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2011 29th IEEE VLSI Test Symposium
2011 29th IEEE VLSI Test Symposium
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1.
Place holder
机译:
占位符
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
2.
Advanced methods for leveraging new test standards
机译:
利用新测试标准的先进方法
作者:
Laisne Mike
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
3.
Practical signal processing at mixed signal test venues - Trend removal, noise reduction, wideband signal capturing -
机译:
在混合信号测试场所进行实用的信号处理-趋势消除,降噪,宽带信号捕获-
作者:
Okawara Hideo
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
4.
Special session: Hot topic: Smart silicon
机译:
特别会议:热门话题:智能硅
作者:
Winemberg LeRoy
;
Tehranipoor Mohammad
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
5.
Special session: Hot topic design and test of 3D and emerging memories
机译:
特别会议:热门主题设计以及3D和新兴内存的测试
作者:
Wu Cheng-Wen
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
6.
Test and characterization of high-speed circuits
机译:
高速电路的测试与表征
作者:
Shaikh Saghir
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
7.
Special session: Multifaceted approaches for field reliability
机译:
特别会议:现场可靠性的多方面方法
作者:
Sato Yasuo
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
8.
The buck stops with wafer test: Dream or reality?
机译:
硅片测试推高了成本:梦想还是现实?
作者:
Natarajan Suriyaprakash
;
Sinha Arani
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
9.
Special session 4A: New topics parametric yield and reliability of 3D integrated circuits: New challenges and solutions
机译:
特别会议4A:3D集成电路的新主题参量和可靠性:新挑战和解决方案
作者:
Garg Siddharth
;
Marculescu Diana
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
10.
Apprentice - VTS edition: Season 4
机译:
学徒-VTS版:第4季
作者:
Kim Kee Sup
;
Roy Rob
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
11.
Special session 5B: Panel How much toggle activity should we be testing with?
机译:
特别会议5B:小组我们应该测试多少切换活动?
作者:
Wen Xiaoqing
;
Tehranipoor Mohammad
;
Kapur Rohit
;
Bhat Anand
;
Majumdar Amitava
;
Winemberg LeRoy
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
12.
The bang for the buck with resiliency: Yield or field?
机译:
具有弹性的价格优势:收益还是田间?
作者:
Sinha Arani
;
Natarajan Suriyaprakash
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
13.
Calibrated high-efficiency testing and modelling methodologies for concentrated multi-junction solar cells
机译:
集中式多结太阳能电池的经过校准的高效测试和建模方法
作者:
Wheeldon Jeffrey F.
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
14.
Coverage closure in SoC verification: Are we chasing a mirage?
机译:
SoC验证中的覆盖范围封闭:我们正在追逐海市rage楼吗?
作者:
Vasudevan Shobha
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
15.
Covers
机译:
盖子
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
16.
Title pages
机译:
标题页
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
17.
Harmony Widget for X-free scan testing
机译:
Harmony Widget,用于无X扫描测试
作者:
Bhavsar Dilip K.
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
关键词:
ATPG;
Conention-Free ATPG;
DFT;
Scan;
Testing;
18.
Invited paper: Yin and Yang of embedded sensors for post-scaling-era
机译:
特邀论文:后缩放时代嵌入式传感器的阴阳
作者:
Gattiker Anne
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
19.
Security-aware SoC test access mechanisms
机译:
安全意识的SoC测试访问机制
作者:
Rosenfeld Kurt
;
Karri Ramesh
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
20.
Table of contents
机译:
目录
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
21.
Automatic test stimulus generation for accurate diagnosis of RF systems using transient response signatures
机译:
使用瞬态响应特征自动生成测试激励,以精确诊断射频系统
作者:
Banerjee Aritra
;
Sen Shreyas
;
Devarakond Shyam Kumar
;
Chatterjee Abhijit
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
22.
Non-linear analog circuit test and diagnosis under process variation using V-Transform coefficients
机译:
使用V变换系数的过程变化下的非线性模拟电路测试和诊断
作者:
Sindia Suraj
;
Agrawal Vishwani D.
;
Singh Virendra
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
23.
A diagnosis testbench of analog IP cores against on-chip environmental disturbances
机译:
模拟IP内核针对片上环境干扰的诊断测试台
作者:
Hashida Takushi
;
Araga Yuuki
;
Nagata Makoto
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
24.
A scan cell architecture for inter-clock at-speed delay testing
机译:
用于时钟间全速延迟测试的扫描单元架构
作者:
Cho Kyoung Youn
;
Srinivasan Rajagopalan
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
关键词:
at-speed testing;
delay testing;
design for testability (DFT);
inter-clock logic;
scan cell architecture;
25.
