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IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
召开年:
2016
召开地:
Catalunya(ES)
出版时间:
-
会议文集:
-
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共
346
条结果
1.
IOLTS 2021 Organizing Committee
机译:
IOLTS 2021组委会
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
2.
Neuron-PUF: Physical Unclonable Function Based on a Single Spiking Neuron
机译:
Neuron-Puf:基于单一尖刺神经元的物理不可渗透功能
作者:
Mohamed Elshamy
;
Haralampos-G. Stratigopoulos
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Measurement;
Simulation;
Neurons;
Computer architecture;
Physical unclonable function;
Stability analysis;
Robustness;
3.
Adaptive-HMD: Accurate and Cost-Efficient Machine Learning-Driven Malware Detection using Microarchitectural Events
机译:
Adaptive-HMD:使用微架构事件准确且经济高效的机器学习驱动的恶意软件检测
作者:
Yifeng Gao
;
Hosein Mohammadi Makrani
;
Mehrdad Aliasgari
;
Amin Rezaei
;
Jessica Lin
;
Houman Homayoun
;
Hossein Sayadi
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Adaptation models;
Machine learning algorithms;
Microarchitecture;
Software algorithms;
Resists;
Malware;
Hardware;
4.
A Method for Measuring Process Variations in the FPGA Chip Considering the Effect of Wire Delay
机译:
考虑线延迟效应测量FPGA芯片过程变化的方法
作者:
Yukiya Miura
;
Shingo Tsutsumi
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Ring oscillators;
Semiconductor device measurement;
Wires;
Position measurement;
Cyclones;
Frequency measurement;
Delays;
5.
Robust Adaptive Read Scheme for 7nm Configuration SRAMs
机译:
7nm配置SRAM的鲁棒自适应读取方案
作者:
Sree Rama KC Saraswatula
;
Santosh Yachareni
;
Shidong Zhou
;
Narendra Pulipati
;
Joy Chen
;
Teja Masina
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Negative feedback;
Emulation;
Random access memory;
Logic gates;
FinFETs;
Silicon;
Generators;
6.
Reducing Overprovision of Triple Modular Reduncancy Owing to Approximate Computing
机译:
由于近似计算而降低三重模块化冗余的过度控制
作者:
Bastien Deveautour
;
Marcello Traiola
;
Arnaud Virazel
;
Patrick Girard
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Integrated circuits;
Power demand;
Fault tolerant systems;
Approximate computing;
Redundancy;
Circuit faults;
Integrated circuit reliability;
7.
Unsupervised Recycled FPGA Detection Based on Direct Density Ratio Estimation
机译:
基于直接密度估计的无监督再生的FPGA检测
作者:
Yuya Isaka
;
Foisal Ahmed
;
Michihiro Shintani
;
Michiko Inoue
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Ring oscillators;
Semiconductor device measurement;
Systematics;
Supply chains;
Estimation;
Training data;
Field programmable gate arrays;
8.
Addressing Soft Error and Security Threats in DNNs Using Learning Driven Algorithmic Checks
机译:
使用学习驱动的算法检查解决DNN中的软错误和安全威胁
作者:
Chandramouli Amarnath
;
Md Imran Momtaz
;
Abhijit Chatterjee
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Deep learning;
Fault tolerance;
Software algorithms;
Fault tolerant systems;
Software;
Real-time systems;
Trojan horses;
9.
Data Augmentation for Machine Learning-Based Hardware Trojan Detection at Gate-Level Netlists
机译:
基于机器学习的硬件木工检测的数据增强
作者:
Kento Hasegawa
;
Seira Hidano
;
Kohei Nozawa
;
Shinsaku Kiyomoto
;
Nozomu Togawa
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Training;
Machine learning algorithms;
Supply chains;
Machine learning;
Logic gates;
Hardware;
Telecommunications;
10.
FPGA Checkpointing for Scientific Computing
机译:
科学计算的FPGA检查点
作者:
Marc Perelló Bacardit
;
Leonardo Bautista-Gomez
;
Osman Unsal
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Checkpointing;
Fault tolerance;
Power demand;
Scientific computing;
Fault tolerant systems;
Libraries;
System-on-chip;
11.
Concurrent Test of Reconfigurable Scan Networks for Self-Aware Systems
机译:
用于自我感知系统可重新配置扫描网络的并发测试
作者:
Chih-Hao Wang
;
Natalia Lylina
;
Ahmed Atteya
;
Tong-Yu Hsieh
;
Hans-Joachim Wunderlich
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Runtime;
Instruments;
Scalability;
Built-in self-test;
Hardware;
Sensor systems;
Sensors;
12.
MOZART: Masking Outputs with Zeros for Architectural Robustness and Testing of DNN Accelerators
机译:
莫扎特:用零掩盖输出,用于建筑鲁棒性和DNN加速器的测试
作者:
Stéphane Burel
;
Adrian Evans
;
Lorena Anghel
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Training;
Performance evaluation;
Fault tolerance;
Fault detection;
Fault tolerant systems;
Life estimation;
Robustness;
13.
