机译:低速率深层瞬态光谱学-宽带隙半导体中缺陷特征的强大工具
Universitat Leipzig, Institut fuer Experimented Physik II, Linnestrasse 5, 04103 Leipzig, Germany;
Universitat Leipzig, Institut fuer Experimented Physik II, Linnestrasse 5, 04103 Leipzig, Germany;
Max Planck Institute of Microstructure Physics, Weinberg2, 06120 Halle, Germany;
Universitat Leipzig, Institut fuer Experimented Physik II, Linnestrasse 5, 04103 Leipzig, Germany;
Universitat Leipzig, Institut fuer Experimented Physik II, Linnestrasse 5, 04103 Leipzig, Germany;
Deep-Level Transient Spectroscopy; DLTS; Defects; Low rate DLTS; Optical DLTS; ODLTS;
机译:同步辐射深能级瞬态光谱法用于半导体的缺陷表征
机译:宽带隙层状CdI2半导体中的三光子激发PL光谱和光生Frenkel缺陷
机译:基于电荷的深层瞬态光谱法(Q-DLTS)研究有机半导体中的缺陷
机译:空间分辨的电子束在宽带隙半导体中诱导瞬态光谱扫描
机译:使用深能级瞬态光谱研究宽带隙材料中的深层缺陷。
机译:宽带隙半导体中THz瞬态激励和Gunn振荡的过冲机制
机译:宽带隙半导体缺陷研究的高温深型瞬态光谱系统