Design and implementation of a time-division multiplexing scan architecture using serializer and deserializer in GPU chips
机译:
在GPU芯片中使用串行器和解串器的时分多路复用扫描架构的设计和实现
作者:
Sanghani Amit
;
Yang Bo
;
Natarajan Karthikeyan
;
Liu Chunsheng
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
26.
Localization of damaged resources in NoC based shared-memory MP2SOC, using a Distributed Cooperative Configuration Infrastructure
机译:
使用分布式协作配置基础结构在基于NoC的共享内存MP2SOC中本地化损坏的资源
作者:
Zhang Zhen
;
Refauvelet Dimitri
;
Greiner Alain
;
Benabdenbi Mounir
;
Pecheux Francois
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
27.
Exponent monitoring for low-cost concurrent error detection in FPU control logic
机译:
FPU控制逻辑中用于低成本并发错误检测的指数监控
作者:
Maniatakos Michail
;
Makris Yiorgos
;
Kudva Prabhakar
;
Fleischer Bruce
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
28.
Enhancing online error detection through area-efficient multi-site implications
机译:
通过具有区域效率的多站点含义来增强在线错误检测
作者:
Alves N.
;
Shi Y.
;
Dworak J.
;
Bahar R. I.
;
Nepal K.
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
29.
Dynamic scan clock control for test time reduction maintaining peak power limit
机译:
动态扫描时钟控制可减少测试时间,保持峰值功率限制
作者:
Shanmugasundaram Priyadharshini
;
Agrawal Vishwani D.
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
关键词:
Scan test;
adaptive test clock;
on-chip activity monitor;
test power;
test time reduction;
30.
Structural tests of slave clock gating in low-power flip-flop
机译:
低功耗触发器中从时钟选通的结构测试
作者:
Wang Baosheng
;
Rajaraman Jayalakshmi
;
Sobti Kanwaldeep
;
Losli Derrick
;
Rearick Jeff
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
关键词:
Diagnosis;
Low-power Flip-flop;
Slave Clock Gating;
Structural Test;
31.
Revival of partial scan: Test cube analysis driven conversion of flip-flops
机译:
复兴部分扫描:测试立方体分析驱动触发器的转换
作者:
Alawadhi Nader
;
Sinanoglu Ozgur
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
32.
Memory-based embedded digital ATE
机译:
基于内存的嵌入式数字ATE
作者:
Lee Dongsoo
;
Park Sang Phill
;
Goel Ashish
;
Roy Kaushik
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
33.
A unified test architecture for on-line and off-line delay fault detections
机译:
用于在线和离线延迟故障检测的统一测试架构
作者:
Pei Songwei
;
Li Huawei
;
Li Xiaowei
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
关键词:
delay fault detection;
on-line testing;
stabilty checker;
34.
Design for Bit Error Rate estimation of high speed serial links
机译:
高速串行链路的误码率估计设计
作者:
Guin Ujjwal
;
Chiang Chen-Huan
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
35.
An efficient test data reduction technique through dynamic pattern mixing across multiple fault models
机译:
通过跨多个故障模型进行动态模式混合的有效测试数据减少技术
作者:
Alampally S.
;
Venkatesh R. T.
;
Shanmugasundaram P.
;
Parekhji R. A.
;
Agrawal V. D.
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
关键词:
ATPG optimizations;
composite fault models;
pattern merge;
test data volume reduction;
36.
Low Coverage Analysis using dynamic un-testability debug in ATPG
机译:
在ATPG中使用动态不可测试调试进行低覆盖率分析
作者:
Chandrasekar Kameshwar
;
Bommu Surendra
;
Sengupta Sanjay
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
37.
Prediction of compression bound and optimization of compression architecture for linear decompression-based schemes
机译:
基于线性解压缩方案的压缩范围预测和压缩体系结构优化
作者:
Li Jia
;
Huang Yu
;
Xiang Dong
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
关键词:
compression bound prediction;
linear decompression-based;
test compression;
test compression optimization;
38.
Multi Domain Test: Novel test strategy to reduce the Cost of Test
机译:
多域测试:降低测试成本的新颖测试策略
作者:
Takahashi Yasuhiro
;
Maeda Akinori
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
关键词:
Concurrent Test Multi Site Test;
Costs Of Test (COT);
Multi Domain Test;
Test System Configuration;
39.