Towards Error Resilient and Power-Efficient Adaptive Multiprocessor System using Highly Configurable and Flexible Cross-Layer Framework
机译:
朝向使用高度可配置和灵活的跨层框架的误差弹性和高功率的自适应多处理系统
作者:
Mitko Veleski
;
Michael Hübner
;
Milos Krstic
;
Rolf Kraemer
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Measurement;
Adaptive systems;
Power demand;
Redundancy;
Complexity theory;
System analysis and design;
Multiprocessing systems;
14.
An Anomalous Behavior Detection Method Based on Power Analysis Utilizing Steady State Power Waveform Predicted by LSTM
机译:
基于LSTM预测的稳态功率波形的基于功率分析的异常行为检测方法
作者:
Kazunari Takasaki
;
Ryoichi Kida
;
Nozomu Togawa
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Operating systems;
Software;
Hardware;
Steady-state;
Internet of Things;
Security;
System analysis and design;
15.
System-Level Test: State of the Art and Challenges
机译:
系统级测试:艺术状态和挑战
作者:
D. Appello
;
H. H. Chen
;
M. Sauer
;
I. Polian
;
P. Bernardi
;
M. Sonza Reorda
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Semiconductor device modeling;
Automatic test equipment;
Systematics;
Focusing;
Companies;
System-on-chip;
Optimization;
16.
Hardware-Trojan Classification based on the Structure of Trigger Circuits Utilizing Random Forests
机译:
基于随机林的触发电路结构的硬件 - 木马分类
作者:
Tatsuki Kurihara
;
Nozomu Togawa
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Integrated circuits;
Benchmark testing;
Feature extraction;
Hardware;
Manufacturing;
Trojan horses;
Internet of Things;
17.
A Suitability Analysis of Software Based Testing Strategies for the On-line Testing of Artificial Neural Networks Applications in Embedded Devices
机译:
基于软件测试策略的适用性分析嵌入式设备中人工神经网络应用的在线测试
作者:
A. Ruospo
;
D. Piumatti
;
A. Floridia
;
E. Sanchez
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Performance evaluation;
Fault detection;
Predictive models;
Libraries;
Hardware;
Real-time systems;
Tuning;
18.
Dynamic Verification of Approximate Computing Circuits using Coverage-based Grey-box Fuzzing
机译:
基于覆盖基于灰度盒模糊的近似计算电路的动态验证
作者:
Kazuki Yoshisue
;
Yutaka Masuda
;
Tohru Ishihara
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Feedback loop;
Approximate computing;
Fuzzing;
Software;
Space exploration;
Quality assessment;
Timing;
19.
CDF Distance Based Statistical Parameter Extraction Using Nonlinear Delay Variation Models
机译:
基于CDF距离的统计参数利用非线性延迟变化模型提取
作者:
Kensuke Murakami
;
Mahfuzul Islam
;
Hidetoshi Onodera
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Semiconductor device measurement;
Voltage measurement;
Exponential distribution;
Silicon-on-insulator;
Threshold voltage;
Delays;
Data mining;
20.
A Memristive Architecture for Process Variation Aware Gas Sensing and Logic Operations
机译:
一种用于过程变异感知气体感应和逻辑操作的忆故架构
作者:
Saurabh Khandelwal
;
Marco Ottavi
;
Eugenio Martinelli
;
Abusaleh Jabir
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Resistance;
Power demand;
Sensitivity;
Scalability;
Wires;
Switches;
Hardware;
21.
Integrating an Interconnect BIST with Crosstalk Avoidance Hardware
机译:
将互连BIST与串扰避免硬件集成
作者:
Mahsa Akhsham
;
Zainalabedin Navabi
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Fault detection;
Wires;
Crosstalk;
Built-in self-test;
Benchmark testing;
SPICE;
Hardware;
22.
A New Domains-based Isolation Design Flow for Reconfigurable SoCs
机译:
可重新配置SoC的基于新域的隔离设计流程
作者:
Andrea Portaluri
;
Corrado De Sio
;
Sarah Azimi
;
Luca Sterpone
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Design methodology;
Mission critical systems;
Reliability engineering;
System-on-chip;
Circuit faults;
Sea level;
Integrated circuit reliability;
23.
SafeDE: a flexible Diversity Enforcement hardware module for light-lockstepping
机译:
SAFEDE:用于轻型锁定的灵活分集执行硬件模块
作者:
Francisco Bas
;
Sergi Alcaide
;
Ruben Lorenzo
;
Guillem Cabo
;
Guillermo Gil
;
Oriol Sala
;
Fabio Mazzocchetti
;
David Trilla
;
Jaume Abella
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Multicore processing;
Redundancy;
Aerospace electronics;
Hardware;
Software;
Safety;
Task analysis;
24.
