方法对比相位映射重建的比较和Ruo2:LiNBO3晶体中的角频率向后传播算法
作者:
Weijuan Qu
;
Yanan Zhi
;
Dean Liu
;
Wei Lu
;
Zhijuan Hu
;
Chunhua Wang
;
Liren Liu
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
Digital holographic interferoetry;
Fresnel transfom;
Angular spectrum;
8.
Applications of imaging interferometry
机译:
成像干涉测量的应用
作者:
Jason Reed
;
Paul Wilkinson
;
Keith ODoherty
;
Joanna Schmit
;
Sen Han
;
Josh Troke
;
Michael Teitell
;
William Klug
;
James Gimzewski
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
optical profiler;
microcantilever;
live cell imaging;
9.
Phase mapping of the poling process in the RuO_2:LiNbO_3 crystal by digital holographic interferometry
机译:
通过数字全息干涉测量法测定ru_2中的极化过程的相位映射
作者:
Weijuan Qu
;
Dean Liu
;
Yanan Zhi
;
Zhu Luan
;
Chunhua Wang
;
Wei Lu
;
Liren Liu
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
digital holographic interferometry;
domain reversal;
electro-chromic effect;
10.
Nanometric displacement measurement using phase singularities in Laguerre-Gauss transform of speckle pattern
机译:
纳米级位移测量使用相奇异性在Laguerre-Gauss变换的斑点图案
作者:
Wei Wang
;
Tomoaki Yokozeki
;
Reika Ishijima
;
Steen G. Hanson
;
Mitsuo Takeda
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
speckle photography;
laguerre-gauss transform;
phase singularities;
optical vortex metrology;
11.
Real-Time Measurement of Micrometer-Order Amplitude Transverse Vibrations using the Photo-Emf Effect in Photoconductive Materials
机译:
使用光电导材料的光电EMF效应的微米级振幅横向振动的实时测量
作者:
Juan Silva
;
Kevin Contreras
;
Guillermo Baldwin
;
Luis Mosquera
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
photo-emf effect;
speckle metrology;
photoconductive material;
12.
Development of the interferometrical scanning probe microscope
机译:
干涉扫描探针显微镜的发展
作者:
N. Dorozhovets
;
T. Hausotte
;
N. Hofmann
;
E. Manske
;
G. Jaeger
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
metrological scanning probe microscope;
atomic force microscope;
interferometer;
SPM;
AFM;
13.
Absolute length calibration of gauge blocks using optical comb of a femtosecond pulse laser
机译:
使用飞秒脉冲激光光梳测量块的绝对长度校准
作者:
Jonghan Jin
;
Young-Jin Kim
;
Yunseok Kim
;
Chu-Shik Kang
;
Seung-Woo Kim
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
sbsolute length metrology;
multiple wavelength interferoeter;
femtosecond pulse laser;
optical frequency synthesizer;
height measurement of gauge block;
14.
Effect of varied fringe width on measured profile in structured line projection method
机译:
不同条纹宽度对结构线投影法测量轮廓的影响
作者:
Guiju Song
;
Ming Jia
;
Yu Ning
;
Jianming Zheng
;
Kevin Harding
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
structured line projection;
3-D profile;
edge break;
phase shifting;
phase unwrapping;
depth of focus;
15.
Absolute calibration of null correctors using twin computer-generated holograms
机译:
使用双计算机生成全息图的空校正的绝对校准
作者:
Proteep C. V. Mallik
;
Rene Zehnder
;
James H. Burge
;
Alexander Poleshchuk
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
16.
Applications of Imaging Interferometry
机译:
成像干涉测量的应用
作者:
Jason Reed
;
Paul Wilkinson
;
Keith ODoherty
;
Joanna Schmit
;
Sen Han
;
Josh Troke
;
Michael Teitell
;
William Klug
;
James Gimzewski
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
optical profiler;
microcantilever;
live cell imaging;
17.
