摘要：为找出更适合于9MeV加速器工业CT系统应用的闪烁晶体，对常用的工业CT闪烁晶体CdWO4、CsI(Tl)、PbWO4在系统上进行了实验。利用CCD相机、准直器、闪烁晶体等组成探测系统，在同一实验条件下对截面积相同,长度为25mm～45mm的CsI(Tl)、CdWO4、PbWO4晶体在同一位置的探测计数进行反复测量，得到不同晶体长度对应探测计数图。实验结果表明：不同晶体材料探测效率不同，闪烁晶体在未包裹反光膜状态，35mm 长度CsI(Tl)探测效率最好，而在包裹反光膜状态下45mm 长度CdWO4探测效率最好。