SafeTI: a Hardware Traffic Injector for MPSoC Functional and Timing Validation
机译:
SafeTi:用于MPSoC功能和定时验证的硬件流量注射器
作者:
Oriol Sala
;
Sergi Alcaide
;
Guillem Cabo
;
Francisco Bas
;
Ruben Lorenzo
;
Pedro Benedicte
;
David Trilla
;
Guillermo Gil
;
Fabio Mazzocchetti
;
Jaume Abella
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Uncertainty;
Traffic control;
Aerospace electronics;
Software;
Hardware;
Timing;
System-on-chip;
25.
TAURUM P2T: Advanced Secure CAN-FD Architecture for Road Vehicle
机译:
Taurum P2T:公路车辆的先进安全CAN-FD架构
作者:
Franco Oberti
;
Ernesto Sanchez
;
Alessandro Savino
;
Filippo Parisi
;
Stefano di Carlo
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Performance evaluation;
Limiting;
Road vehicles;
Supply chains;
Production;
Logic gates;
Hardware;
26.
Self-Test Libraries Analysis for Pipelined Processors Transition Fault Coverage Improvement
机译:
流水线处理器的自测库分析转换故障覆盖改进
作者:
Riccardo Cantoro
;
Patrick Girard
;
Riccardo Masante
;
Sandro Sartoni
;
Matteo Sonza Reorda
;
Arnaud Virazel
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Systematics;
Program processors;
Built-in self-test;
Libraries;
Delays;
Safety;
Registers;
27.
Automated Dysfunctional Model Extraction for Model Based Safety Assessment of Digital Systems
机译:
基于模型的数字系统安全评估自动功能功能模型提取
作者:
Tiziano Fiorucci
;
Jean-Marc Daveau
;
Giorgio di Natale
;
Philippe Roche
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Systematics;
Quality assurance;
Random access memory;
Single event upsets;
Failure analysis;
Tools;
Safety;
28.
Flip Flop Weighting: A technique for estimation of safety metrics in Automotive Designs
机译:
触发器加权:汽车设计中安全指标估算技术
作者:
Felipe Augusto da Silva
;
Ahmet Cagri Bagbaba
;
Said Hamdioui
;
Christian Sauer
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Measurement;
Integrated circuits;
Fault detection;
Estimation;
Tools;
Logic gates;
Hardware;
29.
Online Fast Detection and Diagnosis of Power Grid Security Attacks Using State Checksums
机译:
使用国家校验和在线快速检测和诊断电网安全攻击
作者:
Suvadeep Banerjee
;
Abhijit Chatterjee
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Simulation;
Power system dynamics;
Side-channel attacks;
Power grids;
Encryption;
Complexity theory;
Security;
30.
IOLTS 2021 Foreword
机译:
iolts 2021前言
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
31.
Metallic Ratio Equivalent-Time Sampling: A Highly Efficient Waveform Acquisition Method
机译:
金属比等同时间采样:高效波形采集方法
作者:
Shuhei Yamamoto
;
Yuto Sasaki
;
Yujie Zhao
;
Jianglin Wei
;
Anna Kuwana
;
Keno Sato
;
Takashi Ishida
;
Toshiyuki Okamoto
;
Tamotsu Ichikawa
;
Takayuki Nakatani
;
Tri Minh Tran
;
Shogo Katayama
;
Kazumi Hatayama
;
Haruo Kobayashi
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Time-frequency analysis;
Shape;
Shape measurement;
Signal generators;
Frequency measurement;
Mathematical model;
Integrated circuit modeling;
32.
High-level Intellectual Property Obfuscation via Decoy Constants
机译:
通过诱饵常数的高级知识产权混淆
作者:
Levent Aksoy
;
Quang-Linh Nguyen
;
Felipe Almeida
;
Jaan Raik
;
Marie-Lise Flottes
;
Sophie Dupuis
;
Samuel Pagliarini
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Reverse engineering;
Intellectual property;
Logic gates;
Automatic test pattern generation;
Hardware;
Foundries;
Complexity theory;
33.
Protecting GPU's Microarchitectural Vulnerabilities via Effective Selective Hardening
机译:
通过有效的选择性硬化保护GPU的微体建筑漏洞
作者:
Josie E. Rodriguez Condia
;
Paolo Rech
;
Fernando Fernandes dos Santos
;
Luigi Carrot
;
Matteo Sonza Reorda
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Microarchitecture;
Pipelines;
Redundancy;
Graphics processing units;
Hardware;
Real-time systems;
Registers;
34.
EnSuRe: Energy Accuracy Aware Fault-tolerant Scheduling on Real-time Heterogeneous Systems
机译:
确保:实时异构系统上的能量和准确性意识到容错调度
作者:
Sangeet Saha
;
Adewale Adetomi
;
Xiaojun Zhai
;
Server Kasap
;
Shoaib Ehsan
;
Tughrul Arslan
;
Klaus McDonald-Maier
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2021年
关键词:
Fault tolerance;
Schedules;
Program processors;
Simulation;
Fault tolerant systems;
Benchmark testing;
Real-time systems;
35.
