机译:应变硅器件/电路的功率分析
IBM T.J. Watson Research Center, P.O. Box 218, Yorktown Heights, NY 10598, USA;
strained-Si MOSFETs; SOI; SSOI; SiGe; band offsets; floating-body effects;
机译:功率模糊:封装集成电路和功率器件的快速静态和瞬态热分析方法
机译:25nm双栅极CMOS器件和电路的泄漏功率分析
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