Low-cost diagnostic pattern generation and evaluation procedures for noise-related failures
机译:
用于噪声相关故障的低成本诊断模式生成和评估程序
作者:
Ma Junxia
;
Ahmed Nisar
;
Tehranipoor Mohammad
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
关键词:
Crosstalk;
Delay Test;
Diagnosis;
Power Supply Noise;
Quiet Pattern Generation;
40.
Sigma-delta modulation based wafer-level testing for TFT-LCD source driver ICs
机译:
TFT-LCD源驱动器IC的基于Sigma-Delta调制的晶圆级测试
作者:
Lin W.-A.
;
Lee C.-C.
;
Huang J.-L.
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
关键词:
TFT-LCD;
built-in self-testing;
mixed-signal testing;
sigma-delta modulation;
source driver;
41.
Understanding customer returns from a test perspective
机译:
从测试角度了解客户退货
作者:
Sumikawa Nik
;
Drmanac Dragoljub
;
Wang Li-C.
;
Winemberg LeRoy
;
Abadir Magdy S.
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
42.
A distributed AXI-based platform for post-silicon validation
机译:
用于硅后验证的基于AXI的分布式平台
作者:
Neishaburi M. H
;
Zilic Zeljko
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
43.
Efficient trace data compression using statically selected dictionary
机译:
使用静态选择的字典进行有效的跟踪数据压缩
作者:
Basu Kanad
;
Mishra Prabhat
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
44.
A built-in self-test scheme for the post-bond test of TSVs in 3D ICs
机译:
内置自测方案,用于3D IC中TSV的键合后测试
作者:
Huang Yu-Jen
;
Li Jin-Fu
;
Chen Ji-Jan
;
Kwai Ding-Ming
;
Chou Yung-Fa
;
Wu Cheng-Wen
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
45.
Scan chain and power delivery network synthesis for pre-bond test of 3D ICs
机译:
扫描链和功率传输网络综合,用于3D IC的预键合测试
作者:
Panth Shreepad
;
Lim Sung Kyu
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
关键词:
3D ICs;
power delivery network;
pre-bond test;
probe test;
structural test;
46.
Exploiting rotational symmetries for improved stacked yields in W2W 3D-SICs
机译:
利用旋转对称性提高W2W 3D-SIC中的堆叠成品率
作者:
Singh Eshan
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
47.
Expedited response compaction for scan power reduction
机译:
加快响应压缩,降低扫描功率
作者:
Saeed Samah Mohamed
;
Sinanoglu Ozgur
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
48.
Leakage power profiling and leakage power reduction using DFT hardware
机译:
使用DFT硬件进行泄漏功率分析和降低泄漏功率
作者:
Sethuram Rajamani
;
Arabi Karim
;
Abu-Rahma Mohamed
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
49.
Levelized low cost delay test compaction considering IR-drop induced power supply noise
机译:
考虑IR压降引起的电源噪声的均衡低成本延迟测试压实
作者:
Jiang Zhongwei
;
Wang Zheng
;
Wang Jing
;
Walker D. M. H.
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
关键词:
IR drop;
delay test;
dynamic compaction;
power supply noise;
static compaction;
50.
Case Study: Efficient SDD test generation for very large integrated circuits
机译:
案例研究:针对超大型集成电路的高效SDD测试生成
作者:
Peng Ke
;
Fang Bao
;
Shofner Geoff
;
Winemberg LeRoy
;
Tehranipoor Mohammad
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
51.
Static test compaction for delay fault test sets consisting of broadside and skewed-load tests
机译:
静态测试压缩,用于延迟故障测试集,包括侧面测试和偏载测试
作者:
Pomeranz Irith
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
关键词:
Broadside tests;
scan circuits;
skewed-load tests;
static test compaction;
transition faults;
52.
Efficient and product-representative timing model validation
机译:
高效且具有代表性的时序模型验证
作者:
Eun Jung Jang
;
Gattiker Anne
;
Nassif Sani
;
Abraham Jacob A.
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
53.
Design and analysis of ring oscillator based Design-for-Trust technique
机译:
基于信任设计的环形振荡器的设计与分析
作者:
Rajendran Jeyavijayan
;
Jyothi Vinayaka
;
Sinanoglu Ozgur
;
Karri Ramesh
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
54.
A Novel mechanism for speed characterization during delay test
机译:
一种新型的延迟测试速度表征机制
作者:
Majumdar Amitava
;
Sinha Arani
;
Patel Nehal
;
Setty Ramamurthy
;
Yan Dong
;
Shu-Hsuan Chou
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
关键词:
IR drop;
di/dt noise;
launch-off-capture;
pipelined scan enable;
55.