Methodology for Tradeoffs between Performance and Lifetimes of Integrated Circuits
机译:
集成电路性能和寿命之间的权衡的方法
作者:
Daniel Weyer
;
Francis Wolff
;
Chris Papachristou
;
Steve Clay
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Current density;
Integrated circuit interconnections;
Wires;
Metals;
Electromigration;
Resistance;
36.
Flight Safety Certification Implications for Complex Multi-Core Processor based Avionics Systems
机译:
基于复杂的多核处理器的航空电子系统的飞行安全认证含义
作者:
Jyotika Athavale
;
Riccardo Mariani
;
Michael Paulitsch
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Safety;
Aerospace electronics;
Certification;
Multicore processing;
Software;
Aircraft;
37.
Efficient Concurrent Error Detection for SEC-DAEC Encoders
机译:
SEC-DAEC编码器的高效并发错误检测
作者:
Jiaqiang Li
;
Pedro Reviriego
;
Costas Argyrides
;
Liyi Xiao
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Error correction codes;
Parity check codes;
Decoding;
Microelectronics;
Single event upsets;
Fault tolerance;
38.
Run-time Detection and Mitigation of Power-Noise Viruses
机译:
噪声病毒的运行时间检测和缓解
作者:
Vasileios Tenentes
;
Shidhartha Das
;
Daniele Rossi
;
Bashir M. Al-Hashimi
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Viruses (medical);
Benchmark testing;
Microprocessors;
Resonant frequency;
Threshold voltage;
Security;
System-on-chip;
39.
Comparison of Radiation Hardness of Stacked Transmission-Gate Flip Flop and Stacked Tristate-Inverter Flip Flop in a 65 nm Thin BOX FDSOI Process
机译:
65 nm薄盒FDSOI工艺中堆叠透射栅极触发器辐射硬度辐射硬度和堆叠三晶逆变触发器
作者:
Mitsunori Ebara
;
Kodai Yamada
;
Jun Furuta
;
Kazutoshi Kobayashi
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Radiation effects;
Ions;
Neutrons;
Delays;
Silicon-on-insulator;
Standards;
Power demand;
40.
Power-aware Reliable Communication for the IoT
机译:
电源感知可靠的IOT可靠通信
作者:
Philipp H. Kindt
;
Samarjit Chakraborty
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Protocols;
Wireless communication;
Ad hoc networks;
Delays;
Microsoft Windows;
Robustness;
41.
Selective Fault Tolerance by Counting Gates with Controlling Value
机译:
通过控制值的栅极选择性容错
作者:
Anselm Breitenreiter
;
Stefan Weidling
;
Oliver Schrape
;
Steffen Zeidler
;
Pedro Reviriego
;
Milos Krstic
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Testing;
System analysis and design;
42.
Fault Modeling and Simulation of Memristor based Gas Sensors
机译:
基于忆阻的气体传感器的故障建模与仿真
作者:
Saurabh Khandelwal
;
Anu Bala
;
Vishal Gupta
;
Marco Ottavi
;
Eugenio Martinelli
;
Abusaleh Jabir
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Memristors;
Gas detectors;
Circuit faults;
Computational modeling;
Mathematical model;
Delays;
43.
An Efficient SAT-Attack Algorithm Against Logic Encryption
机译:
逻辑加密的有效SAT攻击算法
作者:
Yusuke Matsunaga
;
Masayoshi Yoshimura
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Logic gates;
Encryption;
Superluminescent diodes;
Integrated circuits;
Benchmark testing;
Information science;
44.
QuSecNets: Quantization-based Defense Mechanism for Securing Deep Neural Network against Adversarial Attacks
机译:
QUSECNET:基于量化的防御机制,用于保护深层神经网络免受对抗攻击
作者:
Faiq Khalid
;
Hassan Ali
;
Hammad Tariq
;
Muhammad Abdullah Hanif
;
Semeen Rehman
;
Rehan Ahmed
;
Muhammad Shafique
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Quantization (signal);
Training;
Libraries;
Perturbation methods;
Optimization;
Resilience;
Convolutional neural networks;
45.
Studying Aging and Soft Error Mitigation Jointly under Constrained Scenarios in Multi-Cores
机译:
在多核的约束方案下联合研究老化和软错误缓解
作者:
Florian Kriebel
;
Semeen Rehman
;
Muhammad Shafique
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Aging;
Software reliability;
Multicore processing;
Timing;
Task analysis;
Redundancy;
46.
Implementation of CMOS Logic Circuits with Perfect Fault Detection Using Preservative Reversible Gates
机译:
采用防腐剂可逆门的完美故障检测实现CMOS逻辑电路
作者:
Sajjad Parvin
;
Mustafa Altun
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Logic gates;
Libraries;
Fault detection;
Electrical fault detection;
Switching circuits;
Observability;
47.
Compact Modeling of NBTI Replicating AC Stress / Recovery from a Single-shot Long-term DC Measurement
机译:
NBTI的紧凑型模型从单次长期直流测量复制交流应力/恢复
作者:
Takumi Hosaka
;
Shinichi Nishizawa
;
Ryo Kishida
;
Takashi Matsumoto
;
Kazutoshi Kobayashi
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Negative bias temperature instability;
Thermal variables control;
Degradation;
Stress;
Reliability;
Fitting;
48.