Development of the interferometrical scanning probe microscope
机译:
干涉扫描探针显微镜的发展
作者:
N. Dorozhovets
;
T. Hausotte
;
N. Hofmann
;
E. Manske
;
G. Jager
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
metrological scanning probe microscope;
atomic force microscope;
interferometer;
SPM;
AFM;
18.
Simultaneous measurement of deformation and thickness change in polymer films
机译:
同时测量聚合物膜的变形和厚度变化
作者:
Eneas N. Morel
;
Jorge R. Torga
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
Low coherence interferometry;
dynamic deformation;
thickness measurement;
non destructive testing;
19.
Comparison of the contrast-phase map reconstruction by Fresnel transform method and the angular spectrum backward propagation algorithm in RuO_2:LiNbO_3 crystal
机译:
FRESNEL变换方法对比相位映射重建的比较和RUO_2:LINBO_3晶体的角谱向后传播算法
作者:
Weijuan Qu
;
Yanan Zhi
;
Dean Liu
;
Wei Lu
;
Zhijuan Hu
;
Chunhua Wang
;
Liren Liu
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
digital holographic interferometry;
fresnel transform;
angular spectrum;
20.
Absolute length calibration of gauge blocks using optical comb of a femtosecond pulse laser
机译:
使用飞秒脉冲激光光梳测量块的绝对长度校准
作者:
Jonghan Jin
;
Young-Jin Kim
;
Yunseok Kim
;
Chu-Shik Kang
;
Seung-Woo Kim
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
absolute length metrology;
multiple wavelength interferometer;
femtosecond pulse laser;
optical frequency synthesizer;
height measurement of gauge block;
21.
Effect of defocused fringe on measured profile in structured line projection method
机译:
散焦边缘对结构线投影法测量轮廓的影响
作者:
Guiju Song
;
Ming Jia
;
Yu Ning
;
Jianming Zheng
;
Kevin Harding
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
Structured line projection;
3-D profile;
edge break;
phase shifting;
phase unwrapping;
depth of focus;
22.
Simultaneous measurement of deformation and thickness change in polymer films
机译:
同时测量聚合物膜的变形和厚度变化
作者:
Eneas N. Morel
;
Jorge R. Torga
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
low coherence interferometry;
dynamic deformation;
thickness measurement;
non destructive testing;
23.
Phase mapping of the poling process in the RuO2:LiNbO3 crystal by digital holographic interferometry
机译:
通过数字全息干涉测量ruo2中的极化过程的相位映射:LINBO3晶体
作者:
Weijuan Qu
;
Dean Liu
;
Yanan Zhi
;
Zhu Luan
;
Chunhua Wang
;
Wei Lu
;
Liren Liu
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
digital holographic interferometry;
domain reversal;
electro-chromic effect;
24.
Absolute calibration of null correctors using twin computer-generated holograms
机译:
使用双计算机生成全息图的空校正的绝对校准
作者:
Proteep C.V. Mallik
;
Rene Zehnder
;
James H. Burge
;
Alexander Poleshchuk
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
25.
Real-time measurement of micrometer-order amplitude transverse vibrations using the photo-EMF effect in photoconductive materials
机译:
使用光电导材料的光电EMF效应的微米级振幅横向振动的实时测量
作者:
Juan Silva
;
Kevin Contreras
;
Guillermo Baldwin
;
Luis Mosquera
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
photo-emf effect;
speckle metrology;
photoconductive material;
26.
Nanometric displacement measurement using phase singularities in Laguerre-Gauss transform of speckle pattern
机译:
纳米级位移测量使用相奇异性在Laguerre-Gauss变换的斑点图案
作者:
Wei Wang
;
Tomoaki Yokozeki
;
Reika Ishijima
;
Steen G. Hanson
;
Mitsuo Takeda
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
Speckle photography;
Lagrerre-Garss transform;
phase singularites;
optical vortex metrology;
27.
