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IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
召开年:
2016
召开地:
Catalunya(ES)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
Tackling long duration transients in sequential logic
机译:
在顺序逻辑中处理长长的持续时间瞬变
作者:
Erol Koser
;
Walter Stechele
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2016年
关键词:
Clocks;
Computer architecture;
Microprocessors;
History;
Transistors;
Redundancy;
Timing;
2.
Hardware enlightening: No where to hide your Hardware Trojans!
机译:
硬件启发:没有隐藏你的硬件特洛伊木马的地方!
作者:
Mohammad Saleh Samimi
;
Ehsan Aerabi
;
Zahra Kazemi
;
Mahdi Fazeli
;
Ahmad Patooghy
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2016年
关键词:
Logic gates;
Encryption;
Hardware;
Trojan horses;
Controllability;
Probability;
3.
Automatic generation of stimuli for fault diagnosis in IEEE 1687 networks
机译:
None
作者:
R. Cantoro
;
M. Montazeri
;
M. Sonza
;
F. Ghani Zadegan
;
E. Larsson
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2016年
关键词:
Circuit faults;
Instruments;
Fault diagnosis;
Standards;
Registers;
Testing;
Flip-flops;
4.
Revisiting software-based soft error mitigation techniques via accurate error generation and propagation models
机译:
通过准确的错误生成和传播模型重新审视基于软件的软错误缓解技术
作者:
Mojtaba Ebrahimi
;
Maryam Rashvand
;
Firas Kaddachi
;
Mehdi B. Tahoori
;
Giorgio Di Natale
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2016年
关键词:
Tunneling magnetoresistance;
Error analysis;
Software;
Computer architecture;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
Microprocessors;
5.
On the influence of compiler optimizations in the fault tolerance of embedded systems
机译:
论编译优化在嵌入式系统的容错中的影响
作者:
Alejandro Serrano-Cases
;
José Isaza-González
;
Sergio Cuenca-Asensi
;
Antonio Martínez-álvarez
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2016年
关键词:
Optimization;
Reliability;
Genetic algorithms;
Benchmark testing;
Sociology;
Statistics;
Measurement;
6.
Hot-carrier and BTI damage distinction for high performance digital application in 28nm FDSOI and 28nm LP CMOS nodes
机译:
28nm FDSOI和28nm LP CMOS节点的高性能数字应用的热载波和BTI损坏区别
作者:
A. Bravaix
;
M. Saliva
;
F. Cacho
;
X. Federspiel
;
C. Ndiaye
;
S. Mhira
;
E. Kussener
;
E. Pauly
;
V. Huard
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2016年
关键词:
Logic gates;
Inverters;
Delays;
Degradation;
Temperature dependence;
Time-frequency analysis;
7.
On-line write margin estimator to monitor performance degradation in SRAM cores
机译:
在线写保证金估算器,用于监控SRAM核心的性能下降
作者:
B. Alorda
;
C. Carmona
;
G. Torrens
;
S. Bota
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2016年
关键词:
Transistors;
Aging;
Degradation;
SRAM cells;
Threshold voltage;
Memory management;
8.
A high performance scan flip-flop design for serial and mixed mode scan test
机译:
用于串行和混合模式扫描测试的高性能扫描触发器设计
作者:
Satyadev Ahlawat
;
Jaynarayan Tudu
;
Anzhela Matrosova
;
Virendra Singh
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2016年
关键词:
Latches;
Logic gates;
Clocks;
Inverters;
Multiplexing;
Computer architecture;
Silicon;
9.
ISA-independent post-silicon validation for the address translation mechanisms of modern microprocessors
机译:
ISA独立的后硅柱验证,用于现代微处理器的地址转换机制
作者:
George Papadimitriou
;
Athanasios Chatzidimitriou
;
Dimitris Gizopoulos
;
Ronny Morad
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2016年
关键词:
Microprocessors;
Computer bugs;
Hardware;
Registers;
Microarchitecture;
Silicon;
Throughput;
10.
Evaluating application-aware soft error effects in digital circuits without fault injections or probabilistic computations
机译:
在没有故障注射或概率计算的情况下评估数字电路中的应用感知软错误效果
作者:
K. Chibani
;
M. Portolan
;
R. Leveugle
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2016年
关键词:
Decision support systems;
Testing;
Robustness;
System analysis and design;
11.
Efficient fault tolerant parallel matrix-vector multiplications
机译:
高效容错并行矩阵 - 矢量乘法
作者:
Zhen Gao
;
Pedro Reviriego
;
Juan Antonio Maestro
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2016年
关键词:
Field-flow fractionation;
Testing;
Robustness;
System analysis and design;
12.