Efficient Methodology for ISO26262 Functional Safety Verification
机译:
ISO26262功能安全验证的高效方法
作者:
Felipe Augusto da Silva
;
Ahmet Cagri Bagbaba
;
Said Hamdioui
;
Christian Sauer
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Tools;
Circuit faults;
Safety;
Fault detection;
Europe;
Measurement;
Hardware;
49.
Reliability-Aware Task Allocation Latency Optimization in Edge Computing
机译:
边缘计算中的可靠性感知任务分配延迟优化
作者:
Andreas Kouloumpris
;
Maria K. Michael
;
Theocharis Theocharides
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Task analysis;
Reliability;
Resource management;
Energy consumption;
Optimization;
Cloud computing;
Performance evaluation;
50.
On the Encryption of the Challenge in Physically Unclonable Functions
机译:
在物理上不可渗透功能中的挑战加密
作者:
Elena Ioana Vatajelu
;
Giorgio Di Natale
;
Mohd Syafiq Mispan
;
Basel Halak
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Encryption;
Machine learning;
Mathematical model;
Authentication;
Correlation;
Hash functions;
51.
Characterization and Modeling of SET Generation Effects in CMOS Standard Logic Cells
机译:
CMOS标准逻辑单元中集成效应的特征与建模
作者:
Marko Andjelkovic
;
Yuanqing Li
;
Zoran Stamenkovic
;
Milos Krstic
;
Rolf Kraemer
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Logic gates;
Integrated circuit modeling;
Analytical models;
Load modeling;
Standards;
Table lookup;
Data models;
52.
Analysis on Retention Time and Adaptive Refresh in Embedded DRAMs with Aging Benefits
机译:
嵌入式DRAM与老化效益的保留时间和自适应刷新分析
作者:
Abdessamad Najdi
;
Daniele Rossi
;
Vasileios Tenentes
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Leakage currents;
Topology;
Aging;
Standards;
MOSFET;
Junctions;
53.
A Design for Testability Method for k-Cycle Capture Test Generation
机译:
k周期捕获试验生成可测试方法的设计
作者:
Yuta Ishiyama
;
Toshinori Hosokawa
;
Hiroshi Yamazaki
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Registers;
Hardware;
Test pattern generators;
Discrete Fourier transforms;
Circuit faults;
Multiplexing;
54.
IOLTS 2019 Welcome Message
机译:
IOLTS 2019欢迎信息
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
55.
Development of FF Circuits for Measures Against Power Supply Noise
机译:
用于电源噪声措施的FF电路的开发
作者:
Yukiya Miura
;
Miyuki Inoue
;
Yuya Kinoshita
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Testing;
System analysis and design;
Flip-flops;
Latches;
Power supplies;
Performance evaluation;
56.
About IOLTS 2019
机译:
关于IOLts 2019.
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
57.
Variation-Resilient Design Techniques for Energy-Constrained Systems
机译:
变形 - 能量受限系统设计技术
作者:
Bing-Chen Wu
;
Tsung-Te Liu
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Clocks;
Voltage control;
Pipeline processing;
Delays;
Sensors;
Energy efficiency;
58.
A Vulnerability Factor for ECC-protected Memory
机译:
ECC保护内存的漏洞因素
作者:
Luc Jaulmes
;
Miquel Moretó
;
Mateo Valero
;
Marc Casas
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Error correction codes;
Benchmark testing;
Jacobian matrices;
Task analysis;
Random access memory;
Timing;
59.
Efficient Fault Injection based on Dynamic HDL Slicing Technique
机译:
基于动态HDL切片技术的高效故障注射
作者:
Ahmet Cagri Bagbaba
;
Maksim Jenihhin
;
Jaan Raik
;
Christian Sauer
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
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2019年
关键词:
Hardware design languages;
Vehicle dynamics;
Optimization;
Clocks;
Tools;
Choppers (circuits);
Safety;
60.
Hierarchical Check Based Detection and Diagnosis of Sensor-Actuator Malfunction in Autonomous Systems: A Quadcopter Study
机译:
基于分层检查自主系统传感器执行器故障的检测与诊断:Quadcopter研究
作者:
Md Imran Momtaz
;
Abhijit Chatterjee
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Autonomous systems;
Actuators;
Trajectory;
Brushless motors;
Sensor systems;
61.
Towards Improvement of Mission Mode Failure Diagnosis for System-on-Chip
机译:
改进芯片系统的任务模式故障诊断
作者:
S. Mhamdi
;
A. Virazel
;
P. Girard
;
A. Bosio
;
E. Auvray
;
E. Faehn
;
A. Ladhar
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Logic gates;
Tools;
Circuit faults;
Machine learning;
Transistors;
Failure analysis;
62.
