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European conference on Design and Test

召开年：1995
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1.Modeling and optimization of hierarchical synchronous circuits

机译：分层同步电路的建模和优化
- 作者：B. Lin;G. de Jong;T. Kolks
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- synchronous trace set model;
2.Elimination of multi-cycle false paths by state encoding

机译：通过状态编码消除多周期错误路径
- 作者：Z. Hasan;M. J. Ciesielski
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- state encoding;
3.Index of Authors

机译：作者索引
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
4.When clusters meet partitions

机译：当群集遇到分区时
- 作者：D. J. -H. Huang;A. B. Kahng
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- subhypergraph;
5.Delay models for the sea-of-wires array synthesis system

机译：线海阵列综合系统的延迟模型
- 作者：Ing-Yi Chen;Geng-Lin Chen;Sy-Yen Kuo
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- timing analysis algorithm;
6.An ASIC design for real-time image processing in industrial applications

机译：用于工业应用中实时图像处理的ASIC设计
- 作者：M. Valle;G. Nateri;D. D. Caviglia;G. M. Bisio;L. Briozzo
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- real-time systems;
7.Incorporating compiler feedback into the design of ASIPs

机译：将编译器反馈纳入ASIP的设计
- 作者：F. Onion;A. Nicolau;N. Dutt
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- scheduling techniques;
8.Implicit manipulation of polynomials using zero-suppressed BDDs

机译：使用零抑制BDD隐式操纵多项式
- 作者：S. Minato
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- zero-suppressed BDDs;
9.Pseudo-exhaustive word-oriented DRAM testing

机译：伪穷尽的单词导向DRAM测试
- 作者：M. G. Karpovsky;A. J. van de Goor;V. N. Yarmolik
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- word-oriented DRAM testing;
10.Multilevel thermal simulation of MCM's by system 'MONSTR-M'

机译：通过“ MONSTR-M”系统对MCM进行多级热仿真
- 作者：V. A. Koval;D. V. Fedasyuk
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- thermal model;
11.Efficient synthesis of fault-tolerant controllers

机译：容错控制器的高效综合
- 作者：R. Rochet;R. Leveugle;G. Saucier
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- state assignment;
12.A method for testability analysis and BIST insertion at the RTL

机译：在RTL中进行可测性分析和BIST插入的方法
- 作者：J. Carletta;C. Papachristou
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- testability metrics;
13.Design and test of the PowerPC 603 microprocessor

机译：PowerPC 603微处理器的设计和测试
- 作者：E. K. Vida-Torku;C. H. Malley;Sung Park;R. Reed
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- test data generation methodologies;
14.Improved technology mapping using a new approach to Boolean matching

机译：使用新的布尔匹配方法改进了技术映射
- 作者：B. Kapoor
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- technology mapping;
15.Synthesis of multilevel fault-tolerant combinational circuits

机译：多级容错组合电路的综合
- 作者：A. Bogliolo;M. Damiani
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- redundancy;
16.Input and output processor for an ATM high speed switch (2.5 Gb/s)

机译：ATM高速交换机的输入和输出处理器（2.5 Gb / s）
- 作者：P. Plaza;J. C. Diaz;F. Calvo;L. Merayo;M. Zamboni;P. Scarfone;M. Barbini
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- input/output processor;
17.Fully automatic DC fault dictionary construction and test nodes selection for analogue fault diagnosis

机译：全自动直流故障字典构建和测试节点选择，用于模拟故障诊断
- 作者：J. S. Augusto;C. F. B. Almeida
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- tolerance file;
18.Functional test for shifting-type FIFOs

机译：移位型FIFO的功能测试
- 作者：A. J. van de Goor;I. Schanstra;Y. Zorian
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- stand-alone chip;
19.Test preparation methodology for high coverage of physical defects in CMOS digital ICs

机译：覆盖CMOS数字IC物理缺陷的测试准备方法
- 作者：M. B. Santos;M. Simoes;I. Teixeira;J. P. Teixeira
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- test preparation methodology;
20.High speed communications links for ASICs

机译：ASIC的高速通信链接
- 作者：I. Montandon;D. Burrows;K. Hunt
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- packaging;
21.Network initialization in a switch-level simulator

机译：交换机级模拟器中的网络初始化
- 作者：A. J. Van Genderen
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- user-defined initialization;
22.A design-for-test structure for optimising analogue and mixed signal IC test