Advances in dynamic metrology using in-line digital holographic interferometry
机译:
在线数字全息干涉测量的动态计量进展
作者:
Vijay Raj Singh
;
Anand Asundi
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
digital holography;
in-line geometry;
lensless microscopy;
time-average method;
speckled wavefront;
28.
Computer aided alignment using Zernike coefficients
机译:
使用Zernike系数的计算机辅助对齐
作者:
Ho-Soon Yang
;
Sung-Hee Kim
;
Yun-Woo Lee
;
Jae-Bong Song
;
Hyug-Gyo Rhee
;
Hoi-Yoon Lee
;
Jae-Hyeob Lee
;
In-Won Lee
;
Sug-Whan Kim
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
Zernike Coefficients;
alignment;
sensitivity table;
collimator;
29.
A point-diffraction interferometer with vibration-desensitizing capability
机译:
具有振动脱敏能力的点衍射干涉仪
作者:
Hagyong Kihm
;
Jungjae Park
;
Taekmin Kwon
;
Joon Ho You
;
Seung-Woo Kim
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
optical figure metrology;
laser interferometer;
vibration desensitization;
30.
A curvature sensor using white-light scanning interferometry
机译:
使用白光扫描干涉测量法的曲率传感器
作者:
ByoungChang Kim
;
SeHeon Kim
;
YongKwan Kwon
;
YunWoo Lee
;
HoSoon Yang
;
HyugGyo Rhee
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
Curvature sensor;
free-form surface;
withe-light scanning interferometry;
31.
Vibration induced phase-shift interferometer
机译:
振动诱导相移干涉仪
作者:
Radu Doloca
;
Rainer Tutsch
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
interferometer;
phase shift;
vibrations;
32.
Phase recovery from a single interferogram using multiple Fourier transforms
机译:
使用多个傅里叶变换从单个干扰图中恢复
作者:
Jesus Munoz-Maciel
;
F. Gerardo Lecona-Pe
;
Cesar Castillo-Quevedo
;
Franciso J. Casillas-Rodriguez
;
Victor Duran-Martinez
;
Miguel Mora-Gonzalez
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
Interferometry;
mitrology;
phase retrieval;
fringe analysis;
33.
Absolute distance measurements using point-diffracted spherical waves
机译:
使用点衍射球面波的绝对距离测量
作者:
Jiyoung Chu
;
Seung-Woo Kim
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
absolute distance;
spherical wavefont;
lateral-shearing interferometer;
rimmer-wyant method;
34.
A Point-Diffraction Interferometer with Vibration-Desensitizing Capability
机译:
具有振动脱敏能力的点衍射干涉仪
作者:
Hagyong Kihm
;
Jungjae Park
;
Taekmin Kwon
;
Joon Ho You
;
Seung-Woo Kim
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
optical figure metrology;
laser interferometer;
vibration desensitization;
35.
Chromatic Confocal Spectral Interferometry (CCSI)
机译:
彩色共焦光谱干涉法(CCSI)
作者:
Evangelos Papastathopoulos
;
Klaus Koerner
;
Wolfgang Osten
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
3D-topography measurement;
spectral interferometry;
white-light interferometry;
chromatic confocal microscopy;
36.
Advances in dynamic metrology using in-line digital holographic interferometry
机译:
在线数字全息干涉测量的动态计量进展
作者:
Vijay Raj Singh
;
Anand Asundi
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
Digital holography;
in-line geometry;
lensless microscopy;
time-average method;
speckled wavefront;
37.
Phase recovery from a single interferogram using multiple Fourier transforms
机译:
使用多个傅里叶变换从单个干扰图中恢复
作者:
Jesus Munoz-Maciel
;
F. Gerardo Lecona-Pena
;
Cesar Castillo-Quevedo
;
Francisco J. Casillas-Rodriguez
;
Victor Duran-Martinez
;
Miguel Mora-Gonzalez
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
interferometry;
metrology;
phase retrieval;
fringe analysis;
38.
