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【24h】

Recombination in the Ge-spiked monoemitter of the SiGe:C HBTs

机译:SiGe:C HBT的掺Ge单发射极中的重组

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摘要

A SiGe spike in the monoemitter of a SiGe:C HBT locally increases the recombination rate. The narrower energy bandgap of SiGe compared to Si increases the minority charge storage, resulting in higher recombination rate. The SiGe spike acts as a virtual contact and increases the base current. This results in lower current gain, and hence higher BV_(CEO)- This paper studies the physical mechanism for this higher recombination rate in the SiGe spike, and it calculates the minority carrier lifetime in the SiGe spike.
机译:SiGe:C HBT的单发射极中的SiGe尖峰会局部提高重组率。与Si相比,SiGe的能带隙更窄,从而增加了少数电荷存储量,从而提高了复合率。 SiGe尖峰充当虚拟触点并增加了基极电流。这导致较低的电流增益,因此导致较高的BV_(CEO)-本文研究了SiGe尖峰中较高的复合率的物理机制,并计算了SiGe尖峰中的少数载流子寿命。

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