机译：用于优化模拟和混合信号IC测试的测试设计结构
- 作者：A. H. Bratt;A. M. D. Richardson;R. J. A. Harvey;A. P. Dorey
- 会议名称：《》 | 1995年
- swap amp;
23.A 622/155 mbps ATM line terminator mono-chip

机译：622/155 mbps ATM线路终结器单芯片
- 作者：M. Diaz Nava;D. Belot;P. Delerue;J. Bulone
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- transceivers;
24.Proving testing preorders for process algebra descriptions

机译：证明过程代数描述的测试预购
- 作者：F. Corno;M. Cusinato;M. Ferrero;P. Prinetto
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- verification methodologies;
25.Achieving simulation-based test program verification and fault simulation capabilities for mixed-signal systems

机译：为混合信号系统实现基于仿真的测试程序验证和故障仿真功能
- 作者：P. Caunegre;C. Abraham
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- virtual test system;
26.A built-in quiescent current monitor for CMOS VLSI circuits

机译：用于CMOS VLSI电路的内置静态电流监控器
- 作者：A. Rubio;E. Janssens;H. Casier;J. Figueras;D. Mateo;P. De Pauw;J. Segura
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- power supply voltage perturbation;
27.Enhanced testing performance via unbiased test sets

机译：通过无偏测试集增强测试性能
- 作者：L. -C. Wang;M. R. Mercer;T. W. Williams
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- unbiased test sets;
28.Mixed-signal modelling in VHDL for system-on-chip applications

机译：VHDL中的混合信号建模，用于片上系统应用
- 作者：F. Pichon;S. Blanc;B. Candaele
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- top-down ASIC design flow;
29.Efficient code generation for in-house DSP-cores

机译：内部DSP内核的高效代码生成
- 作者：M. Strik;J. van Meerbergen;A. Timmer;J. Jess;S. Note
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- scheduling;
30.Controlling change propagation and project policies in IC design

机译：在IC设计中控制变更传播和项目策略
- 作者：Y. Mathys;M. Morgan;S. Soudagar
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- tool integration;
31.Accumulator-based BIST approach for stuck-open and delay fault testing

机译：基于累加器的BIST方法用于开路和延迟故障测试
- 作者：I. Voyiatzis;A. Paschalis;D. Nikolos;C. Halatsis
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- stuck-open testing;
32.Balancing structural hazards and hardware cost of pipelined processors

机译：平衡流水线处理器的结构危害和硬件成本
- 作者：A. E. Casavant
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- structural hazards;
33.Self-checking architectures for fast Hartley transform

机译：自检架构可实现快速的Hartley转换
- 作者：J. M. Tahir;S. S. Dlay;R. N. G. Naguib;O. R. Hinton
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- spectral analysis;
34.Rapid prototype of a hardware emulator for a SIMD processor array

机译：用于SIMD处理器阵列的硬件仿真器的快速原型
- 作者：D. L. Andrews;A. Wheeler;B. Wealand;C. Kancler
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- virtual machines;
35.Software estimation using a generic-processor model

机译：使用通用处理器模型进行软件估算
- 作者：Jie Gong;D. D. Gajski;S. Narayan
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- systems analysis;
36.SENSAT-a practical tool for estimation of the IC layout sensitivity to spot defects

机译：SENSAT-一种评估IC布局对斑点缺陷敏感性的实用工具
- 作者：W. Pleskacz;W. Kuzmicz
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- spot defects;
37.Artificial neural networks in medical decision making systems

机译：医疗决策系统中的人工神经网络
- 作者：G. -P. K. Economou;J. A. Hallas;E. P. Mariatos;C. E. Goutis
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- synthesized implementation hardware optimization;
38.Circuit clustering for delay minimization under area and pin constraints

机译：电路聚类可在面积和引脚约束下将延迟最小化
- 作者：Honghua Yang;D. F. Wong
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- repeated network cut technique;
39.Architecture driven k-way partitioning for multichip modules

机译：架构驱动的多芯片模块的k路分区
- 作者：B. M. Riess;A. A. Schoene
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- substrate border;
40.Sequential logic minimization based on functional testability

机译：基于功能可测试性的顺序逻辑最小化
- 作者：F. Fummi;D. Sciuto;M. Serra
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- testable circuits;
41.A BDD-based frontend for retargetable compilers

机译：用于可重定位编译器的基于BDD的前端
- 作者：R. Leupers;P. Marwedel
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- target processor model;
42.Prediction of interconnect delay in logic synthesis

机译：逻辑综合中互连延迟的预测
- 作者：H. H. -F. Jyu;S. Malik
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- piecewise-linear techniques;
43.Bit parallel test pattern generation for path delay faults