Temporal Redundancy Latch-based Architecture for Soft Error Mitigation
机译:
基于时间冗余锁存的架构,用于软错误缓解
作者:
Robert Schmidt
;
Alberto Garcia-Ortiz
;
Goerschwin Fey
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
13.
SICTA: A Superimposed In-Circuit Fault Tolerant Architecture for SRAM-based FPGAs
机译:
SICTA:基于SRAM的FPGA的叠加的内电阻容错架构
作者:
Alexandra Kourfali
;
Amit Kulkarni
;
Dirk Stroobandt
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
FPGA;
Fault-Tolerance;
Parameterised Configuration;
Radiation-Hardening;
Scrubbing;
TMR;
14.
Field Profiling Monitoring of Payload Transistors in FPGAs
机译:
FPGA中有效载荷晶体管的现场分析和监控
作者:
Da Cheng
;
Amitava Majumdar
;
Xiaobao Wang
;
Nui Chong
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Ring oscillator;
Transistor profiling;
Duty cycle analysis;
15.
On Comparison of Robust Configurable FPGA Encoders for Dependable Industrial Communication Systems
机译:
关于可靠工业通信系统的鲁棒配置FPGA编码器的比较
作者:
Petr Pfeifer
;
Farnoosh Hosseinzadeh
;
Heinrich Theodor Vierhaus
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Communication dependable systems;
PENCA;
Reconfigurable LFSR encoder;
SLICEM;
Partial reconfiguration;
Linear-feedback shift register (LFSR);
Xilinx;
FPGA;
16.
Weighted Logic Locking: A New Approach for IC Piracy Protection
机译:
加权逻辑锁定:IC盗版保护的新方法
作者:
Nikolaos Karousos
;
Konstantinos Pexaras
;
Irene G. Karybali
;
Emmanouil Kalligeros
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
17.
SIFI: AMD Southern Islands GPU Microarchitectural Level Fault Injector
机译:
SIFI:AMD Southern Islands GPU微体建筑水平故障注射器
作者:
Alessandro Vallero
;
Dimitris Gizopoulos
;
Stefano Di Carlo
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
18.
PUFMon: Security Monitoring of FPGAs using Physically Unclonable Functions
机译:
PUFMON:使用物理不可分配的功能对FPGA的安全监控
作者:
Shahin Tajik
;
Julian Fietkau
;
Heiko Lohrke
;
Jean-Pierre Seifert
;
Christian Boit
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Anti-Tamper;
FPGA and SoC Security;
Laser Voltage Probing;
Physically Unclonable Functions;
19.
Fast Power Overhead Prediction for Hardware Redundancy-based Fault Tolerance
机译:
基于硬件冗余的容错的快速电源开销预测
作者:
Stefan Scharoba
;
Heinrich T. Vierhaus
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
20.
Handling of Permanent Faults in Dynamically Scheduled Processors
机译:
在动态定期处理器中处理永久性故障
作者:
Felix Muhlbauer
;
Lukas Schroder
;
Mario Scholzel
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
21.
Relaxing DRAM Refresh Rate through Access Pattern Scheduling: A Case Study on Stencil-based Algorithms
机译:
通过访问模式调度放宽DRAM刷新率:基于模板的算法案例研究
作者:
Konstantinos Tovletoglou
;
Dimitrios S. Nikolopoulos
;
Georgios Karakonstantis
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
22.
Thermal Laser Attack and High Temperature Heating on HfO_2-based OxRAM Cells
机译:
热激光攻击和高温加热在基于HFO_2的氧气细胞
作者:
A. Krakovinsky
;
M. Bocquet
;
R. Wacquez
;
J. Coignus
;
J. M. Portal
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
OxRAM;
Laser;
Security;
Integrity;
HfO_2;
1T1R;
Retention;
Thermal Attacks;
Countermeasure;
23.
6T CMOS SRAMs reliability monitoring through stability measurements
机译:
6T CMOS SRAM可靠性监控通过稳定测量
作者:
B. Alorda
;
G. Torrens
;
S. Bota
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Reliability;
Variability;
Writability;
Stability margins;
Lifetime;
24.
Comprehensive Analysis of Sequential Circuits Vulnerability to Transient Faults Using SMT
机译:
用SMT综合分析顺序电路漏洞瞬态故障
作者:
Ghaith Bany Hamad
;
Ghaith Kazma
;
Otmane Ait Mohamed
;
Yvon Savaria
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
25.