Chromatic confocal spectral interferometry (CCSI)
机译:
彩色共焦光谱干涉法(CCSI)
作者:
Evangelos Papastathopoulos
;
Klaus Kner
;
Wolfgang Osten
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
3D-topography measurement;
Spectral interferometry;
White-light interferometry;
Chromatic confocal microscopy;
39.
A Curvature Sensor Using White-light Scanning Interferometry
机译:
使用白光扫描干涉测量法的曲率传感器
作者:
ByoungChang Kim
;
SeHeon Kim
;
YongKwan Kwon
;
YunWoo Lee
;
HoSoon Yang
;
HyugGyo Rhee
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
curvature sensor;
free-form surface;
white-light scanning interferometry;
40.
Vibration induced phase-shift interferometer
机译:
振动诱导相移干涉仪
作者:
Radu Doloca
;
Rainer Tutsch
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
interferometer;
phase shift;
vibrations;
41.
Absolute distance measurements using point-diffracted spherical waves
机译:
使用点衍射球面波的绝对距离测量
作者:
Jiyoung Chu
;
Seung-Woo Kim
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
absolute distance;
spherical wavefont;
lateral-shearing interferometer;
Rimmmer-Wyant method;
42.
Computer aided alignment using Zernike Coefficients
机译:
使用Zernike系数的计算机辅助对齐
作者:
Ho-Soon Yang
;
Sung-Hee Kim
;
Yun-Woo Lee
;
Jae-Bong Song
;
Hyug-Gyo Rhee
;
Hoi-Yoon Lee
;
Jae-Hyeob Lee
;
In-Won Lee
;
Sug-Whan Kim
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
zernike coefficients;
alignment;
sensitivity table;
collimator;
43.
Calibration of phase shifter in phase-shifting shearography
机译:
相移剪切型相移校准器
作者:
Y. Gan
;
W. Steinchen
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
speckle interferometry;
phase-shifting shearography;
calibration;
44.
Current-induced Frequency Modulation Characteristics in Semiconductor lasers using a novel and simple method
机译:
使用新颖的方法和简单方法的半导体激光器电流诱导的频率调制特性
作者:
Jianhui Zhu
;
Min Zhang
;
Yanbiao Liao
;
Jin Tang
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
frequency modulation;
semiconductor laser;
current injection;
45.
Effect of strong refraction of probing beam accompanying shear holographic interferometry of a bow shock
机译:
探测光束伴随剪切全息干涉测量的强折射的影响
作者:
Grigory Toker
;
Nikolay Korneev
;
Pedro Aguilar
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
shearing interferometry;
dual hologram techique;
bow shock;
suipersonic wind tunel;
strong refraction effect;
blocking of refracted rays;
46.
Current-induced frequency modulation characteristics in semiconductor lasers using a novel and simple method
机译:
使用新颖的方法和简单方法的半导体激光器电流诱导的频率调制特性
作者:
Jianhui Zhu
;
Min Zhang
;
Yanbiao Liao
;
Jin Tang
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
frequency modulation;
semiconductor laser;
current injection;
47.
Effect of strong refraction of probing beam accompanying shear holographic interferometry of a bow shock
机译:
探测光束伴随剪切全息干涉测量的强折射的影响
作者:
Grigory Toker
;
Nikolay Korneev
;
Pedro Aguilar
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
shearing interferometry;
dual hologram technique;
bow shock;
supersonic wind tunnel;
strong refraction effect;
blocking of refracted rays;
48.
Compensation of chromatic aberration in multiwavelength digital holographic investigation of microstructures
机译:
多波长数字全息调查中色差的补偿
作者:
P. Ferraro
;
S. Grilli
;
D. Alfieri
;
S. De Nicola
;
A. Finizio
;
G. Pierattini
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
holography;
holographic interferometry;
microscopy;
optical processing;
49.