Dual Detection of Heating and Photocurrent attacks (DDHP) Sensor using Hybrid CMOS/STT-MRAM
机译:
使用Hybrid CMOS / STT-MRAM的加热和光电流攻击(DDHP)传感器的双重检测
作者:
M. Kharbouche-Harrari
;
R. Wacquez
;
G. Di Pendina
;
J.-M. Dutertre
;
J. Postel-Pellerin
;
D. Aboulkassimi
;
J.-M. Portal
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Integrated circuits;
Semiconductor lasers;
Transient analysis;
Circuit faults;
Junctions;
Transistors;
Magnetic tunneling;
63.
Software-only Diverse Redundancy on GPUs for Autonomous Driving Platforms
机译:
自动驾驶平台GPU上的软件多样化冗余
作者:
Sergi Alcaide
;
Leonidas Kosmidis
;
Carles Hernandez
;
Jaume Abella
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Graphics processing units;
Redundancy;
Safety;
Microcontrollers;
Hardware;
Kernel;
64.
Resiliency Demands on Next Generation Critical Embedded Systems
机译:
下一代关键嵌入式系统的弹性需求
作者:
Jacob A. Abraham
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Hardware;
Security;
Computer bugs;
Trojan horses;
Circuit faults;
Embedded systems;
65.
Reliability Challenges with Self-Heating and Aging in FinFET Technology
机译:
FinFET技术中自加热和老化的可靠性挑战
作者:
Hussam Amrouch
;
Victor M. van Santen
;
Om Prakash
;
Hammam Kattan
;
Sami Salamin
;
Simon Thomann
;
J?rg Henkel
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
FinFETs;
Heating systems;
SRAM cells;
Integrated circuit reliability;
66.
Securing Scan through Plain-text Restriction
机译:
通过普通文本限制保护扫描
作者:
Satyadev Ahlawat
;
Kailash Ahirwar
;
Jaynarayan Tudu
;
Masahiro Fujita
;
Virendra Singh
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Encryption;
Logic gates;
Switching circuits;
Clocks;
Switches;
Very large scale integration;
67.
Estimation of oxide breakdown effects by fault injection
机译:
故障注射估计氧化物分解效应
作者:
Chiara Sandionigi
;
Olivier Heron
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Circuit faults;
Electric breakdown;
Aging;
Registers;
Integrated circuit modeling;
Logic gates;
Reliability;
68.
Towards Scalable Lifetime Reliability Management for Dark Silicon Manycore Systems
机译:
朝着深色硅数量系统可扩展寿命可靠性管理
作者:
Vijeta Rathore
;
Vivek Chaturvedi
;
Amit K. Singh
;
Thambipillai Srikanthan
;
Muhammad Shafique
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Aging;
Reliability;
Silicon;
Indexes;
Task analysis;
Reinforcement learning;
IP networks;
69.
Cost-effective Resilient FPGA-based LDPC Decoder Architecture
机译:
基于经济高效的弹性FPGA的LDPC解码器架构
作者:
Eduardo N. de Souza
;
Gabriel L. Nazar
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Decoding;
Parity check codes;
Field programmable gate arrays;
Redundancy;
Resilience;
Parallel processing;
70.
JTAG: A Multifaceted Tool for Cyber Security
机译:
JTAG:网络安全的多方面工具
作者:
Prashant Hari Narayan Rajput
;
Michail Maniatakos
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Testing;
Debugging;
Registers;
Standards;
Kernel;
Performance evaluation;
71.
A Test Generation Method Based on k-Cycle Testing for Finite State Machines
机译:
基于有限状态机K周期测试的试验方法
作者:
Yuya Kinoshita
;
Toshinori Hosokawa
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Test pattern generators;
Circuit faults;
Integrated circuit modeling;
Sequential circuits;
Automata;
Registers;
72.
Application Specific True Critical Paths Identification in Sequential Circuits
机译:
在顺序电路中的应用特定的真正关键路径识别
作者:
Lembit Jürim?gi
;
Raimund Ubar
;
Maksim Jenihhin
;
Jaan Raik
;
Sergei Devadze
;
Adeboye Stephen Oyeniran
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Testing;
System analysis and design;
Delays;
Iterative methods;
Circuit faults;
73.
iATPG: Instruction-level Automatic Test Program Generation for Vulnerabilities under DVFS attack
机译:
IATPG:DVFS攻击下漏洞的指令级别自动测试程序生成
作者:
Kuozhong Zhang
;
Junying Huang
;
Jing Ye
;
Xiaochun Ye
;
Da Wang
;
Dongrui Fan
;
Huawei Li
;
Xiaowei Li
;
Zhimin Zhang
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Voltage control;
Hardware;
Regulators;
Frequency synchronization;
Testing;
Time-frequency analysis;
Registers;
74.
The Missing Applications Found: Robust Design Techniques and Novel Uses of Memristors
机译:
发现缺失的应用程序:鲁棒的设计技术和忆失的新颖用途
作者:
Marco Ottavi
;
Vishal Gupta
;
Saurabh Khandelwal
;
Shahar Kvatinsky
;
Jimson Mathew
;
Eugenio Martinelli
;
Abusaleh Jabir
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Memristors;
Photovoltaic cells;
Resistance;
Circuit faults;
Switches;
Sensors;
Degradation;
75.
