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Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International
Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International
召开年:
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Washington, DC
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1.
Coupling coefficients for signal lines separated by ground lines onPC boards
机译:
信号线的耦合系数,用地线隔开PC板
作者:
Birchak J.R.
;
Haill H.K.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
2.
Methods of test waveform synthesis for high speed datacommunication devices
机译:
高速数据的测试波形合成方法通讯设备
作者:
Lanier K.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
3.
Optimized synthesis of dedicated controllers with concurrentchecking capabilities
机译:
并发优化专用控制器的综合检查能力
作者:
Leveugle R.
;
Saucier G.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
4.
Testability analysis of synchronous sequential circuits based onstructural data
机译:
基于同步时序电路的可测性分析结构数据
作者:
Hudli R.V.
;
Seth S.C.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
5.
A 250 MHz shared-resource VLSI test system with high pin count andmemory test capability
机译:
250 MHz共享资源的VLSI测试系统,具有高引脚数和内存测试能力
作者:
Kikuchi S.
;
Hayashi Y.
;
Matsumoto T.
;
Yoshino R.
;
Takagi R.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
6.
Location and identification for single and multiple faults intestable redundant PLAs for yield enhancement
机译:
单个故障和多个故障的定位和识别可测试的冗余PLA以提高产量
作者:
Shen Y.-N.
;
Lombardi F.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
7.
Fault partitioning issues in an integrated parallel testgeneration/fault simulation environment
机译:
集成并行测试中的故障分区问题生成/故障仿真环境
作者:
Patil S.
;
Banerjee P.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
8.
`ATG' test generation software
机译:
ATG测试生成软件
作者:
Downey A.E.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
9.
Characterization of high-speed (above 500 MHz) devices usingadvanced ATE-techniques, results and device problems
机译:
使用以下器件表征高速(500 MHz以上)器件先进的ATE技术,结果和设备问题
作者:
Barton S.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
10.
A proposed benchmark unit for evaluating electronic troubleshootingexpert systems
机译:
拟议的基准单元,用于评估电子故障排除专家系统
作者:
Ben-Bassat M.
;
Ben-Arie D.
;
Beniaminy I.
;
Cheifetz J.
;
Klinger M.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
11.
Testing of glue logic interconnects using boundary scanarchitecture
机译:
使用边界扫描测试胶逻辑互连建筑
作者:
Hassan A.
;
Agarwal V.K.
;
Rajski J.
;
Dostie B.N.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
12.
Writing correct and usable specifications for board and test: acase study
机译:
编写有关电路板和测试的正确且可用的规范:案例分析
作者:
Alcorn B.A.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
13.
Functional testing of circuits and SMD boards with limited nodalaccess
机译:
节点受限的电路和SMD板的功能测试访问
作者:
Chin K.R.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
14.
TSG-a test system generator for debugging and regression test ofhigh-level behavioral synthesis tools
机译:
TSG-用于调试和回归测试的测试系统生成器高级行为综合工具
作者:
Ernst R.
;
Sutarwala S.
;
Jou J.-Y.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
15.
Program/pattern interface for silicon debug on a VLSI test system
机译:
在VLSI测试系统上进行硅调试的程序/模式接口
作者:
Moran L.
;
Ritter T.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
16.
STEED-a testability enhancement expert design system
机译:
STEED-可测试性增强的专家设计系统
作者:
Koehler D.A.
;
Somani A.K.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
17.
A military test method for measuring fault coverage
机译:
一种用于测量故障覆盖率的军事测试方法
作者:
Debany W.H. Jr.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
18.
FUNTEST: a functional automatic test pattern generator forcombinational circuits
机译:
FUNTEST:一种功能强大的自动测试模式生成器,用于组合电路
作者:
Al-Arian S.A.
;
Nordenso M.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
19.
A unified theory for designing optimal test generation anddiagnosis algorithms for board interconnects
机译:
设计最佳测试生成和生成的统一理论板互连的诊断算法
作者:
Yau C.W.
;
Jarwala N.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
20.
An analysis of tungsten probes' effect on yield in a productionwafer probe environment
机译:
钨探针对生产中产量的影响分析晶圆探针环境
作者:
Nadeau N.
;
Perreault S.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
21.