Compensation of chromatic aberration in multiwavelcngth digital holographic investigation of microstructures
机译:
多波动数数字全息调查中色差的色差补偿
作者:
P. Ferraro
;
S. Grilli
;
D. Alfieri
;
S.De Nicola
;
A. Finizio
;
G. Pierattini
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
holography;
holographic interferometry;
microscopy;
optical processing;
50.
Calibration of phase shifter in phase-shifting shearography
机译:
相移剪切型相移校准器
作者:
Y. Gan
;
W. Steinchen
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
Speckle interferometry;
phase-shifting shearography;
calibration;
51.
Experimental investigation of testing large aspheric surfaces with annular subaperture interferometric method
机译:
带环形轴承性干涉法检测大型球面的实验研究
作者:
Xi Hou
;
Fan Wu
;
Li Yang
;
Qiang Chen
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
surface measurements;
aspherics;
optical testing;
annular subperture;
extended-range interferometry;
52.
Static and dynamic measurements of active MEMS by Twyman-Green interferometry: case of AlN-based microactuators
机译:
TWYMAN-绿色干涉测量的活性MEMS的静态和动态测量:基于ALN的微致动器的情况
作者:
C. Gorecki
;
A. Andrei
;
M. Jozwik
;
K. Krupa
;
K. Dogheche
;
S. Balandras
;
L. Hirsinger
;
P. Delobelle
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
AIN;
MEMS actuator;
interferometry;
analysis of vibration;
residual stress;
53.
Thickness - profile measurement of transparent thin - film layers by spectrally resolved phase - shifting interferometry
机译:
厚度 - 透明薄膜层通过光谱分辨相移干扰法测量透明薄膜层
作者:
Sanjit K. Debnath
;
Mahendra P. Kothiyal
;
Joanna Schmit
;
Parameswaran Hariharan
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
phase shifting interferometry;
white light interferometry;
thin film;
spectral analysis;
54.
Experimental investigation of testing large aspheric surfaces with annular subaperture interferometric method
机译:
带环形轴承性干涉法检测大型球面的实验研究
作者:
Xi Hou
;
Fan Wu
;
Li Yang
;
Qiang Chen
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
Surface measurements;
aspherics;
optical testing;
annular subperture;
extended-range interferometry;
55.
Thickness-profile measurement of transparent thin-film layers by spectrally resolved phase-shifting interferometry
机译:
通过光谱分辨的相移干扰法测定透明薄膜层的厚度测量
作者:
Sanjit K. Debnath
;
Mahendra P. Kothiyal
;
Joanna Schmit
;
Parameswaran Hariharan
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
phase shifting interferometry;
shite light interferometry;
thin film;
spectral analysis;
56.
Analysis of spectrally resolved white light interferometry by Hilbert Transform method
机译:
Hilbert变换法分析光谱分辨白光干扰法
作者:
Sanjit K. Debnath
;
Mahendra P. Kothiyal
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
phase shifting interferometry;
white light interferometry;
spectral interferogram analysis;
hilbert transform;
57.
Static and dynamic measurements of active MEMS by Twyman-Green interferometry: case of AlN-based microactuators
机译:
TWYMAN-绿色干涉测量的活性MEMS的静态和动态测量:基于ALN的微致动器的情况
作者:
C. Gorecki
;
A. Andrei
;
M. Jozwik
;
K. Krupa
;
K. Dogheche
;
S. Balandras
;
L. Hirsinger
;
P. Delobelle
;
SPIE-The International Society for Optical Engineering
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
AlN;
MEMS actuator;
interferometry;
analysis of vibration;
residual stress;
58.
Analysis of spectrally resolved white light interferometry by Hilbert transform method
机译:
Hilbert变换法分析光谱分辨白光干扰法
作者:
Sanjit K. Debnath
;
Mahendra P. Kothiyal
会议名称:
《Conference on Interferometry》
|
2006年
关键词:
phase shifting interferometry;
shite light interferometry;
spectral interferogram analysis;
Hilbert Transform;
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