Advanced ECC Solution for Automotive SoCs
机译:
汽车SOCC的高级ETC解决方案
作者:
H. Shaheen
;
G. Boschi
;
G. Harutyunyan
;
Y. Zorian
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
ISO26262;
Functional safety;
Automotive;
Error correcting codes;
26.
Hardware Trojans Classification for Gate-level Netlists Using Multi-layer Neural Networks
机译:
使用多层神经网络的门级网表分类硬件特洛伊木马分类
作者:
Kento Hasegawa
;
Masao Yanagisawa
;
Nozomu Togawa
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Hardware Trojan;
Gate-level netlist;
Machine learning;
Neural network;
Multi-layer;
27.
Variation Tolerant BTI Monitoring in SRAM Cells
机译:
SRAM细胞中变异耐受性BTI监测
作者:
Yiorgos Sfikas
;
Yiorgos Tsiatouhas
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Aging monitoring;
Bias-temperature instability (BTI) monitoring;
SRAM memory;
Transistor aging;
Reliability;
Failure prediction;
28.
Energy-efficient and Error-resilient Iterative Solvers for Approximate Computing
机译:
用于近似计算的节能和误差弹性迭代求解器
作者:
Alexander Scholl
;
Claus Braun
;
Hans-Joachim Wunderlich
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Approximate Computing;
Energy-efficiency;
Fault Tolerance;
Quality Monitoring;
29.
Jamming Resistant Encoding For Non-Uniformly Distributed Information
机译:
用于非均匀分布信息的干扰抗性编码
作者:
Batya Karp
;
Yerucham Berkowitz
;
Osnat Keren
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
30.
Reliability issues in RRAM ternary memories affected by variability and aging mechanisms
机译:
由变异性和老化机制影响的RRAM三元记忆中的可靠性问题
作者:
Antonio Rubio
;
Manel Escudero
;
Peyman Pouyan
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
RRAM devices;
Ternary memories;
Variability;
Endurance;
Aging;
Adaptive mechanisms;
31.
On-line Testing of Sensor Networks: A Case Study
机译:
传感器网络的在线测试:一个案例研究
作者:
J. A. Miranda
;
A. Vaskova
;
M. Portela-Garcia
;
M. Garcia-Valderas
;
C. Lopez-Ongil
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Sensor Networks;
On-line Testing;
Dependability;
32.
Deterministic Network On Chip for Deploying Real Time Applications on Many-core Processors
机译:
用于在许多核心处理器上部署实时应用程序的芯片的确定性网络
作者:
Stefano Esposito
;
Massimo Violante
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Network-on-chip;
Mixed-criticality;
Fault-tolerance;
Avionics;
Many-core;
33.
Soft Error Analysis of MTJ-based Logic-in-Memory Full Adder: Threats and Solution
机译:
基于MTJ的逻辑内存全加法器软误差分析:威胁和解决方案
作者:
Javad Talafy
;
Hamid R. Zarandi
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Spin transfer torque;
Soft error;
Alpha particle;
Radiation hardness by design;
Logic-in-memory;
34.
Hardware Trojan Detection and Classification based on Steady State Learning
机译:
基于稳态学习的五金木马检测与分类
作者:
Masaru Oya
;
Masao Yanagisawa
;
Nozomu Togawa
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Hardware Trojans;
Gate-level netlist;
Steady state;
Signal transition;
Logic test;
35.
Instruction-Based Self-Test for Delay Faults Maximizing Operating Temperature
机译:
基于指令的自检,用于延迟故障最大化工作温度
作者:
Nihar Hage
;
Rohini Gulve
;
Masahiro Fujita
;
Virendra Singh
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
36.
Test Pattern Generation to Detect Multiple Faults in ROBDD based Combinational Circuits
机译:
测试模式生成以检测基于ROBDD组合电路的多个故障
作者:
Toral Shah
;
Anzhela Matrosova
;
Virendra Singh
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
ROBDD;
Combinational logic;
Test pattern generation;
37.
Revisiting Random Access Scan for Effective Enhancement of Post-silicon Observability
机译:
重新访问随机访问扫描,以有效提高硅后可观察性
作者:
Binod Kumar
;
Ankit Jindal
;
Jaynarayan Tudu
;
Brajesh Pandey
;
Virendra Singh
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Post-silicon debug;
Random Access Scan architecture;
State restoration;
Functional failure;
38.
