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International On-Line Testing Symposium
International On-Line Testing Symposium
召开年:
2014
召开地:
Catalunya(ES)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
Exploiting a fast and simple ECC for scaling supply voltage in level-1 caches
机译:
利用快速简单的ECC来扩展1级缓存中的电源电压
作者:
Yalcin Gulay
;
Islek Emrah
;
Tozlu Oyku
;
Reviriego Pedro
;
Cristal Adrian
;
Unsal Osman S.
;
Ergin Oguz
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Decoding;
Encoding;
Energy consumption;
Error correction;
Error correction codes;
Logic gates;
Organizations;
2.
Comparative study of defect-tolerant multiplexers for FPGAs
机译:
FPGA的容错多路复用器的比较研究
作者:
Ben Dhia Arwa
;
Slimani Mariem
;
Naviner Lirida
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Computer architecture;
Delays;
Field programmable gate arrays;
Robustness;
Standards;
Tunneling magnetoresistance;
Defect modeling;
FPGA look-up table;
defect tolerance;
hardening techniques;
3.
Area-efficient synthesis of fault-secure NoC switches
机译:
故障安全NoC开关的区域有效合成
作者:
Dalirsani Atefe
;
Kochte Michael A.
;
Wunderlich Hans-Joachim
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Circuit faults;
Compaction;
Encoding;
Multiplexing;
Ports (Computers);
Testing;
Vectors;
Network-on-Chip self-checking;
concurrent error detection;
fault-secure;
online testing;
4.
Multivariate outlier modeling for capturing customer returns #x2014; How simple it can be
机译:
用于捕获客户回报的多元离群值建模-多么简单
作者:
Tikkanen Jeff
;
Sumikawa Nik
;
Wang Li-C.
;
Abadir Magdy S.
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Analytical models;
Automotive engineering;
Correlation;
Gaussian distribution;
Semiconductor device modeling;
Support vector machines;
Testing;
5.
Fault injection and fault handling: An MPSoC demonstrator using IEEE P1687
机译:
故障注入和故障处理:使用IEEE P1687的MPSoC演示器
作者:
Petersen Kim
;
Nikolov Dimitar
;
Ingelsson Urban
;
Carlsson Gunnar
;
Zadegan Farrokh Ghani
;
Larsson Erik
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Circuit faults;
Digital signal processing;
Fault detection;
Fault tolerance;
Instruments;
Registers;
Testing;
6.
Permanent faults on LIN networks: On-line test generation
机译:
LIN网络上的永久性故障:在线测试生成
作者:
Vaskova A.
;
Portela-Garcia M.
;
Garcia-Valderas M.
;
Lopez-Ongil C.
;
Reorda M.Sonza
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Decision support systems;
Receivers;
Testing;
Transmitters;
LIN Bus;
On-line Testing;
Permanent Faults;
7.
From an analytic NBTI device model to reliability assessment of complex digital circuits
机译:
从解析NBTI器件模型到复杂数字电路的可靠性评估
作者:
Aryan N.Pour
;
Listl A.
;
Heiss L.
;
Yilmaz C.
;
Georgakos G.
;
Schmitt-Landsiedel D.
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Aging;
Degradation;
Integrated circuit modeling;
Logic gates;
Reliability;
Stress;
Transistors;
8.
Real-time transient error and induced noise cancellation in linear analog filters using learning-assisted adaptive analog checksums
机译:
使用学习辅助自适应模拟校验和的线性模拟滤波器中的实时瞬态误差和感应噪声消除
作者:
Gomez-Pau Alvaro
;
Banerjee Suvadeep
;
Chatterjee Abhijit
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Band-pass filters;
Equations;
Noise cancellation;
Real-time systems;
Transient analysis;
Vectors;
Analog Checksums;
Learning-Assisted Checksums;
Linear Analog Filters;
Minimum Distance Check-sums;
Real-Time Error Cancellation;
Real-Time Noise Cancellation;
9.
