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IEEE European Test Symposium
IEEE European Test Symposium
召开年:
2020
召开地:
Tallinn(EE)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
ETS 2020 Sponsors
机译:
ETS 2020赞助商
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
2.
ETS 2020 Foreword
机译:
ETS 2020前言
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
3.
ETS 2020 Steering and Program Committees
机译:
ETS 2020指导和计划委员会
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
4.
Device-Aware Test for Emerging Memories: Enabling Your Test Program for DPPB Level
机译:
新兴内存的设备感知测试:为DPPB级别启用测试程序
作者:
Lizhou Wu
;
Moritz Fieback
;
Mottaqiallah Taouil
;
Said Hamdioui
会议名称:
《》
|
2020年
5.
On-chip reduced-code static linearity test of Vcm -based switching SAR ADCs using an incremental analog-to-digital converter
机译:
使用增量式模数转换器的基于Vcm的开关SAR ADC的片上缩减代码静态线性测试
作者:
Renato S. Feitoza
;
Manuel J. Barragan
;
Antonio Gines
;
Salvador Mir
会议名称:
《》
|
2020年
6.
Digital Defect Based Built-in Self-Test for Low Dropout Voltage Regulators
机译:
基于数字缺陷的内置低压差稳压器自测
作者:
Mehmet Ince
;
Sule Ozev
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
7.
Monitoring of BTI and HCI Aging in SRAM Decoders
机译:
监视SRAM解码器中的BTI和HCI老化
作者:
Helen-Maria Dounavi
;
Yiorgos Tsiatouhas
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
BTI;
HCI;
transistor aging monitoring;
SRAM Decoders;
reliability;
failure prediction;
8.
G-PUF: An Intrinsic PUF Based on GPU Error Signatures
机译:
G-PUF:基于GPU错误签名的固有PUF
作者:
Bruno Forlin
;
Ronaldo Husemann
;
Luigi Carro
;
Cezar Reinbrecht
;
Said Hamdioui
;
Mottaqiallah Taouil
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
G-PUF;
Physically Unclonable Functions;
GPU;
Security;
Intrinsic PUF;
9.
A SIFT-based Waveform Clustering Method for aiding analog/mixed-signal IC Verification
机译:
基于SIFT的波形聚类方法,用于模拟/混合信号IC验证
作者:
Andrei Gaita
;
Georgian Nicolae
;
Emilian C. David
;
Andi Buzo
;
Corneliu Burileanu
;
Georg Pelz
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
SIFT;
Waveform Clustering;
IC Verification;
10.
Learning-Based Cell-Aware Defect Diagnosis of Customer Returns
机译:
客户退货的基于学习的单元感知缺陷诊断
作者:
S. Mhamdi
;
P. Girard
;
A. Virazel
;
A. Bosio
;
A. Ladhar
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Diagnosis;
Customer Returns;
Machine Learning;
11.
Anomaly Detection in Embedded Systems Using Power and Memory Side Channels
机译:
使用电源和内存侧通道的嵌入式系统中的异常检测
作者:
Jiho Park
;
Virinchi Roy Surabhi
;
Prashanth Krishnamurthy
;
Siddharth Garg
;
Ramesh Karri
;
Farshad Khorrami
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Anomaly detection;
cybersecurity;
power consumption;
memory access;
support vector machine (SVM);
12.
Automated Graph-Based Fault Injection Into Virtual Prototypes for Robustness Evaluation
机译:
基于图的自动故障注入虚拟原型以进行鲁棒性评估
作者:
Jo Laufenberg
;
Thomas Kropf
;
Oliver Bringmann
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
13.
Efficient Prognostication of Pattern Count with Different Input Compression Ratios
机译:
不同输入压缩比的模式计数的有效预测
作者:
Fong-Jyun Tsai
;
Chong-Siao Ye
;
Yu Huang
;
Kuen-Jong Lee
;
Wu-Tung Cheng
;
Sudhakar M. Reddy
;
Mark Kassab
;
Janusz Rajski
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
14.