On the in-field test of embedded memories
机译:
关于嵌入式记忆的现场测试
作者:
P. Bernardi
;
M. Restifo
;
E. Sanchez
;
M. Sonza Reorda
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
39.
Dynamic aging compensation and Safety measures in Automotive environment
机译:
动态老化补偿和汽车环境中的安全措施
作者:
S. Mhira
;
V. Huard
;
A. Benhassain
;
F. Cacho
;
S. Naudet
;
A. Jain
;
C. Parthasarathy
;
A. Bravaix
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
NBTI;
Timing degradation;
In-situ monitors;
Adaptive voltage scaling;
Control loop;
DTMC;
Energy efficiency;
40.
Robustness in Automotive Electronics: an industrial overview of major concerns
机译:
汽车电子的鲁棒性:主要担忧的工业概述
作者:
Ulrich Backhausen
;
Oscar Ballan
;
Paolo Bernardi
;
Sergio De Luca
;
Julie Henzler
;
Thomas Kern
;
Davide Piumatti
;
Thomas Rabenalt
;
Krishnapriya Chakiat Ramamoorthy
;
Ernesto Sanchez
;
Alessandro Sansonetti
;
Rudolf Ullmann
;
Federico Venini
;
Robert Wiesner
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
ISO 26262;
Functional Safety;
SoC On-Line Self-Test;
Memory Repair;
Security;
41.
Reliable Gas Sensing with Memristive Array
机译:
可靠的气体感应与忆内阵列
作者:
Adedotun Adeyemo
;
Abusaleh Jabir
;
Jimson Mathew
;
Eugenio Martinelli
;
Corrado Di Natale
;
Marco Ottavi
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Memristor;
Gas sensor array;
Memory;
Crossbar array;
Metal oxide;
42.
EDA Support for Functional Safety - How Static and Dynamic Failure Analysis Can Improve Productivity in the Assessment of Functional Safety
机译:
EDA支持功能安全 - 静态和动态故障分析如何提高功能安全评估的生产力
作者:
Dan Alexandrescu
;
Adrian Evans
;
Maximilien Glorieux
;
Issam Nofal
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Component;
Reliability evaluation;
Fault injection;
43.
Investigation of Critical Path Selection for In-Situ Monitors Insertion
机译:
对原位监测器插入的关键路径选择的调查
作者:
F. Cacho
;
A. Benhassain
;
R. Shah
;
S. Mhira
;
V. Huard
;
L. Anghel
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
In-situ monitor;
Critical path selection;
Reliability;
44.
Design Flows for Resilient Energy-Efficient Systems
机译:
适用于弹性节能系统的设计流程
作者:
Mohammad Saber Golanbari
;
Mehdi B. Tahoori
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
45.
BPPT - Bulk Potential Protection Technique for Hardened Sequentials
机译:
BPPT - 硬化顺序的批量电位保护技术
作者:
I. Nofal
;
A. Evans
;
Yuanqing Li
;
L. Chen
;
R. Liu
;
H. B. Wang
;
M. Chen
;
A. L. He
;
G. Guo
;
S. H. Baeg
;
S. J. Wen
;
R. Wong
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Single events;
Single event transient;
Single event upset;
Hardening;
Pass transistors;
LET;
SER;
46.
A New 3-Bit Burst-Error Correcting Code
机译:
一个新的3位突发纠错码
作者:
A. Klockmann
;
G. Georgakos
;
M. Goessel
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
3-bit burst-error correction;
Adjacent bits;
Modified Burton code;
47.
Assessment of the Amplitude-Duration Criterion for SET/SEU Robustness Evaluation
机译:
评估SET / SEU鲁棒性评估的幅度持续时间标准
作者:
Marko Andjelkovic
;
Milos Krstic
;
Rolf Kraemer
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Amplitude-duration criterion;
Critical charge;
SET and SEU robustness;
Circuit simulations;
48.
In-situ Fmax/Vmin tracking for energy efficiency and reliability optimization
机译:
用于能效和可靠性优化的原位FMAX / VMIN跟踪
作者:
Ivan Miro-Panades
;
Edith Beigne
;
Olivier Billoint
;
Yvain Thonnart
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Design margins reduction;
In-situ monitors;
TMFLT;
49.
Voltage Margins Identification on Commercial x86-64 Multicore Microprocessors
机译:
商业X86-64多核微常微处理器上的电压边距识别
作者:
George Papadimitriou
;
Manolis Kaliorakis
;
Athanasios Chatzidimitriou
;
Charalampos Magdalinos
;
Dimitris Gizopoulos
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Voltage scaling;
Characterization;
Energy efficiency;
Multicore x86-64 CPUs;
Error detection and correction;
50.