机译：路径延迟故障的位并行测试码型生成
- 作者：M. Henftling;H. Wittman
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- path delay faults;
44.A comparative study of algorithms for A/D converter performance evaluation by statistical analysis

机译：基于统计分析的A / D转换器性能评估算法的比较研究
- 作者：D. Dallet;G. Franco;P. Marchegay;C. Morandi
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- statistical analysis;
45.A trace-based method for delay fault diagnosis in synchronous sequential circuits

机译：基于跟踪的同步时序电路故障诊断方法
- 作者：P. Girard;C. Landrault;S. Pravossoudovitch;B. Rodriguez
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- trace-based method;
46.Integration of an expert system for analogue layout synthesis into a commercial CAD framework

机译：将模拟布局合成专家系统集成到商业CAD框架中
- 作者：D. A. Bensouiah;R. J. Mack;R. E. Massara
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- mixed-mode design;
47.A unified scheduling model for high-level synthesis and code generation

机译：用于高级综合和代码生成的统一调度模型
- 作者：A. Kifli;G. Goosens;H. De Man
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- unified scheduling model;
48.Analysis and reduction of glitches in synchronous networks

机译：分析和减少同步网络中的毛刺
- 作者：J. Leijten;J. van Meerbergen;J. Jess
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- transition counting/parity evaluation method;
49.A novel DFT technique for critical bridging faults in CMOS and BiCMOS ICs

机译：CMOS和BiCMOS IC中严重桥接故障的新型DFT技术
- 作者：M. Favalli;B. Ricco;L. Penza
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- online testing;
50.Exact scheduling strategies based on bipartite graph matching

机译：基于二部图匹配的精确调度策略
- 作者：A. H. Timmer;J. A. G. Jess
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- search space;
51.A Gauss-elimination based PRPG for combinational circuits

机译：用于组合电路的基于高斯消除的PRPG
- 作者：Li-Ren Huang;Sy-Yen Kuo;Ing-Yi Chen
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- reseeding;
52.Architectural exploration for datapaths with memory hierarchy

机译：具有内存层次结构的数据路径的架构探索
- 作者：N. D. Holmes;D. D. Gajski
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- performance/cost tradeoffs;
53.A hybrid hierarchical approach for multi-layer global routing

机译：多层全局路由的混合分层方法
- 作者：M. Hayashi;S. Tsukiyama
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- topdown hierarchical router;
54.On testability of checkable digital circuits under pseudorandom signals

机译：伪随机信号下可检查数字电路的可测性
- 作者：A. Romankevich;V. Groll
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- testability;
55.A BIST approach to delay fault testing with reduced test length

机译：一种BIST方法来延迟故障测试并缩短测试时间
- 作者：B. Wurth;K. Fuchs
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- test length reduction;
56.VERIFUL

机译：检查
- 作者：R. Mukherjee;J. Jain;M. Fujita
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- ordered binary decision diagrams;
57.Combining MBP-speculative computation and loop pipelining in high-level synthesis

机译：在高级综合中将MBP推测性计算与循环流水线相结合
- 作者：U. Holtmann;R. Ernst
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- scheduling algorithm;
58.A testability measure for hierarchical design environments

机译：分层设计环境的可测性度量
- 作者：M. H. C. Lee;D. L. Tao
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- testability measure;
59.Checking signal transition graph implementability by symbolic BDD traversal

机译：通过符号BDD遍历检查信号转换图的可实现性
- 作者：A. Kondratyev;J. Cortadella;M. Kishinevsky;E. Pastor;O. Roig;A. Yakovlev
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- symbolic approach;
60.Using symbolic techniques to find the maximum clique in very large sparse graphs

机译：使用符号技术在非常大的稀疏图中找到最大集团
- 作者：F. Corno;P. Prinetto;M. Sonza Reorda
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- symbolic techniques;
61.Mixed-signal circuits and boards for high safety applications

机译：高安全应用的混合信号电路和板
- 作者：M. Lubaszewski;V. Kolarik;S. Mir;C. Nielsen;B. Courtois
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- self-checking properties;
62.Optimizing synchronous systems for multi-dimensional applications

机译：针对多维应用优化同步系统
- 作者：N. L. Passos;E. H. -M. Sha;Liang-Fang Chao
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- two-dimensional digital filters;
63.A unified model for co-simulation and co-synthesis of mixed hardware/software systems

