机译:深亚微米nMOS器件的衬底电流,栅极电流和寿命预测
Electrical and Computer Engineering Department, University of Central Florida, Orlando, FL 32816, United Stales;
MOS devices; reliability; lifetime model; substrate current; gate current;
机译:深亚微米NMOS器件的表征和寿命预测的新方法
机译:具有超薄栅极氧化物的NMOS器件的封闭式分区栅隧穿电流模型
机译:带有超薄氮化栅氧化物的NMOS和PMOS器件在低场处应力引起的泄漏电流
机译:表征和预测深亚微米nMOS器件寿命的新方法
机译:机械应力对硅和锗金属氧化物半导体器件的影响:沟道迁移率,栅极隧穿电流,阈值电压和栅极堆叠
机译:具有预测寿命显示功能的低成本浪涌电流检测传感器用于维护电涌保护器
机译:具有伪NMOS和传输门逻辑的SVL技术设计低漏电流平均功率CMOS电流比较器的设计
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