Simulation-based Analysis of FF Behavior in Presence of Power Supply Noise
机译:
电源噪声存在下FF行为的基于模拟分析
作者:
Yukiya Miura
;
Takuya Yamamoto
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Bit-flip;
Flip-flops;
Latches: Malfunction;
Power supply noise;
51.
Diagnosis with Transition Faults on Embedded Segments
机译:
嵌入段转换故障的诊断
作者:
Theodoros Toulas
;
Spyros Tragoudas
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Delay defect diagnosis;
Transition faults;
Path delay faults;
52.
An Effective Functional Safety Infrastructure for System-on-Chips
机译:
用于系统芯片的有效功能安全基础设施
作者:
Ch. Eychenne
;
Y. Zorian
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Automotive;
Functional safety;
Built-in self-test;
In-field test;
Permanent and transient faults;
53.
A Generic Embedded Sequence Generator for Constrained-Random Validation with Weighted Distributions
机译:
具有加权分布的受限随机验证的通用嵌入式序列发生器
作者:
Xiaobing Shi
;
Nicola Nicolici
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
54.
An On-line Test Strategy and Analysis for a 1T1R Crossbar Memory
机译:
1T1R横杆存储器的在线测试策略和分析
作者:
Manuel Escudero-Lopez
;
Francesc Moll
;
Antonio Rubio
;
Ioannis Vourkas
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
55.
A Cost-Efficient Dependability Management Framework for Self-aware System-on-Chips based on IEEE 1687
机译:
基于IEEE 1687的自我意识系统芯片的成本有效的可靠性管理框架
作者:
Ahmed Ibrahim
;
Hans G. Kerkhoff
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
IEEE 1687;
Embedded instruments;
Self-awareness;
56.
Trojan Circuits Preventing and Masking in Sequential Circuits
机译:
在序贯电路中防止和掩盖的特洛伊木圈
作者:
A. Matrosova
;
E. Mitrofanov
;
S. Ostanin
;
I. Kirienko
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
57.
VPUF: Voter based Physical Unclonable Function with High Reliability and Modeling Attack Resistance
机译:
VPUF:基于选民的物理不可渗透功能,具有高可靠性和建模抗攻击性
作者:
Jing Ye
;
Yu Hu
;
Xiaowei Li
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Arbiter Physical Unclonable Function;
Reliability;
Modeling Attack Resistance;
Reliability Checker;
Weighted Voter;
58.
Reliability Analysis of MTJ-based Functional Module for Neuromorphic Computing
机译:
基于MTJ的神经晶体计算功能模块的可靠性分析
作者:
Elena Ioana Vatajelu
;
Lorena Anghel
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Reliability;
MTJ;
Artificial Neural Network;
Spiking Neuron;
59.
Polymorphic PUF: Exploiting Reconfigurability of CPU+FPGA SoC to Resist Modeling Attack
机译:
多态PUF:利用CPU + FPGA SOC的重新配置性抵抗建模攻击
作者:
Jing Ye
;
Yue Gong
;
Yu Hu
;
Xiaowei Li
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Physical Unclonable Function;
Modeling Attack;
CPU+FPGA SoC;
Reconfigurability;
Asymmetric Ring Oscillator Pairs;
60.
Reliability of Computing Systems: from Flip Flops to Variables
机译:
计算系统的可靠性:从触发器到变量
作者:
Giorgio Di Natale
;
Maha Kooli
;
Alberto Bosio
;
Michele Portolan
;
Regis Leveugle
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
61.
On-Line Monitoring of System Health Using On-Chip SRAMs as a Wearout Sensor
机译:
使用片上SRAM作为磨损传感器的系统健康在线监测
作者:
Woongrae Kim
;
Taizhi Liu
;
Linda Milor
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Lifetime;
Wearout;
Weibull parameters;
SRAM;
Built-In Self-Test (BIST);
Error correcting codes (ECC);
62.
Probabilistic Error Detection and Correction in Switched Capacitor Circuits Using Checksum Codes
机译:
使用校验和码切换电容器电路中的概率误差检测和校正
作者:
Imran Momtaz
;
Suvadeep Banerjee
;
Abhijit Chatterjee
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Probabilistic Error Detection;
Error Correction;
Switched Capacitor Circuits;
Checksum Codes;
Low Cost Test;
63.