机译：混合硬件/软件系统的共同仿真和综合的统一模型
- 作者：C. A. Valderrama;A. Changuel;P. V. Raghavan;M. Abid;T. Ben Ismail;A. A. Jerraya
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- unified model;
64.Deadline-monotonic software scheduling for the co-synthesis of parallel hard real-time systems

机译：并行硬实时系统的综合的截止单调软件调度
- 作者：P. Altenbernd
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- scheduling;
65.SLIF

机译：SLIF
- 作者：F. Vahid;D. D. Gajski
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- system-level design;
66.Decomposition of logic functions for minimum transition activity

机译：分解逻辑功能以最小化过渡活动
- 作者：R. Murgai;R. K. Brayton;A. Sangiovanni-Vincentelli
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- zero gate delay model;
67.PPS

机译：PPS
- 作者：M. Rahmouni;A. A. Jerraya
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- scheduling algorithm;
68.Post-layout optimization of power and timing for ECL LSIs

机译：ECL LSI的电源和时序的布局后优化
- 作者：A. Onozawa;H. Kitazawa;K. Kawai
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- timing;
69.A variant of Cooley-Tuckey algorithm with local memory management

机译：具有本地内存管理功能的Cooley-Tukey算法的变体
- 作者：J. -M. Bourguet;T. Nancy;S. J. Wei;J. Leroy;R. G. Crappe
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- temporal locality;
70.Automatic clock tree generation in ASIC designs

机译：ASIC设计中的自动时钟树生成
- 作者：A. Balboni;C. Costi;A. Pellencin;M. Quadrini;D. Sciuto
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- transmitter-receiver couples;
71.Automatic test vector generation for mixed-signal circuits

机译：混合信号电路的自动测试矢量生成
- 作者：B. Ayari;N. Ben Hamida;B. Kaminska
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- mixed-signal circuits;
72.The effect of pin constraints on layout area

机译：引脚约束对布局面积的影响
- 作者：B. Schurmann;J. Altmeyer
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- top-down design;
73.Imperfect linear duplication of combinational circuits

机译：组合电路的线性复制不完美
- 作者：R. Kh. Latypov;Y. L. Stolov
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- output sequence;
74.TRJM

机译：TRJM
- 作者：J. Crespo;F. Calvo;J. I. Solana;R. Caravantes;J. L. Conesa
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- synchronous digital hierarchy;
75.A histogram method for analog-digital converters testing in time and spectral domain

机译：在时域和频谱域中测试模数转换器的直方图方法
- 作者：V. Zagursky;N. Semyonova;M. Sirovatkina
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- statistical analysis;
76.A precise event-driven circuit simulator based on predicted fan-in voltages

机译：基于预测扇入电压的精确事件驱动电路模拟器
- 作者：H. Fujisawa;F. Kawafuji;T. Kitaura;T. Kage
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- predicted fan-in voltages;
77.A universal telephone audio circuit with loudhearing and handsfree operation in CMOS technology

机译：通用电话音频电路，采用CMOS技术，可进行大声监听和免提操作
- 作者：K. Hayat-Dawoodi;O. Alminde;V. Kunc;M. Pauritsch
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- voice control system;
78.A 370-MHz memory built-in self-test state machine

机译：370 MHz内存内置自检状态机
- 作者：R. D. Adams;J. Connor;G. S. Koch;L. Ternullo
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- test-pattern flexibility;
79.Complexity of sequential ATPG

机译：顺序ATPG的复杂性
- 作者：T. E. Marchok;A. El-Maleh;W. Maly;J. Rajski
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- timing;
80.Improved sequential ATPG using functional observation information and new justification methods

机译：使用功能性观察信息和新的证明方法改进了顺序式ATPG
- 作者：Jaehong Park;Chanhee Oh;M. R. Mercer
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- structure-based methods;
81.An efficient method for computing exact path delay fault coverage

机译：计算精确路径延迟故障覆盖率的有效方法
- 作者：B. Kapoor
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- tree data structures;
82.On software development to support statistical simulation of analogue circuits

机译：关于软件开发以支持模拟电路的统计仿真
- 作者：E. Driouk;O. Jarov;A. Sukhodolsky
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- yield estimation;
83.Defect-oriented test methodology for complex mixed-signal circuits

机译：面向复杂混合信号电路的面向缺陷的测试方法
- 作者：F. C. M. Kuijstermans;M. Sachdev;A. P. Thijssen
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- test costs;
84.Improving initialization through reversed retiming

机译：通过反向重定时改善初始化
- 作者：L. Stok;I. Spillinger;G. Even
- 会议名称：《European conference on Design and Test》 | 1995年
- timing;