Total Ionizing Dose Effects by alpha irradiation on circuit performance and SEU tolerance in thin BOX FDSOI process
机译:
通过α辐射对电路性能和薄盒FDSOI过程中的SEU公差的总电离剂量效应
作者:
Takashi Yoshida
;
Kazutoshi Kobayashi
;
Jun Furuta
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Silicon-on-insulator;
Radiation effects;
Annealing;
Leakage currents;
Semiconductor device measurement;
MOSFET circuits;
Frequency measurement;
76.
Control Loop of Image Correction based on Detection and Self-Healing of Defective Pixels
机译:
基于缺陷像素的检测和自我修复的图像校正控制回路
作者:
Ghislain Takam Tchendjou
;
Emmanuel Simeu
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Image sensors;
Process control;
Dispersion;
Capacitive sensors;
Sensor phenomena and characterization;
Digital cameras;
77.
A Radiation Tolerant 10/100 Ethernet Transceiver for Space Applications
机译:
用于空间应用的辐射宽容10/100以太网收发器
作者:
Anselm Breitenreiter
;
Jesús López
;
Pedro Reviriego
;
Milos Krstic
;
úrsula Gutierro
;
Manuel Sánchez-Renedo
;
Daniel González
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Ethernet;
Transceivers;
Clocks;
Integrated circuits;
Testing;
Radiation hardening (electronics);
Space vehicles;
78.
IOLTS 2019 Technical Papers
机译:
IOLTS 2019技术论文
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
79.
A New DEC/TED Code for Fast Correction of 2-Bit-Errors
机译:
一种新的DEC / TED代码,用于快速校正2位错误
作者:
Paul-Patrick Nordmann
;
Michael Goessel
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Error correction codes;
Delay effects;
Testing;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
Computer science;
80.
HCD-Induced GIDL Increase and Circuit Implications
机译:
HCD诱导的GIDL增加和电路影响
作者:
Edoardo Ceccarelli
;
Kevin Manning
;
Giuseppe Macera
;
Dennis Dempsey
;
Colm Heffernan
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Degradation;
Power demand;
Logic gates;
Integrated circuit modeling;
Stress;
Hot carriers;
81.
Variation-aware Fault Modeling and Test Generation for STT-MRAM
机译:
STT-MRAM的变异感知故障建模与试验
作者:
S.M. Nair
;
R. Bishnoi
;
M. B. Tahoori
;
H. Grigoryan
;
G. Tshagharyan
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Analytical models;
Circuit faults;
Resistance;
Layout;
Temperature sensors;
Testing;
Temperature distribution;
82.
Trusted and Secure Design of Analog/RF ICs: Recent Developments
机译:
模拟/ RF ICS的可信和安全设计:最近的发展
作者:
Kiruba Subramani
;
Georgios Volanis
;
Mohammad-Mahdi Bidmeshki
;
Angelos Antonopoulos
;
Yiorgos Makris
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Trojan horses;
Integrated circuits;
Hardware;
Wireless communication;
Communication system security;
Wireless sensor networks;
Security;
83.
IOLTS 2019 Keynote
机译:
IOLts 2019主题演讲
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
84.
Meeting the Conflicting Goals of Low-Power and Resiliency Using Emerging Memories : (Invited Paper)
机译:
使用新兴的记忆符合低功耗和弹性的矛盾目标:(邀请纸)
作者:
Karthikeyan Nagarajan
;
Mohammad Nasim Imtiaz Khan
;
Sina Sayyah Ensan
;
Abdullah Ash-Saki
;
Swaroop Ghosh
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Nonvolatile memory;
Sensors;
Resistance;
Legged locomotion;
Random access memory;
Magnetic tunneling;
Transistors;
85.
Empirical Evaluation on Anomaly Behavior Detection for Low-Cost Micro-Controllers Utilizing Accurate Power Analysis
机译:
低成本微控制器利用准确功率分析的异常行为检测实证评价
作者:
Kento Hasegawa
;
Kiyoshi Chikamatsu
;
Nozomu Togawa
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Current measurement;
Feature extraction;
Anomaly detection;
Power measurement;
Voltage measurement;
Trojan horses;
Hardware;
86.
Can Multi-Layer Microfluidic Design Methods Aid Bio-Intellectual Property Protection?
机译:
多层微流体设计方法辅助生物知识产权保护吗?
作者:
Mohammed Shayan
;
Sukanta Bhattacharjee
;
Yong-Ak Song
;
Krishnendu Chakrabarty
;
Ramesh Karri
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Valves;
Layout;
Nonhomogeneous media;
Foundries;
Multiplexing;
Mixers;
Three-dimensional displays;
87.