Soft Errors: Reliability Challenges in Energy-Constrained ULP Body Sensor Networks Applications
机译:
软误差:能量受限ULP体传感器网络应用中的可靠性挑战
作者:
Harsh N. Patel
;
Benton H. Calhoun
;
Randy W. Mann
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Critical charge;
ECC;
Robustness;
Single-event upset;
SRAM;
V_(MIN);
Variation Index;
Write Margin;
64.
Automating Wafer-Level Test of Uncooled Infrared Detectors Using Wafer-Prober
机译:
使用晶圆探针自动化加工红外探测器的晶圆级测试
作者:
M. Makhlouf
;
D. Goller
;
L. Gendrisch
;
S. Kolnsberg
;
F. Vogt
;
A. Utz
;
D. Weiler
;
H. Vogt
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Wafer-level MEMS Testing;
Infrared Detectors;
Automatic Lid-Chips Testing;
65.
Design-Time Reliability Evaluation for Digital Circuits
机译:
数字电路的设计时间可靠性评估
作者:
Mohamed A. Abufalgha
;
Alex Bystrov
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
66.
Cache timing attacks countermeasures and error detection in Euclidean addition chains based scalar multiplication algorithm for elliptic curves
机译:
基于椭圆形曲线的基于SCALAR乘法算法的基于核心乘法算法的缓存定时攻击对策与错误检测
作者:
Fangan-Yssouf Dosso
;
Pascal Veron
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Addition chains;
Co-Z arithmetic;
Scalar multiplication;
Cache-timing attack;
Fault attack;
Error detection;
67.
Controller Augmentation and Test Point Insertion at RTL for Concurrent Operational Unit Testing
机译:
控制器增强和测试点插入在RTL以进行并发操作单元测试
作者:
Toshinori Hosokawa
;
Hiroshi Yamazaki
;
Shun Takeda
;
Masayoshi Yoshimura
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Concurrent testing;
Design for testability;
Register transfer level;
Test point insertion;
Controller augmentation;
68.
NBTI/PBTI tolerant arbiter PUF circuits
机译:
NBTI / PBTI容忍仲裁器PUF电路
作者:
Koyo SUZUKI
;
Katsuyoshi MIURA
;
Koji NAKAMAE
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Arbiter PUF;
NBTI;
PBTI;
Encryption;
Authentication;
69.
Analysis of Radiation-induced Cross Domain Errors in TMR Architectures on SRAM-based FPGAs
机译:
基于SRAM基FPGA的TMR架构中辐射造成的横域误差分析
作者:
Luca Sterpone
;
Luca Boragno
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
SRAM-based FPGA;
TMR;
SEU;
Cross Domain Errors;
Reliability;
Static Analysis;
70.
Minimal Exercise Vector Generation for Reliability Improvement
机译:
可靠性改进的最小运动矢量生成
作者:
Madhukar Reddy P.
;
Stavros Hadjitheophanous
;
Vassos Soteriou
;
Paul V. Gratz
;
Maria K. Michael
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
71.
Design of Efficient Error Resilience in Signal Processing and Control Systems: From Algorithms to Circuits
机译:
信号处理和控制系统中有效误差弹性设计:从算法到电路
作者:
Jacob Abraham
;
Suvadeep Banerjee
;
Abhijit Chatterjee
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2017年
关键词:
Fault Tolerance;
Error Resilience;
Checksum codes;
72.
Reliability And Performance Challenges Of Ultra-Low Voltage Caches: A Trade-Off Analysis
机译:
超低电压缓存的可靠性和性能挑战:权衡分析
作者:
Anteneh Gebregiorgis
;
Mehdi B. Tahoori
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
73.
On the test of a COTS-based system for space applications
机译:
基于CIS的空间应用系统的测试
作者:
S. Carbonara
;
A. Firrincieli
;
M. Sonza Reorda
;
Jan-Gerd Mess
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
74.
A Capture Safe Static Test Compaction Method Based on Don't Cares
机译:
基于不关心的捕获安全静态测试压缩方法
作者:
Sayuri Ochi
;
Hiroshi Yamazaki
;
Toshinori Hosokawa
;
Masayoshi Yoshimura
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
static test compaction;
capture safe test vectors;
unsafe faults;
WSA;
don't cares;
75.
Self-Stabilizing High-Speed Communication in Multi-Synchronous GALS Architectures
机译:
多同步GALS架构中的自稳定高速通信
作者:
Martin Perner
;
Ulrich Schmid
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
76.
