Sub-Micron Magnetic Imaging with the Magnetic Force Microscope

摘要

Following a brief account of the basic principles underlying Magnetic Force Imaging, several exemples borrowed from recent work dealing with magnetic multilayers, nanowires and micron or sub-micron size soft elements illustrate the resolution and sensitivity of the me-thod. Tip-induced perturbative effects are discussed and the bases for image interpretation provided. Imaging methods aimed at a nm range resolution are alluded to in the conclusion.%Après une courte introduction aux principes régissant la Microscopie à Force Magnétique, plusieurs exemples empruntés à l'étude de multicouches, de nanofils et microéléments magnétiques permettent de caractériser les sensibilité et résolution de cette méthode d'imagerie magnétique. Les effets perturbateurs de la sonde sont discutés et les bases d'une interprétation des images explicitées. Une brève évocation de techniques à ambition d'une résolution d'un nm ou moins clôt ce texte.