Pre-bond testing of weak defects in TSVs
机译:
预粘合测试TSV中的弱缺陷
作者:
Arumi Daniel
;
Rodriguez-Montanes Rosa
;
Figueras Joan
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Built-in self-test;
Circuit faults;
Circuit stability;
Proposals;
Resistance;
Through-silicon vias;
10.
Customized cell detector for laser-induced-fault detection
机译:
定制的细胞检测仪,用于激光诱导故障检测
作者:
Lu Feng
;
Di Natale Giorgio
;
Flottes Marie-Lise
;
Rouzeyre Bruno
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Decision support systems;
Testing;
Cell detector;
fault attacks;
laser attacks detection;
11.
Precise fault-injections using voltage and temperature manipulation for differential cryptanalysis
机译:
使用电压和温度操作进行精确的故障注入以进行差分密码分析
作者:
Kumar Raghavan
;
Jovanovic Philipp
;
Polian Ilia
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Ciphers;
Circuit faults;
Clocks;
Logic gates;
Mathematical model;
Temperature distribution;
12.
A novel hardware logic encryption technique for thwarting illegal overproduction and Hardware Trojans
机译:
阻止非法超量生产和硬件木马的新颖硬件逻辑加密技术
作者:
Dupuis Sophie
;
Ba Papa-Sidi
;
Di Natale Giorgio
;
Flottes Marie-Lise
;
Rouzeyre Bruno
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Controllability;
Encryption;
Hardware;
Integrated circuits;
Logic gates;
Trojan horses;
Vectors;
Hardware Trojan;
Hardware Trojan Activation;
Hardware Trojan Detection;
Logic Encryption;
Logic testing;
13.
A noise-tolerant master-slave flip-flop
机译:
耐噪声的主从触发器
作者:
Miura Yukiya
;
Ohkawa Yoshihiro
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Clocks;
Latches;
Master-slave;
Noise;
Synchronization;
Transient analysis;
data signal;
dependable design;
master-slave flip-flops;
noise;
synchronous circuits;
14.
New approaches for synthesis of redundant combinatorial logic for selective fault tolerance
机译:
合成冗余组合逻辑以实现选择性容错的新方法
作者:
Xie Hao
;
Chen Li
;
Liu Rui
;
Evans Adrian
;
Alexandrescu Dan
;
Wen Shi-Jie
;
Wong Rick
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Circuit faults;
Integrated circuit modeling;
Logic functions;
Logic gates;
Mathematical model;
Measurement;
Vectors;
approximate logic;
fault-tolerance;
logic synthesis;
15.
A placement strategy for reducing the effects of multiple faults in digital circuits
机译:
减少数字电路中多个故障影响的布局策略
作者:
Pagliarini Samuel N.
;
Pradhan Dhiraj
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Circuit faults;
Error analysis;
Integrated circuit modeling;
Logic gates;
Reliability;
Transient analysis;
Vectors;
16.
Cost-efficient of a cluster in a mesh SRAM-based FPGA
机译:
基于网格SRAM的FPGA中集群的经济高效
作者:
Rehman Saif Ur
;
Benabdenbi Mounir
;
Anghel Lorena
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Decision support systems;
Erbium;
Testing;
17.
Towards low-cost fault detection strategy of FPGA configuration memory in real-time systems
机译:
面向实时系统中FPGA配置存储器的低成本故障检测策略
作者:
Frischke Michael
;
Rohatschek Andreas J.
;
Stechele Walter
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Clocks;
Error correction codes;
Fault detection;
Field programmable gate arrays;
Random access memory;
Routing;
Testing;
18.
A novel methodology to increase fault tolerance in autonomous FPGA-based systems
机译:
在基于FPGA的自治系统中提高容错能力的新颖方法
作者:
Di Carlo Stefano
;
Gambardella Giulio
;
Prinetto Paolo
;
Rolfo Daniele
;
Trotta Pascal
;
Vallero Alessandro
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Availability;
Circuit faults;
Fault tolerance;
Fault tolerant systems;
Field programmable gate arrays;
Integrated circuit interconnections;
Partitioning algorithms;
19.