Implementation and evaluation of microinstruction controlled selftest using a masked microinstruction scheme
机译:
微指令控制自我的实现与评估使用掩盖的微指令方案进行测试
作者:
Nozuyama Y.
;
Nishimura A.
;
Iwamura J.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
22.
Tradeoff decisions made for a P1149.1 controller design ATE
机译:
为P1149.1控制器设计ATE做出的权衡决策
作者:
Vining S.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
23.
A new framework for analyzing test generation and diagnosisalgorithms for wiring interconnects
机译:
分析测试生成和诊断的新框架互连布线算法
作者:
Jarwala N.
;
Yau C.W.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
24.
Computation of delay defect and delay fault probabilities using astatistical timing simulator
机译:
延迟缺陷和延迟故障概率的计算使用统计时序模拟器
作者:
Benkoski J.
;
Strojwas A.J.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
25.
A new system architecture for a combined in-circuit/functionaltester
机译:
用于在线/功能组合的新系统架构测试人员
作者:
Stepleton J.M.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
26.
Design of a BIST RAM with row/column pattern sensitive faultdetection capability
机译:
具有行/列模式敏感故障的BIST RAM设计检测能力
作者:
Franklin M.
;
Saluja K.K.
;
Kinoshita K.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
27.
Fantestic: towards a powerful fault analysis and test patterngenerator for integrated circuits
机译:
Fantestic:实现强大的故障分析和测试模式集成电路发生器
作者:
Jacomet M.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
28.
A sequential circuit fault simulation by surrogate faultpropagation
机译:
通过替代故障进行时序电路故障仿真传播
作者:
Wang X.
;
Hill F.J.
;
Mi Z.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
29.
Qualification and quantification of process-induced product-relateddefects
机译:
与过程相关的产品相关的定性和定量缺陷
作者:
Camerik F.
;
Dirks P.A.J.
;
Jess J.A.G.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
30.
ESSENTIAL: an efficient self-learning test pattern generationalgorithm for sequential circuits
机译:
必备:高效的自学测试模式生成时序电路算法
作者:
Schulz M.H.
;
Auth E.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
31.
Engineering curricular for `meeting the tests of time'
机译:
“满足时间考验”的工程课程
作者:
Absher R.
;
Lecky J.E.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
32.
Design and test in the universities
机译:
高校设计与测试
作者:
Al-Arian S.A.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
33.
CMOS design for improved IC testability
机译:
CMOS设计可改善IC可测试性
作者:
Favalli M.
;
Olivo P.
;
Damiani M.
;
Ricco B.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
34.
Diagnostics based on faulty signature
机译:
基于签名错误的诊断
作者:
Chan J.C.
;
Womack B.F.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
35.
On the design of multiple-input shift-registers for signatureanalysis testing
机译:
关于多输入签名的移位寄存器的设计分析测试
作者:
Olivo P.
;
Damiani M.
;
Ricco B.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
36.
VLSI package reliability risk due to accelerated environmentaltesting
机译:
由于环境加速,VLSI封装可靠性存在风险测试
作者:
Haupert D.
;
Chen F.-G.
;
Lee D.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
37.
How much fault coverage is enough?
机译:
多少故障覆盖率足够?
作者:
Henshaw B.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
38.
Fault diagnosis based on post-test fault dictionary generation
机译:
基于测试后故障字典生成的故障诊断
作者:
Kato J.
;
Shimono T.
;
Kawai M.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
39.
Parallel automated test pattern generation on the ConnectionMachine
机译:
在Connection上并行生成自动测试模式机
作者:
Mayor P.
;
Pitchumani V.
;
Narayanan V.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
40.
Standard testability bus-an applications example
机译:
标准可测性总线-应用示例
作者:
Turino J.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
41.
Detection of transient faults in microprocessors by concurrentmonitoring
机译:
通过并发检测微处理器中的瞬时故障监控
作者:
Khan M.Z.
;
Tront J.G.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
42.
Model engineering curricula for `meeting the tests of time'
机译:
满足“时间考验”的模型工程课程
作者:
Absher R.
;
Lecky J.E.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
43.
Combinational and sequential circuit fault diagnosis using AItechniques
机译:
使用AI进行组合和顺序电路故障诊断技术
作者:
Rogel-Favila B.
;
Cheung P.Y.K.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
44.
