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机译:通过先进的高温退火方法提高少数载流子寿命
Department of Physics, National University of Singapore, Singapore 117542, Singapore;
advanced annealing; lifetime of minority-carrier; defect-free zone; oxygen precipitates;
机译:利用生长后退火显着提高载流子寿命来确定BaSi_2富含地球的吸收剂薄膜中的少数载流子寿命
机译:快速热退火改善p(硼)型直拉硅中的电荷载流子寿命
机译:热退火对多晶硅片中少数载流子寿命的影响
机译:热退火对多晶硅中氧行为和少数载流子寿命的影响
机译:氮化镓和氮化镓基器件的高级处理:超高温退火和注入结合。
机译:一步和两步退火方法在高温下制备的自扩散Sn扩散Fe2O3阳极的光电化学阻抗和光学数据
机译:误诊:“硫化锡薄膜少数型载体寿命的瞬态太赫兹光电导测:早期光伏材料的高级计量”J。苹果。物理。 119,035101(2016)