Improved circuitry for soft error correction in combinational logic in pipelined designs
机译:
流水线设计中用于组合逻辑中软错误校正的改进电路
作者:
Krstic Milos
;
Weidling Stefan
;
Petrovic Vladimir
;
Goessel Michael
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Circuit faults;
Clocks;
Delays;
Latches;
Pipelines;
Transient analysis;
DMR;
Soft errors;
TMR;
combinational logic;
pre-dictor;
self-checking;
20.
Online error detection and recovery in dataflow execution
机译:
在线错误检测和数据流执行中的恢复
作者:
Alves Tiago A.O.
;
Kundu Sandip
;
Marzulo Leandro A.J.
;
Franca Felipe M.G.
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Benchmark testing;
Bit error rate;
Hardware;
Image edge detection;
Parallel processing;
Runtime;
Transient analysis;
21.
A new solution to on-line detection of Control Flow Errors
机译:
在线检测控制流错误的新解决方案
作者:
Du B.
;
Reorda M.Sonza
;
Sterpone L.
;
Parra L.
;
Portela-Garcia M.
;
Lindoso A.
;
Entrena L.
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Decision support systems;
Testing;
control flow checking;
debug interface;
on-line test;
22.
Validation of a tool for estimating the effects of soft-errors on modern SRAM-based FPGAs
机译:
验证用于评估软错误对基于SRAM的现代FPGA的影响的工具
作者:
Desogus Marco
;
Sterpone Luca
;
Codinachs David Merodio
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Circuit faults;
Error analysis;
Estimation;
Field programmable gate arrays;
Random access memory;
System-on-chip;
FPGA;
Radiation Test;
Soft-Error Rate;
Upset;
23.
Modified DEC BCH codes for parallel correction of 3-bit errors comprising a pair of adjacent errors
机译:
修改后的DEC BCH码,用于并行校正包含一对相邻错误的3位错误
作者:
Badack Christian
;
Kern Thomas
;
Gossel Michael
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Decoding;
Error correction;
Error correction codes;
Polynomials;
Testing;
Vectors;
24.
Double node charge sharing SEU tolerant latch design
机译:
双节点电荷共享SEU耐受锁存器设计
作者:
Katsarou Katerina
;
Tsiatouhas Yiorgos
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Decision support systems;
Testing;
SEU tolerant latch design;
double node charge sharing SEUs;
soft error tolerance;
25.
Improving the significance of probabilistic circuit fault emulations
机译:
改善概率电路故障仿真的重要性
作者:
May David
;
Stechele Walter
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Circuit faults;
Clocks;
Emulation;
Error probability;
Measurement uncertainty;
Probabilistic logic;
Registers;
26.
Error masking with approximate logic circuits using dynamic probability estimations
机译:
使用动态概率估计的近似逻辑电路的错误屏蔽
作者:
Sanchez-Clemente A.
;
Entrena L.
;
Garcia-Valderas M.
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Decision support systems;
Handheld computers;
Testing;
Approximate circuit;
Error detection and correction;
Soft error;
signal probability;
testability;
27.
Versatile architecture-level fault injection framework for reliability evaluation: A first report
机译:
用于可靠性评估的多功能体系结构级故障注入框架:第一份报告
作者:
Foutris Nikos
;
Kaliorakis Manolis
;
Tselonis Sotiris
;
Gizopoulos Dimitris
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Circuit faults;
Data models;
Databases;
Estimation;
Microprocessors;
Reliability;
Transient analysis;
architectural fault injection;
reliability evaluation;
28.
Framework for economical error recovery in embedded cores
机译:
嵌入式内核中经济错误恢复的框架
作者:
Upasani Gaurang
;
Vera Xavier
;
Gonzalez Antonio
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Acoustic waves;
Checkpointing;
Detectors;
Embedded systems;
Memory management;
Program processors;
Robustness;
29.
Power-aware optimization of software-based self-test for L1 caches in microprocessors
机译:
对微处理器中的L1缓存进行基于软件的自检的功耗感知优化
作者:
Theodorou G.
;
Kranitis N.
;
Paschalis A.
;
Gizopoulos D.
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Decision support systems;
Testing;
30.