An efficient method to screen resistive opens under presence of process variation
机译:
在存在工艺变化的情况下屏蔽电阻开路的有效方法
作者:
Wang Seongmoon
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
56.
On clustering of undetectable transition faults in standard-scan circuits
机译:
关于标准扫描电路中无法检测到的过渡故障的聚集
作者:
Pomeranz Irith
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
关键词:
Double faults;
scan circuits;
transition faults;
undetectable faults;
57.
Designing a fast and adaptive error correction scheme for increasing the lifetime of phase change memories
机译:
设计一种快速且自适应的纠错方案以延长相变存储器的寿命
作者:
Datta Rudrajit
;
Touba Nur A.
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
58.
Programmable extended SEC-DED codes for memory errors
机译:
可编程扩展SEC-DED代码可解决内存错误
作者:
Gherman Valentin
;
Evain Samuel
;
Auzanneau Fabrice
;
Bonhomme Yannick
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
关键词:
BISR;
error correction;
memory repair;
yield;
59.
Training-based forming process for RRAM yield improvement
机译:
基于培训的成型工艺可提高RRAM的良率
作者:
Hsiu-Chuan Shih
;
Ching-Yi Chen
;
Cheng-Wen Wu
;
Lin Chih-He
;
Sheu Shyh-Shyuan
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
60.
Modified flip-flop architecture to reduce hold buffers and peak power during scan shift operation
机译:
修改后的触发器架构可减少扫描移位操作期间的保持缓冲区和峰值功率
作者:
Narayanan Prakash
;
Mittal Rajesh
;
Poddutur Sumanth
;
Singhal Vivek
;
Sabbarwal Puneet
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
关键词:
Hold timing closure;
etc;
scan shift power;
slack profile;
61.
Power-safe test application using an effective gating approach considering current limits
机译:
使用有效选通方法的电源安全测试应用,考虑电流限制
作者:
Zhao Wei
;
Tehranipoor Mohammad
;
Chakravarty Sreejit
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
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2011年
关键词:
capture power;
low power test;
scan cell gating;
shift power;
tester probe;
weighted switching;
62.
Power-aware test generation with guaranteed launch safety for at-speed scan testing
机译:
具有电源意识的测试生成,保证了全速扫描测试的启动安全性
作者:
Wen X.
;
Enokimoto K.
;
Miyase K.
;
Yamato Y.
;
Kochte M. A.
;
Kajihara S.
;
Girard P.
;
Tehranipoor M.
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
关键词:
at-speed scan testing;
launch safety;
power supply noise;
test generation;
test power;
63.
SLIDER: A fast and accurate defect simulation framework
机译:
SLIDER:快速准确的缺陷仿真框架
作者:
Tam Wing Chiu
;
Blanton R. D.
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
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2011年
关键词:
defect modeling;
layout analysis;
mixed-signal simulation;
volume diagnosis;
yield learning;
64.
An industrial case study of analog fault modeling
机译:
模拟故障建模的工业案例研究
作者:
Yilmaz Ender
;
Meixner Anne
;
Ozev Sule
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
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2011年
65.
A new methodology for realistic open defect detection probability evaluation under process variations
机译:
工艺变化下现实的开放缺陷检测概率评估的新方法
作者:
Moreno Jesus
;
Champac Victor
;
Renovell Michel
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
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2011年
66.
Impact of the application activity on intermittent faults in embedded systems
机译:
应用程序活动对嵌入式系统中间歇性故障的影响
作者:
Guilhemsang Julien
;
Heron Olivier
;
Ventroux Nicolas
;
Goncalves Olivier
;
Giulieri Alain
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
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2011年
关键词:
FPGA;
Intermittent faults;
aging;
embedded processor cores;
67.
An analytical method for estimating SET propagation
机译:
一种估计SET传播的分析方法
作者:
Gangadhar Sreenivas
;
Tragoudas Spyros
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
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2011年
68.
Adaptive Error-Prediction Flip-flop for performance failure prediction with aging sensors
机译:
自适应错误预测触发器,用于使用老化传感器进行性能故障预测
作者:
Martins C. V.
;
Semiao J.
;
Vazquez J. C.
;
Champac V.
;
Santos M.
;
Teixeira I. C.
;
Teixeira J. P.
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
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2011年
关键词:
NBTI;
aging sensor;
delay insertion;
performance failure prediction;
69.
Author index
机译:
作者索引
会议名称:
《2011 29th IEEE VLSI Test Symposium》
|
2011年
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