Identification of Failure Modes for Circuit Samples with Confounded Causes of Failure
机译:
识别电路样本失效模式,具有混淆的失败原因
作者:
Shu-han Hsu
;
Ying-Yuan Huang
;
Kexin Yang
;
Linda Milor
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Probability density function;
Maximum likelihood estimation;
Failure analysis;
Electric breakdown;
Ring oscillators;
Integrated circuit modeling;
Hazards;
88.
HATE: a HArdware Trojan Emulation Environment for Microprocessor-based Systems
机译:
讨厌:基于微处理器的系统的硬件特洛伊木马仿真环境
作者:
Cristiana Bolchini
;
Luca Cassano
;
Ivan Montalbano
;
Giampiero Repole
;
Andrea Zanetti
;
Giorgio Di Natale
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Microprocessors;
Hardware;
Trojan horses;
Tools;
Benchmark testing;
89.
PASCAL: Timing SCA Resistant Design and Verification Flow
机译:
Pascal:定时SCA抗性设计和验证流程
作者:
Xinhui Lai
;
Maksim Jenihhin
;
Jaan Raik
;
Kolin Paul
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Timing;
Hardware;
Tools;
Side-channel attacks;
Clocks;
90.
On a Side Channel and Fault Attack Concurrent Countermeasure Methodology for MCU-based Byte-sliced Cipher Implementations
机译:
基于MCU的字节切片密码实现的侧通道和故障攻击并发对策方法
作者:
Ehsan Aerabi
;
Athanasios Papadimitriou
;
David Hely
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Ciphers;
Encoding;
Software;
Hardware;
Power demand;
91.
Automated Die Inking through On-line Machine Learning
机译:
通过在线机器学习自动模具墨水
作者:
Constantinos Xanthopoulos
;
Arnold Neckermann
;
Paulus List
;
Klaus-Peter Tschernay
;
Peter Sarson
;
Yiorgos Makris
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Semiconductor device modeling;
Training;
Feature extraction;
Testing;
Manuals;
Machine learning;
Dies;
92.
IOLTS 2019 External Reviewers
机译:
IOLTS 2019外部审稿人
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
93.
IOLTS 2019 Committees
机译:
IOLTS 2019委员会
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
94.
ICE-RADAR: In-situ, Cost-Effective Razor Flip-Flop Deployment for Aging Resilience
机译:
冰雷达:原位,具有成本效益的剃刀触发器部署,用于老化弹性
作者:
Kai-Chiang Wu
;
Wei-Tao Huang
;
Chiao-Yang Huang
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Silicon;
Flip-flops;
Aging;
Resilience;
Testing;
System analysis and design;
Computer science;
95.
Machine Learning to Tackle the Challenges of Transient and Soft Errors in Complex Circuits
机译:
机器学习解决复杂电路中瞬态和软错误的挑战
作者:
Thomas Lange
;
Aneesh Balakrishnan
;
Maximilien Glorieux
;
Dan Alexandrescu
;
Luca Sterpone
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Circuit faults;
Integrated circuit modeling;
Feature extraction;
Machine learning;
Predictive models;
Training;
Transient analysis;
96.
A Novel Simulation-Based Approach for ISO 26262 Hazard Analysis and Risk Assessment
机译:
基于仿真的ISO 26262危害分析和风险评估方法
作者:
J. Sini
;
M. Violante
;
V. Dodde
;
R. Gnaniah
;
L. Pecorella
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Testing;
System analysis and design;
97.
Stuck-at-OFF Fault Analysis in Memristor-Based Architecture for Synchronization
机译:
基于Memristor的同步架构的困扰故障分析
作者:
Manuel Escudero
;
Ioannis Vourkas
;
Antonio Rubio
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Testing;
System analysis and design;
Synchronization;
Memristors;
Switching circuits;
Adaptive arrays;
Nonlinear circuits;
98.
Bayesian models for early cross-layer reliability analysis and design space exploration
机译:
贝叶斯型号为早期跨层可靠性分析和设计空间探索
作者:
Alessandro Vallero
;
Alessandro Savino
;
Alberto Carelli
;
Stefano Di Carlo
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Reliability engineering;
Software reliability;
Space exploration;
Computational modeling;
Integrated circuit reliability;
Software;
99.
TrISec: Training Data-Unaware Imperceptible Security Attacks on Deep Neural Networks
机译:
TRISEC:培训数据 - 不知道深神经网络的不可察觉的安全攻击
作者:
Faiq Khalid
;
Muhammad Abdullah Hanif
;
Semeen Rehman
;
Rehan Ahmed
;
Muhammad Shafique
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Training;
Security;
Correlation;
Autonomous vehicles;
Inference algorithms;
Automation;
Optimization;
100.
Error Correction Coding of Stochastic Numbers Using BER Measurement
机译:
使用BER测量纠错随机数字的校正编码
作者:
Ryota Ishikawa
;
Masashi Tawada
;
Masao Yanagisawa
;
Nozomu Togawa
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2019年
关键词:
Error correction codes;
Error correction;
Bit error rate;
Measurement uncertainty;
Decoding;
Encoding;
Semiconductor device measurement;
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