Fip-flop selection for in-situ slack-time monitoring based on the activation probability of timing-critical paths
机译:
基于时序关键路径的激活概率的触发器选择,用于原位松弛时间监控
作者:
Sarrazin Sebastien
;
Evain Samuel
;
Miro-Panades Ivan
;
de Barros Naviner Lirida Alves
;
Gherman Valentin
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Clocks;
Delays;
Monitoring;
Temperature measurement;
Temperature sensors;
dynamic variations;
in-situ slack-time monitoring;
monitor activation probability;
on-line monitoring;
31.
A hybrid reliability assessment method and its support of sequential logic modelling
机译:
混合可靠性评估方法及其对顺序逻辑建模的支持
作者:
Pagliarini Samuel N.
;
Naviner Lirida A.de B.
;
Naviner Jean-Francois
;
Pradhan Dhiraj
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Circuit faults;
Integrated circuit modeling;
Integrated circuit reliability;
Logic gates;
Sequential circuits;
Transient analysis;
32.
Aging-aware critical paths in deep submicron
机译:
深亚微米中可感知老化的关键路径
作者:
Alladi Phaninder
;
Tragoudas Spyros
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Aging;
Delays;
Integrated circuit modeling;
Logic gates;
Probability density function;
Solid modeling;
Stress;
33.
Early assessment of SEU sensitivity through untestable fault identification
机译:
通过无法测试的故障识别来早期评估SEU敏感性
作者:
Cassano Luca
;
Guzman-Miranda Hipolito
;
Aguirre Miguel A.
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Circuit faults;
Field programmable gate arrays;
Integrated circuit modeling;
Logic gates;
Sensitivity;
Single event upsets;
Testing;
Automatic Test Generation;
Computer Aided De-sign;
Fault Injection;
Model-Checking;
SAL;
SEU Sensitivity Analysis;
Single Event Upset;
Untestability Proof;
34.
Timing for virtual TMR in logic circuits
机译:
逻辑电路中虚拟TMR的时序
作者:
Muller Sebastian
;
Koal Tobias
;
Scholzel Mario
;
Vierhaus Heinrich T.
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Circuit faults;
Delays;
Fault tolerant systems;
Hardware;
Maintenance engineering;
Power demand;
Tunneling magnetoresistance;
35.
Preliminary results of SEU fault-injection on multicore processors in AMP mode
机译:
在AMP模式下在多核处理器上进行SEU故障注入的初步结果
作者:
Vargas Vanessa
;
Ramos Pablo
;
Mansour Wassim
;
Velazco Raoul
;
Zergainoh Nacer-Edinne
;
Mehaut Jean-Francois
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Decision support systems;
Testing;
Asymmetric multi-processing;
Fault-Injection;
Multicore;
SEU;
Soft Error;
36.
Novel self-test methods to reduce on-chip memory requirements and improved test coverage
机译:
新颖的自检方法可减少片上存储器需求并提高测试覆盖率
作者:
Narayanan Prakash
;
Ravichandran Satish
;
Ramayanam Balaji
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Read only memory;
Testing;
LBIST;
Logic Self-Test;
MISR;
Pattern Re-use;
Scan Compression;
37.
FF-DICE: An 8T soft-error tolerant cell using Independent Dual Gate SOI FinFETs
机译:
FF-DICE:使用独立双栅极SOI FinFET的8T软容错单元
作者:
Axelos N.
;
Eftaxiopoulos N.
;
Zervakis G.
;
Tsoumanis K.
;
Pekmestzi K.
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Europe;
FinFETs;
Logic gates;
Noise;
Threshold voltage;
38.
Effect of ionizing radiation on TRNGs for safe telecommunications: Robustness and randomness
机译:
电离辐射对安全电信TRNG的影响:稳健性和随机性
作者:
Martin H.
;
Vaskova A.
;
Lopez-Ongil C.
;
Millan E.San
;
Portela-Garcia M.
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Circuit faults;
Field programmable gate arrays;
Generators;
Integrated circuit modeling;
NIST;
Registers;
Security;
Ionaizing radiation;
SEU;
TRNG;
fault-tolerant;
reliability;
39.
