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Optical measurement systems for industrial inspection VII
Optical measurement systems for industrial inspection VII
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1.
Determination of the characteristics of the surface of objects at optical remote sensing by the polarization-holographic imaging Stokes spectropolarimeter
机译:
偏振全息成像斯托克斯光谱旋光仪测定光学遥感时物体表面的特性
作者:
Barbara Kilosanidze
;
George Kakauridze
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
2.
Investigation of organic light emitting diodes for interferometric purposes
机译:
用于干涉测量的有机发光二极管的研究
作者:
Anna Pakula
;
Marzena Zimak
;
Leszek Sałbut
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
3.
Spectral polarimetry-based measurement of the thickness of a thin film
机译:
基于光谱偏振法的薄膜厚度测量
作者:
P. Hlubina
;
J. Luňáček
;
D. Ciprian
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
4.
3D profilometry on aspheric and freeform lenses
机译:
非球面和自由曲面镜片上的3D轮廓测量
作者:
A. Beutler
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
5.
Measurements of aberrations of aspherical lenses using experimental ray tracing
机译:
使用实验光线跟踪测量非球面透镜的像差
作者:
Ufuk Ceyhan
;
Thomas Henning
;
Friedrich Fleischmann
;
David Hilbig
;
Dietmar Knipp
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
6.
Multisensor technology based on a laser focus probe for nanomeasuring applications over large areas
机译:
基于激光聚焦探头的多传感器技术,用于大面积纳米测量应用
作者:
Eberhard Manske
;
Gerd Jäger
;
Tino Hausotte
;
Torsten Machleidt
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
7.
Conceptual consideration for the process integration of optical sensors
机译:
光学传感器过程集成的概念考虑
作者:
David Fleischle
;
Wolfram Lyda
;
Florian Mauch
;
Wolfgang Osten
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
8.
Assistant systems for efficient multiscale measurement and inspection
机译:
高效多尺度测量和检查的辅助系统
作者:
Avinash Burla
;
Tobias Haist
;
Wolfram Lyda
;
Mohamed Hassanine Aissa
;
Wolfgang Osten
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
9.
Some aspects of error influences in interferometric measurements of optical surface forms
机译:
光学表面形式的干涉测量中误差影响的某些方面
作者:
M. Schulz
;
A. Wiegmann
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
10.
Diffractive simultaneous lateral shearing interferometry
机译:
衍射同时横向剪切干涉法
作者:
Vanusch Nercissian
;
Irina Harder
;
Klaus Mantel
;
reas Berger
;
Norbert Lindlein
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
11.
Aspherical surface measurement using quadri-wave lateral shearing interferometry
机译:
使用四波横向剪切干涉法测量非球面
作者:
William Boucher
;
Pascal Delage
;
Benoit Wattellier
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
12.
Remote laboratory for digital holographic metrology
机译:
远程数字全息计量实验室
作者:
Marc Wilke
;
Igor Alekseenko
;
Guohai Situ
;
Konica Sarker
;
Margarita Riedel
;
Giancarlo Pedrini
;
Wolfgang Osten
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
13.
Experimental study of the heat transfer process of air around atmospheric arc plasma
机译:
大气电弧等离子体周围空气传热过程的实验研究
作者:
F. Salimi Meidanshahi
;
Kh. Madanipour
;
Babak Shokri
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
14.
Sub-ppm absolute distance measurements using an optical frequency comb generated by a conventional dual-drive Mach-Zehnder modulator
机译:
使用传统双驱动Mach-Zehnder调制器产生的光频率梳进行亚ppm绝对距离测量
作者:
S. Le Floch
;
M. Llera
;
Y. Salvadé
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
15.
A novel diffractive encoding principle for absolute optical encoders
机译:
绝对光学编码器的新型衍射编码原理
作者:
D. Hopp
;
D. Wibbing
;
C. Pruss
;
W. Osten
;
J. Binder
;
W. Schinköthe
;
F. Sterns
;
J. Seybold
;
K.-P. Fritz
;
V. Mayer
;
H. Kück
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
16.