Development flow of on-line Software Test Libraries for asynchronous processor cores
机译:
用于异步处理器核心的在线软件测试库的开发流程
作者:
A. Floridia
;
E. Sanchez
;
N. Andrikos
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
desynchronization;
asynchronous design;
selftest;
online test;
critical applications;
fault simulation;
77.
To Detect or to Correct?
机译:
检测或纠正?
作者:
Arkady Bramnik
;
Yiannakis Sazeides
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
soft error;
SER;
MCU;
MBU;
parity;
ECC;
SECDED;
DECTED;
array physical and logical interleaving;
78.
Error Resilient Neuromorphic Networks Using Checker Neurons
机译:
使用Checker Neurons错误弹性神经形态网络
作者:
Sujay Pandey
;
Suvadeep Banerjee
;
Abhijit Chatterjee
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
79.
Benchmarking the Capabilities and Limitations of SAT Solvers in Defeating Obfuscation Schemes
机译:
基准坐垫索引在击败混淆方案中的能力和限制
作者:
Shervin Roshanisefat
;
Harshith K. Thirumala
;
Kris Gaj
;
Houman Homayoun
;
Avesta Sasan
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
80.
From on-chip self-healing to self-adaptivity in analog/RF ICs: challenges and opportunities
机译:
从片上自我愈合到模拟/射频ICS中的自适应:挑战和机遇
作者:
Martin Andraud
;
Marian Verhelst
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
81.
Towards an automatic approach for hardware verification according to ISO 26262 functional safety standard
机译:
根据ISO 26262功能安全标准,迈出了硬件验证的自动方法
作者:
J. Sini
;
M. Sonza Reorda
;
M. Violante
;
P. Sarson
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Circuit faults;
Hardware;
Software;
Microcontrollers;
Safety;
Automotive electronics;
Embedded systems;
failure analysis;
ISO 26262 standard;
Reliability;
82.
Fault-Independent Test-Generation for Software-Based Self-Testing
机译:
基于软件的自我测试的故障无关的测试生成
作者:
Panagiotis Georgiou
;
Xrysovalantis Kavousianos
;
Riccardo Cantoro
;
Matteo Sonza Reorda
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
83.
Cross-Layer Control Adaptation for Autonomous System Resilience
机译:
自主系统弹性的跨层控制适应
作者:
Imran Momtaz
;
Suvadeep Banerjee
;
Sujay Pandey
;
Jacob Abraham
;
Abhijit Chatterjee
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
System resilience;
error tolerance;
checksum encoding;
autonomous systems;
84.
Reduced-code static linearity test of SAR ADCs using a built-in incremental ΣΔ converter
机译:
使用内置增量ΣΔ转换器的SAR ADC的缩减码静态线性测试
作者:
Renato S. Feitoza
;
Manuel J. Barragan
;
Salvador Mir
;
Daniel Dzahini
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
85.
Near-Optimal Node Selection Procedure for Aging Monitor Placement
机译:
老化监视器放置的近最佳节点选择过程
作者:
Somayeh Sadeghi-Kohan
;
Arash Vafaei
;
Zainalabedin Navabi
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Age monitoring;
Aging phenomena;
Internal node selection;
Electro-migration;
Near-Optimal ILP solution;
86.
Finding False Paths for Sequential Circuits Using Operations on ROBDDs
机译:
使用ROBDDS上的操作查找顺序电路的假路径
作者:
Anzhela Matrosova
;
Sergei Ostanin
;
Semen Chernyshov
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Sequential circuit;
transfer sequence;
reduced Ordered Binary Decision Diagram (ROBDD);
False path;
Path Delay Fault (PDF);
87.
A Low-Cost Soft Error Tolerant Read Circuit for Single/Multi-Level Cross-Point RRAM Arrays
机译:
用于单/多级交叉点RRAM阵列的低成本软误差容错读取电路
作者:
Hossein Bardareh
;
Amir M. Hajisadeghi
;
Hamid R. Zarandi
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
RRAM;
cross-point arrays;
soft error;
sneak leakage current;
single-level cell;
multi-level cell;
read margin;
88.
The case of using CMOS FD-SOI rather than CMOS bulk to harden ICs against laser attacks
机译:
使用CMOS FD-SOI而不是CMOS批量来硬化激光攻击的情况
作者:
Jean-Max Dutertre
;
Vincent Beroulle
;
Philippe Candelier
;
Louis-Barthelemy Faber
;
Marie-Lise Flottes
;
Philippe Gendrier
;
David Hely
;
Regis Leveugle
;
Paolo Maistri
;
Giorgio Di Natale
;
Athanasios Papadimitriou
;
Bruno Rouzeyre
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Laser fault injection;
FD-SOI;
CMOS bulk;
89.