Failure and Attack Detection by Digital Sensors
机译:
通过数字传感器进行故障和攻击检测
作者:
Md Toufiq Hasan Anik
;
Rachit Saini
;
Jean-Luc Danger
;
Sylvain Guilley
;
Naghmeh Karimi
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
15.
Detection of Rowhammer Attacks in SoCs with FPGAs
机译:
使用FPGA检测SoC中的Rowhammer攻击
作者:
Rana Elnaggar
;
Siyuan Chen
;
Peilin Song
;
Krishnendu Chakrabarty
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
16.
IEEE Std. P1687.1 for Access Control of Reconfigurable Scan Networks
机译:
IEEE标准P1687.1用于可重新配置的扫描网络的访问控制
作者:
Erik Larsson
;
Zehang Xiang
;
Prathamesh Murali
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
17.
ETS 2020 Organizing Committee
机译:
ETS 2020组委会
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
18.
Linking Chip, Board, and System Test via Standards
机译:
通过标准链接芯片,电路板和系统测试
作者:
Michele Portolan
;
Jeff Rearick
;
Martin Keim
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
system test;
embedded test;
retargeting;
IEEE 1687;
IEEE P1687.1;
IEEE P2654;
IJTAG;
SJTAG;
STAM;
19.
Design, Verification, Test and In-Field Implications of Approximate Computing Systems
机译:
近似计算系统的设计,验证,测试和现场含义
作者:
A. Bosio
;
S. Di Carlo
;
P. Girard
;
E. Sanchez
;
A. Savino
;
L. Sekanina
;
M. Traiola
;
Z. Vasicek
;
A. Virazel
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
approximate computing;
circuit;
design;
test;
20.
Design Obfuscation versus Test
机译:
设计混淆与测试
作者:
Farimah Farahmandi
;
Ozgur Sinanoglu
;
Ronald Blanton
;
Samuel Pagliarini
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
logic locking;
logic obfuscation;
integrated circuit design;
Test;
automatic test pattern generation;
high level synthesis;
21.
PUF Enrollment and Life Cycle Management: Solutions and Perspectives for the Test Community
机译:
PUF注册和生命周期管理:测试社区的解决方案和观点
作者:
Amir Ali Pour
;
Vincent Beroulle
;
Bertrand Cambou
;
Jean-Luc Danger
;
Giorgio Di Natale
;
David Hely
;
Sylvain Guilley
;
Naghmeh Karimi
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Physically Unclonable Functions (PUF);
Standardization;
Enrollment;
Challenge/Response Pair Database Management;
On Line Test;
22.
Analog Fault Simulation - a Hot Topic!
机译:
模拟故障仿真-热门话题!
作者:
Stephen Sunter
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
analog fault simulation;
analog DfT;
IEEE P2427;
23.
Test Sequence-Optimized BIST for Automotive Applications
机译:
针对汽车应用的经过测试序列优化的BIST
作者:
Bartosz Kaczmarek
;
Grzegorz Mrugalski
;
Nilanjan Mukherjee
;
Janusz Rajski
;
Łukasz Rybak
;
Jerzy Tyszer
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
embedded-test;
logic built-in self-test;
LFSR reseeding;
scan-based testing;
test application time;
test points;
24.
Dynamic Authentication-Based Secure Access to Test Infrastructure
机译:
基于动态身份验证的对测试基础结构的安全访问
作者:
Michele Portolan
;
Vincent Reynaud
;
Paolo Maistri
;
Regis Leveugle
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Reconfigurable Scan Networks;
Secure Access;
Authentication;
Automated Test Environments;
25.
Minimal Witnesses for Security Weaknesses in Reconfigurable Scan Networks
机译:
可重配置扫描网络中安全漏洞的最小见证
作者:
Pascal Raiola
;
Tobias Paxian
;
Bernd Becker
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Reconfigurable Scan Network;
Hardware Security;
Data Dependency;
IEEE Std 1687;
Insecure Data Flow;
Security Weakness Localization;
26.
Defect Characterization and Test Generation for Spintronic-based Compute-In-Memory
机译:
基于自旋电子的内存计算的缺陷表征和测试生成
作者:
Sarath Mohanachandran Nair
;
Christopher Münch
;
Mehdi B. Tahoori
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
STT-MRAM;
In-memory computing;
Defect modeling;
27.