Evaluation of thermal expansion coefficient of Fabry-Perot cavity using an optical frequency comb
机译:
用光频率梳评估法布里-珀罗腔的热膨胀系数
作者:
Jindřich Oulehla
;
Radek Šmíd
;
Zdeněk Buchta
;
Martin Čížek
;
Břetislav Mikel
;
Petr Jedlička
;
Josef Lazar
;
Ondřej Číp
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
17.
An algorithm for the estimation of the in-focus distance for speckle holograms
机译:
散斑全息图对焦距离估计的算法
作者:
P. Memmolo
;
C. Distante
;
M. Paturzo
;
A. Finizio
;
P. Ferraro
;
B. Javidi
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
18.
Submicron displacements measurement by measuring autocorrelation of the transmission function of a grating
机译:
通过测量光栅的透射函数的自相关来测量亚微米位移
作者:
K. Madanipour
;
M. T. Tavassoly
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
19.
Optical vibration measurements of cross coupling effects in capacitive micromachined ultrasonic transducer arrays
机译:
电容式微加工超声换能器阵列中交叉耦合效应的光学振动测量
作者:
Erlend Leirset
;
Astrid Aksnes
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
20.
Synthetic aperture engineering for super-resolved microscopy in digital lensless Fourier holography
机译:
数字无透镜傅里叶全息术中超分辨显微镜的合成孔径工程
作者:
Vicente Micó
;
Luis Granero
;
Zeev Zalevsky
;
Javier García
会议名称:
《》
|
2011年
21.
High temperature sensing with FBGs using a tunable laser interrogation system
机译:
使用可调激光询问系统的FBG进行高温感应
作者:
B. Eder
;
M. Plattner
;
P. Putzer
;
P. Eckert
;
A. Reutlinger
;
T. Zeh
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
22.
Optimized dust-proof optical fiber sensing system for real-time monitoring of frequency, phase, and vibration of rotating parts
机译:
优化的防尘光纤传感系统,用于实时监测旋转零件的频率,相位和振动
作者:
K. Prokopczuk
;
P. Lesiak
;
T. Poczęsny
;
K. Rozwadowski
;
T. R. Woliński
;
A. W. Domański
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
23.
Shape and thickness measurements using a reconstruction method for linear sensor microscopy based on improvement of lateral resolution isotropy
机译:
使用基于横向分辨率各向同性改进的线性传感器显微镜重建方法进行形状和厚度测量
作者:
M. P. Macedo
;
C. M. B. A. Correia
会议名称:
《》
|
2011年
24.
Extended range metrology: an age old problem
机译:
扩展范围计量:一个古老的问题
作者:
Catherine E. Towers
;
David P. Towers
;
K. Falaggis
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
25.
Measuring amplitude and phase of light emerging from microstructures with HRIM
机译:
使用HRIM测量微结构发出的光的振幅和相位
作者:
Toralf Scharf
;
Myun-Sik Kim
;
Hans Peter Herzig
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
26.
Dynamic measurements using a Fizeau interferometer
机译:
使用Fizeau干涉仪进行动态测量
作者:
Daniel M. Sykora
;
Michael L. Holmes
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
27.
In-process fault detection for textile fabric production: onloom imaging
机译:
纺织品生产过程中的故障检测:织机成像
作者:
Florian Neumann
;
Timm Holtermann
;
Dorian Schneider
;
Ashley Kulczycki
;
Thomas Gries
;
Til Aach
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
28.
3D laser scanner system based on a galvanometer scan head for high temperature applications
机译:
基于检流计扫描头的3D激光扫描仪系统,适用于高温应用
作者:
Torunn Hegna
;
Hans Pettersson
;
Karl Magnus Laundal
;
Katarina Grujic
会议名称:
《》
|
2011年
29.
Mueller matrix imaging of nematic textures in colloidal dispersions of Na-fluorohectorite synthetic clay
机译:
氟锂蒙脱石合成粘土胶态分散体中向列织构的穆勒矩阵成像
作者:
Morten Kildemo
;
Lars M. S. Aas
;
Pål G. Ellingsen
;
Henrik Hemmen
;
Elisabeth L. Hansen
;
Jon O. Fossum
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
30.
