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Test Conference, 2004. Proceedings. ITC 2004
Test Conference, 2004. Proceedings. ITC 2004
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1.
AC IO loopback design for high speed μprocessor IO test
机译:
AC IO回送设计,用于高速微处理器IO测试
作者:
Provost B.
;
Huang T.
;
Lim C.H.
;
Tian K.
;
Bashir M.
;
Atha M.
;
Muhtaroglu A.
;
Zhao C.
;
Muljono H.
会议名称:
《Test Conference, 2004. Proceedings. ITC 2004》
|
2004年
2.
Defect detection under realistic leakage models using multiple I
DDQ
measurements
机译:
使用多个I
DDQ sub>测量在实际泄漏模型下进行缺陷检测
作者:
Patel C.
;
Singh A.
;
Plusquellic J.
会议名称:
《Test Conference, 2004. Proceedings. ITC 2004》
|
2004年
3.
I/O self-leakage test
机译:
I / O自泄漏测试
作者:
Muhtaroglu A.
;
Provost B.
;
Rahal-Arabi T.
;
Taylor G.
会议名称:
《Test Conference, 2004. Proceedings. ITC 2004》
|
2004年
关键词:
automatic testing;
leakage currents;
design for testability;
integrated circuit testing;
condition monitoring;
I/O self leakage test;
leakage current;
on-chip leakers;
voltage drop;
pass/fail condition detection;
silicon data;
high volume leakage monitoring;
on-die DFT overhead;
design for test;
4.
'Real life' system testing of networking equipment
机译:
联网设备的“现实生活”系统测试
作者:
Kalidindi S.
;
Huynh N.
;
Eklow B.
;
Goldstein J.
会议名称:
《Test Conference, 2004. Proceedings. ITC 2004》
|
2004年
关键词:
computer equipment testing;
conformance testing;
test equipment;
network routing;
real life system testing;
networking equipment;
network traffic generators;
unit under test;
test equipment;
hardware-software interaction;
conformance testing;
vendors;
networking systems;
real life system test methodology;
5.
CMOS IC diagnostics using the luminescence of off-state leakage currents
机译:
利用关态泄漏电流的发光进行CMOS IC诊断
作者:
Polonsky S.
;
Jenkins K.A.
;
Weger A.
;
Shinho Cho
会议名称:
《Test Conference, 2004. Proceedings. ITC 2004》
|
2004年
关键词:
CMOS integrated circuits;
luminescence;
leakage currents;
CMOS logic circuits;
integrated circuit testing;
noise measurement;
optical variables measurement;
logic testing;
CMOS IC diagnostics;
luminescence;
off-state leakage currents;
light emission;
photon detectors;
optical techniques;
transient logic state detection;
transient device temperature measurement;
signal integrity analysis;
crosstalk measurements;
power supply noise measurements;
6.
Digital synchronization for reconfigurable ATE
机译:
可重新配置ATE的数字同步
作者:
West B.G.
;
Jones M.F.
会议名称:
《Test Conference, 2004. Proceedings. ITC 2004》
|
2004年
关键词:
automatic test equipment;
synchronisation;
integrated circuit testing;
field programmable gate arrays;
digital synchronization;
reconfigurable ATE;
instrument synchronization methods;
integrated circuit test;
measurement instruments;
active test instruments;
bus trigger arrangement;
star trigger arrangement;
vector synchronisation;
Xilinx Virtex2 FPGA;
7.
Divide and conquer based Fast Shmoo algorithms
机译:
基于分治法的Fast Shmoo算法
作者:
Patten P.
会议名称:
《Test Conference, 2004. Proceedings. ITC 2004》
|
2004年
关键词:
integrated circuit testing;
digital integrated circuits;
divide and conquer methods;
circuit optimisation;
divide and conquer algorithms;
Fast Shmoo algorithms;
Shmoo plots;
digital IC testing;
optimization;
device characterization;
time reduction;
8.
Feed forward test methodology utilizing device identification
机译:
利用设备识别的前馈测试方法
作者:
Cabbibo A.
;
Conder J.
;
Jacobs M.
会议名称:
《Test Conference, 2004. Proceedings. ITC 2004》
|
2004年
关键词:
packaging;
identification technology;
production testing;
reliability;
feed forward test methodology;
device identification;
package test;
wafer test;
unique die level identification;
data collection;
reliability testing;
9.
Future trends in test: the adoption and use of low cost structural testers
机译:
测试的未来趋势:低成本结构测试仪的采用和使用
作者:
Crouch A.L.
会议名称:
《Test Conference, 2004. Proceedings. ITC 2004》
|
2004年
关键词:
time to market;
cost reduction;
design for testability;
production testing;
low cost structural testers;
desktop structural testers;
production test cost reduction;
time to market;
test program development;
yield learning diagnosis;
production probe;
10.
Scan based side channel attack on dedicated hardware implementations of Data Encryption Standard
机译:
对数据加密标准的专用硬件实现的基于扫描的边信道攻击
作者:
Bo Yang
;
Kaijie Wu
;
Ramesh Karri
会议名称:
《Test Conference, 2004. Proceedings. ITC 2004》
|
2004年
关键词:
boundary scan testing;
cryptography;
design for testability;
application specific integrated circuits;
scan based side channel attack;
hardware implementations;
data encryption standard;
scan based test;
scan chains;
systematic analysis;
nonlinear substitution boxes;
plaintexts;
secret key recovery;
ASIC;
design for testability;
11.
System monitor for diagnostic, calibration and system configuration
机译:
系统监视器,用于诊断,校准和系统配置
作者:
Gavardoni M.
;
Jones M.
;
Poffenberger R.
;
Conde M.
会议名称:
《Test Conference, 2004. Proceedings. ITC 2004》
|
2004年
关键词:
system monitoring;
computerised instrumentation;
configuration management;
calibration;
field programmable gate arrays;
power control;
fault diagnosis;
calibration;
diagnostic monitoring;
system configuration;
system monitoring mechanism;
instrumentation;
configurable tester;
temperature monitoring;
voltage monitoring;
power control;
configuration management;
FPGA;
12.
Test strategies for a 40 Gbps framer SoC
机译:
40 Gbps成帧器SoC的测试策略
作者:
Heineken H.T.
;
Khare J.B.
会议名称:
《Test Conference, 2004. Proceedings. ITC 2004》
|
2004年
关键词:
system-on-chip;
integrated circuit testing;
design for manufacture;
design for testability;
digital phase locked loops;
delay lock loops;
integrated circuit design;
circuit complexity;
40 Gbps framer SoC;
integrated circuit test method;
DFT;
DFM;
design for debug;
multiple PLL;
multiple DLL;
circuit complexity;
40 Gbit/s;
2.5 GHz;
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