MBIST Support for Reliable eMRAM Sensing
机译:
MBIST支持可靠的eMRAM感应
作者:
Jongsin Yun
;
Benoit Nadeau-Dostie
;
Martin Keim
;
Cyrille Dray
;
Mehdi Boujamaa
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
MRAM;
yield;
trim;
reference;
read operation;
28.
Tightening the Mesh Size of the Cell-Aware ATPG Net for Catching All Detectable Weakest Faults
机译:
收紧感知蜂窝的ATPG网络的网格大小,以捕获所有可检测到的最弱故障
作者:
Min-Chun Hu
;
Zhan Gao
;
Santosh Malagi
;
Joe Swenton
;
Jos Huisken
;
Kees Goossens
;
Cheng-Wen Wu
;
Erik Jan Marinissen
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
29.
Nonlinear Codes for Control Flow Checking
机译:
用于控制流检查的非线性代码
作者:
Giorgio Di Natale
;
Osnat Keren
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
30.
QAMR: an Approximation-Based Fully Reliable TMR Alternative for Area Overhead Reduction
机译:
QAMR:基于近似值的完全可靠的TMR替代方案,可减少区域开销
作者:
B. Deveautour
;
M. Traiola
;
A. Virazel
;
P. Girard
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Combinational circuits;
fault tolerance;
error correction;
triple modular redundancy;
approximate computing;
31.
A Built-In Self-Test Method For MEMS Piezoresistive Sensor
机译:
MEMS压阻传感器的内置自检方法
作者:
Manhong Zhu
;
Jia Li
;
Weibing Wang
;
Dapeng Chen
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
MEMS;
piezoresistive sensor;
built-in self-test;
electric excitation;
32.
Thermal Neutrons: a Possible Threat for Supercomputers and Safety Critical Applications
机译:
热中子:超级计算机和安全关键应用的潜在威胁
作者:
Daniel Oliveira
;
Sean Blanchard
;
Nathan Debardeleben
;
Fernando F. Dos Santos
;
Gabriel Piscoya Dávila
;
Philippe Navaux
;
Carlo Cazzaniga
;
Christopher Frost
;
Robert C. Baumann
;
Paolo Rech
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
33.
Avoiding Mixed-Signal Field Returns by Outlier Detection of Hard-to-Detect Defects based on Multivariate Statistics
机译:
通过基于多元统计的难检测缺陷的异常检测避免混合信号场返回
作者:
Nektar Xama
;
Jakob Raymaekers
;
Martin Andraud
;
Jhon Gomez
;
Wim Dobbelaere
;
Ronny Vanhooren
;
Anthony Coyette
;
Georges Gielen
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
34.
Modeling Static Noise Margin for FinFET based SRAM PUFs
机译:
基于FinFET的SRAM PUF的静态噪声容限建模
作者:
Shayesteh Masoumian
;
Georgios Selimis
;
Roel Maes
;
Geert-Jan Schrijen
;
Said Hamdioui
;
Mottaqiallah Taouil
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
SRAM PUF;
FinFET;
Static noise margin;
process variation;
temperature;
35.
LiD-CAT: A Lightweight Detector for Cache ATtacks
机译:
LiD-CAT:用于高速缓存攻击的轻型检测器
作者:
Cezar Reinbrecht
;
Said Hamdioui
;
Mottaqiallah Taouil
;
Behrad Niazmand
;
Tara Ghasempouri
;
Jaan Raik
;
Johanna Sepúlveda
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
36.
Built-In Predictors for Dynamic Crosstalk Avoidance
机译:
内置预测器,可避免动态串扰
作者:
Rezgar Sadeghi
;
Zainalabedin Navabi
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
crosstalk fault;
interconnect;
communication bus;
crosstalk predictor hardware;
37.
A New Monitor Insertion Algorithm for Intermittent Fault Detection
机译:
一种新的间歇故障检测监控插入算法
作者:
Hassan Ebrahimi
;
Hans G. Kerkhoff
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Reliability;
No Faults Found;
Intermittent Resistive Faults;
Intermittent Fault Detection;
Chip-level and board-level fault detection;
38.