3D shape measurement based on color-encoded sinusoidal fringe projection
机译:
基于颜色编码的正弦条纹投影的3D形状测量
作者:
Qican Zhang
;
Ke Ma
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
31.
Measurement and characterization of cylindrical surfaces by deflectometry applied to ballistic identification
机译:
偏转法测量和表征圆柱表面的弹道识别
作者:
A. V. Fantin
;
C. Veiga
;
A. Albertazzi
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
32.
Fringe projection based high-speed 3D sensor for real-time measurements
机译:
基于边缘投影的高速3D传感器,用于实时测量
作者:
Christian Bräuer-Burchardt
;
reas Breitbarth
;
Peter Kühmstedt
;
Ingo Schmidt
;
Matthias Heinze
;
Gunther Notni
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
33.
Alignment methods for ultraprecise deflectometric flatness metrology
机译:
高精度偏转平面度测量的对准方法
作者:
Gerd Ehret
;
Michael Schulz
;
Arne Fitzenreiter
;
Maik Baier
;
Wolfgang Jöckel
;
Manuel Stavridis
;
Clemens Elster
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
34.
Front Matter: Volume 8082
机译:
前题:第8082卷
作者:
SPIE
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
35.
High-speed, on-line 4D microscopy using continuously scanning white light interferometry with a high-speed camera and real-time FPGA image processing
机译:
高速在线4D显微镜,使用带有高速相机的连续扫描白光干涉仪和实时FPGA图像处理
作者:
P. Montgomery
;
F. Anstotz
;
J. Montagna
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
36.
3D high-speed profilometer for inspection of micro-manufactured transparent parts
机译:
3D高速轮廓仪,用于检查微制造的透明零件
作者:
Dean M. Ljubicic
;
Brian W. Anthony
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
37.
Inspection of processes during silicon wafer sawing using low coherence interferometry in the near infrared wavelength region
机译:
使用低相干干涉法在近红外波长范围内检查硅片锯切过程中的工艺
作者:
Kay Gastinger
;
Lars Johnsen
;
Ove Simonsen
;
Astrid Aksnes
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
38.
Uncertainty of height information in coherence scanning interferometry
机译:
相干扫描干涉仪中高度信息的不确定性
作者:
J. Seewig
;
T. Böttner
;
D. Broschart
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
39.
Pattern placement metrology using PROVE high precision optics combined with advanced correction algorithms
机译:
使用PROVE高精度光学器件结合先进的校正算法进行图案放置计量
作者:
Mario Längle
;
Norbert Rosenkranz
;
Dirk Seidel
;
Dirk Beyer
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
40.
Phase extraction in microscopy using tunable defocusing by means of a SLM
机译:
借助SLM通过可调散焦在显微镜下进行相提取
作者:
Luis Camacho
;
Vicente Micó
;
Zeev Zalevsky
;
Javier García
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
41.
Three-dimensional refractive index and thickness distribution of thin film measurements through dynamic multiwavelength interferometry
机译:
动态多波长干涉法测量薄膜的三维折射率和厚度分布
作者:
Kai Wu
;
Cheng-Chung Lee
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
42.
The effect of misalignment in phase retrieval based on a spatial light modulator
机译:
基于空间光调制器的相位恢复中未对准的影响
作者:
Mostafa Agour
;
Claas Falldorf
;
Christoph von Kopylow
;
Ralf B. Bergmann
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
43.
3D interconnect metrology in CMS/ITRI
机译:
CMS / ITRI中的3D互连计量
作者:
Y. S. Ku
;
D. M. Shyu
;
W. T. Hsu
;
P. Y. Chang
;
Y. C. Chen
;
H. L. Pang
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
44.
Dual-wavelength holographic shape measurement with iterative phase unwrapping
机译:
迭代相位展开的双波长全息形状测量
作者:
Sara Rosendahl
;
Per Bergström
;
Per Gren
;
Mikael Sjödahl
会议名称:
《Optical measurement systems for industrial inspection VII》
|
2011年
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