An innovative standard cells remapping method for in-circuit critical parameters monitoring
机译:
创新的标准单元重新映射方法,用于在线关键参数监控
作者:
Welter Loic
;
Dreux Philippe
;
Aziza Hassen
;
Portal Jean-Michel
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Capacitance;
Frequency measurement;
Logic gates;
Metals;
Monitoring;
Standards;
Topology;
monitoring function;
standard cells remapping;
test vehicule;
topological exchange;
40.
Fault injection in GPGPU cores to validate and debug robust parallel applications
机译:
GPGPU内核中的故障注入可验证和调试强大的并行应用程序
作者:
De Carvalho M.
;
Sabena D.
;
Reorda M.Sonza
;
Sterpone L.
;
Rech P.
;
Carro L.
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Decision support systems;
Testing;
fault injection;
reliable GPGPU applications;
robust algorithms;
transient faults;
41.
Multi-abstraction level signature generation and comparison based on radiation single event upset
机译:
基于辐射单事件翻转的多抽象水平特征码生成和比较
作者:
Hobeika C.
;
Pichette S.
;
Leonard M.A.
;
Thibeault C.
;
Boland J.F.
;
Audet Y.
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Adders;
Analytical models;
Circuit faults;
Decision support systems;
Emulation;
Integrated circuit modeling;
Table lookup;
Radiation effects;
SEU;
SRAM-based FPGA;
emulation;
signatures;
42.
Managing SER costs of complex systems through Linear Programming
机译:
通过线性编程管理复杂系统的SER成本
作者:
Alexandrescu Dan
;
Bidokhti Nematollah
;
Yu Andy
;
Evans Adrian
;
Costenaro Enrico
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Application specific integrated circuits;
Linear programming;
Optimization;
Random access memory;
Reliability engineering;
Testing;
Cross-layer optimization;
SER;
SER management;
43.
Two complementary approaches for studying the effects of SEUs on HDL-based designs
机译:
研究SEU对基于HDL的设计的影响的两种补充方法
作者:
Mansour W.
;
Aguirre M.A.
;
Guzman-Miranda H.
;
Barrientos J.
;
Velazco R.
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Decision support systems;
Testing;
Fault Injection;
Hardware Description Language;
SRAM-based FPGA;
Single Event Upsets;
44.
Dependable reconfigurable space systems: Challenges, new trends and case studies
机译:
可靠的可重构空间系统:挑战,新趋势和案例研究
作者:
Paschalis Antonis
;
Michalik Harald
;
Kranitis Nektarios
;
Lopez-Ongil Celia
;
Vasallo Pedro Reviriego
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Decision support systems;
Testing;
dependability;
reconfigurability;
space systems;
45.
Cross-layer early reliability evaluation: Challenges and promises
机译:
跨层早期可靠性评估:挑战与希望
作者:
Di Carlo S.
;
Vallero A.
;
Gizopoulos D.
;
Di Natale G.
;
Gonzalez A.
;
Canal R.
;
Mariani R.
;
Pipponzi M.
;
Grasset Arnaud
;
Bonnot Philippe
;
Reichenbach Frank
;
Rafiq G.
;
Loekstad T.
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Testing;
computing systems;
reliability evalution;
46.
Solutions for the self-adaptation of communicating systems in operation
机译:
运行中的通信系统自适应的解决方案
作者:
Andraud Martin
;
Deluthault Anthony
;
Dieng Mouhamadou
;
Azais Florence
;
Bernard Serge
;
Cauvet Philippe
;
Comte Mariane
;
Kervaon Thibault
;
Kerzerho Vincent
;
Mir Salvador
;
Pugliesi-Conti Paul-Henri
;
Renovell Michel
;
Soulier Fabien
;
Simeu Emmanuel
;
Stratigopoulos Haralampos-G.
会议名称:
《International On-Line Testing Symposium》
|
2014年
关键词:
Calibration;
Frequency measurement;
Impedance;
Lenses;
Radio frequency;
Transmitters;
Tuning;
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