Testing Scouting Logic-Based Computation-in-Memory Architectures
机译:
测试基于侦查逻辑的内存中计算体系结构
作者:
Moritz Fieback
;
Surya Nagarajan
;
Rajendra Bishnoi
;
Mehdi Tahoori
;
Mottaqiallah Taouil
;
Said Hamdioui
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Computation-in-memory (CIM);
memory test;
in-memory computing;
defects;
faults;
emerging memories;
39.
Variation-Aware Defect Characterization at Cell Level
机译:
细胞水平的变异感知缺陷表征
作者:
Zahra Paria Najafi-Haghi
;
Marzieh Hashemipour-Nazari
;
Hans-Joachim Wunderlich
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Small delay faults;
variations;
reliability;
defect modeling;
statistical learning;
40.
Functional-Like Transition Delay Fault Test-Pattern Generation using a Bayesian-Based Circuit Model
机译:
使用基于贝叶斯的电路模型生成功能类似的转换延迟故障测试模式
作者:
Ching-Yuan Chen
;
Ching-Hong Cheng
;
Jiun-Lang Huang
;
Krishnendu Chakrabarty
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
functional-like;
automatic test pattern generation;
full-scan;
41.
Determined-Safe Faults Identification: A step towards ISO26262 hardware compliant designs
机译:
确定的安全故障识别:迈向符合ISO26262硬件标准的设计的一步
作者:
Felipe Augusto da Silva
;
Ahmet Cagri Bagbaba
;
Sandro Sartoni
;
Riccardo Cantoro
;
Matteo Sonza Reorda
;
Said Hamdioui
;
Christian Sauer
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
ISO26262;
Safe Faults;
Fault Injection;
Formal Methods;
Simulation;
Functional Safety;
Verification;
42.
Accurate Measurements of Small Resistances in Vertical Interconnects with Small Aspect Ratios
机译:
小纵横比的垂直互连中的小电阻的精确测量
作者:
Michele Stucchi
;
Ferenc Fodor
;
Erik Jan Marinissen
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
resistance;
vertical interconnect;
cross-bridge Kelvin resistor;
current and voltage distributions;
field-solver;
simulations;
43.
Latent Defect Screening with Visually-Enhanced Dynamic Part Average Testing
机译:
通过视觉增强的动态零件平均测试进行潜在缺陷筛选
作者:
Anthony Coyette
;
Wim Dobbelaere
;
Ronny Vanhooren
;
Nektar Xama
;
Jhon Gomez
;
Georges Gielen
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
Outlier detection;
analog and mixed-signal testing;
integrated circuits;
DPAT;
visual inspection;
44.
PWS: Potential Wafermap Scratch Defect Pattern Recognition with Machine Learning Techniques
机译:
PWS:潜在的Wafermap划痕缺陷模式识别与机器学习技术
作者:
Katherine Shu-Min Li
;
Peter Yi-Yu Liao
;
Leon Chou
;
Ken Chau-Cheung Chen
;
Andrew Yi-Ann Huang
;
Sying-Jyan Wang
;
Gus Chang-Hung Han
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
wafermap;
defect pattern;
yield learning;
clustering;
machine learning;
45.
The Risk of Outsourcing: Hidden SCA Trojans in Third-Party IP-Cores Threaten Cryptographic ICs
机译:
外包的风险:第三方IP内核中的隐藏SCA木马破坏了加密IC
作者:
David Knichel
;
Thorben Moos
;
Amir Moradi
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
关键词:
hardware Trojan;
ASIC;
side-channel analysis;
time-to-digital converter;
46.
Hardware Trojan Attacks in Analog/Mixed-Signal ICs via the Test Access Mechanism
机译:
通过测试访问机制对模拟/混合信号IC进行硬件木马攻击
作者:
Mohamed Elshamy
;
Giorgio Di Natale
;
Antonios Pavlidis
;
Marie-Minerve Louërat
;
Haralampos-G. Stratigopoulos
会议名称:
《IEEE European Test Symposium》
|
2020年
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