Practical considerations in benchmarking digital testing systems
机译:
标定数字测试系统的实际注意事项
作者:
Mourad S.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
45.
Achieving ATE accuracy at gigahertz test rates: comparison ofelectronic and electrooptic sampling technologies
机译:
以千兆赫测试速率实现ATE精度:电子和电光采样技术
作者:
Henley F.J.
;
Choi H.-J.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
46.
Test and design for testability of reconvergent fan-out CMOS logicnetworks
机译:
测试和设计可收敛扇出CMOS逻辑的可测试性网路
作者:
Darlay F.
;
Courtois B.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
47.
The push for test in universities
机译:
推动大学考试
作者:
Bouldin D.W.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
48.
The role of test in a `continuous improvement' environment
机译:
测试在“持续改进”环境中的作用
作者:
Santella R.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
49.
Calculating the effects of linear dependencies in
m
-sequences used as test stimuli
机译:
计算线性依赖的影响
m e1>-序列用作测试刺激
作者:
Bardell P.H.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
50.
The Omnitest system: a no-generate, no-compile, interactive testmethodology
机译:
Omnitest系统:无需生成,无需编译,交互式测试方法
作者:
Dettloff W.D.
;
Tebbs M.D.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
51.
The analysis of parallel BIST by the combined Markov chain (CMC)model
机译:
组合马尔可夫链(CMC)对并行BIST的分析模型
作者:
Chuang C.C.
;
Gupta A.K.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
52.
Design for testability and test generation for static redundancysystem level fault-tolerant circuits
机译:
可测试性设计和测试生成以实现静态冗余系统级容错电路
作者:
Stroud C.E.
;
Barbour A.E.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
53.
Board-level boundary-scan: regaining observability with anadditional IC
机译:
板级边界扫描:通过重新获得可观察性附加IC
作者:
Ballew W.D.
;
Streb L.M.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
54.
CMOS IC stuck-open-fault electrical effects and designconsiderations
机译:
CMOS IC卡在断路中的电气效应和设计注意事项
作者:
Soden J.M.
;
Treece R.K.
;
Taylor M.R.
;
Hawkins C.F.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
55.
Reconfigurable resource architecture improves VLSI testerutilization
机译:
可重新配置的资源架构改善了VLSI测试仪利用率
作者:
OKeefe S.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
56.
Testability expertise and test planning from high-levelspecifications
机译:
高级别的可测试性专业知识和测试计划规格
作者:
Crastes de Paulet M.
;
Karam M.
;
Saucier G.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
57.
On the design and test of asynchronous macros embedded insynchronous systems
机译:
关于嵌入式异步宏的设计与测试同步系统
作者:
Leenstra J.
;
Spaanenburg L.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
58.
An optimal test sequence for the JTAG/IEEE P1149.1 test access portcontroller
机译:
JTAG / IEEE P1149.1测试访问端口的最佳测试顺序控制者
作者:
Dahbura A.T.
;
Uyar M.U.
;
Yau C.W.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
59.
Testing conventional logic and memory clusters using boundary scandevices as virtual ATE channels
机译:
使用边界扫描测试常规逻辑和内存集群设备作为虚拟ATE通道
作者:
Hansen P.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
60.
A testing technique to characterize E2PROM's aging andendurance
机译:
表征E 2 sup> PROM老化和性能的测试技术耐力
作者:
Lanzoni M.
;
Olivo P.
;
Ricco B.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
61.
Testing and testability of programmable logic devices
机译:
可编程逻辑器件的测试和可测试性
作者:
VanDerwiele J.M.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
62.
International Test Conference 1989. Proceedings. Meeting the Testsof Time (Cat. No.89CH2742-5)
机译:
1989年国际测试会议。会议记录。满足测试时间(目录号89CH2742-5)
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
63.
Composite electro-optical testing of surface-mount deviceboards-one manufacturer's experience
机译:
表面贴装器件的复合电光测试一块板制造商的经验
作者:
Langley F.J.
;
Boatright R.R.
;
Crosby L.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
64.
High performance electron beam tester for voltage measurement onunpassivated and passivated devices
机译:
高性能电子束测试仪,用于电压测量未钝化和钝化的设备
作者:
Tokunaga Y.
;
Frosien J.
会议名称:
《Test Conference, 1989. Proceedings. Meeting the Tests of Time., International》
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