Detecting the Existence of Malfunctions in Microcontrollers Utilizing Power Analysis
机译:
利用功率分析检测微控制器故障存在的存在
作者:
Kento Hasegawa
;
Masao Yanagisawa
;
Nozomu Togawa
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
microcontroller;
power analysis;
hardware security;
malfunction;
sleep mode;
90.
Reliability Improvements for Multiprocessor Systems by Health-Aware Task Scheduling
机译:
通过健康感知任务调度对多处理器系统的可靠性改进
作者:
Robert Schmidt
;
Rehab Massoud
;
Jaan Raik
;
Alberto Garcoa-Ortiz
;
Rolf Drechsler
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
91.
A Novel Use of Approximate Circuits to Thwart Hardware Trojan Insertion and Provide Obfuscation
机译:
一种新颖的使用近似电路来挫伤硬件木马插入并提供混淆
作者:
H. Martin
;
L. Entrena
;
S. Dupuis
;
G. Di Natale
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Hardware Trojan;
Approximation;
92.
Design Tradeoffs in Bioimplantable Devices: A Case Study with Bladder Pressure Monitoring
机译:
BioImplantable设备中的设计权衡:膀胱压力监测的案例研究
作者:
Shakil Mahmud
;
Steve J. A. Majerus
;
Margot S. Damaser
;
Robert Karam
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
93.
Efficient Software-Based Partitioning for Commercial-off-the-Shelf NoC-based MPSoCs for Mixed-Criticality Systems
机译:
基于软件的基于货架的基于货架的MPSoC的基于软件的分区,用于混合关键性系统
作者:
Stefano Esposito
;
Serhiy Avramenko
;
Massimo Violante
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
network-on-chip;
mixed criticality system;
commercial-off-the-shelf;
real-time operating system;
94.
Integrated Test Structures for Reliability Investigation under Dynamic Stimuli
机译:
动态刺激下可靠性调查的集成测试结构
作者:
F. Cacho
;
D. Nouguier
;
M. Arabi
;
X. Federspiel
;
Y. Carminati
;
M. Saliva
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
reliability;
design for reliability;
NBTI;
TDDB;
HCI;
95.
Independent N-Well And P-Well Biasing For Minimum Leakage Energy Operation
机译:
独立的N阱和P阱偏置,用于最小漏电能量运行
作者:
Yosuke Okamura
;
Tohru Ishihara
;
Hidetoshi Onodera
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
96.
Self-Healing Imager Based on Detection and Conciliation of Defective Pixels
机译:
基于缺陷像素的检测和调解的自愈成像仪
作者:
Ghislain Takam Tchendjou
;
Emmanuel Simeu
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
defective pixel detection;
neighborhood analysis;
image sensor;
self-healing;
97.
AMS-RF test quality: Assessing defect severity
机译:
AMS-RF测试质量:评估缺陷严重程度
作者:
Valentin Guiterrez
;
Antonio Gines
;
Gildas Leger
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
98.
Robust Machine Learning Systems: Reliability and Security for Deep Neural Networks
机译:
强大的机器学习系统:深度神经网络的可靠性和安全性
作者:
Muhammad Abdullah Hanif
;
Faiq Khalid
;
Rachmad Vidya Wicaksana Putra
;
Semeen Rehman
;
Muhammad Shafique
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Machine Learning;
Deep Neural Networks;
DNNs;
Reliability;
Security;
Soft Errors;
Aging;
Process Variations;
Hardware;
99.
Fault-Resilient Topology Planning and Traffic Configuration for IEEE 802.1Qbv TSN Networks
机译:
IEEE 802.1QBV TSN网络的故障弹性拓扑规划和流量配置
作者:
Ayman A. Atallah
;
Ghaith Bany Hamad
;
Otmane Ait Mohamed
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
关键词:
Network Reliability;
Fault-Resilience;
Topology Planning;
TSN Network;
IEEE 802.1Qbv;
Greedy Heuristic;
Routing;
Scheduling;
100.
On the Effect of Aging in Detecting Hardware Trojan Horses with Template Analysis
机译:
衰老在模板分析中检测硬件特洛伊木马的影响
作者:
Naghmeh Karimi
;
Jean-Luc Danger
;
Sylvain Guilley
会议名称:
《IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design》
|
2018年
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