...
首页> 外文期刊>Research Disclosure >A METHOD FOR MODELING MEASUREMENT DATA OVER A SUBSTRATE AREA AND ASSOCIATED APPARATUSES
【24h】

A METHOD FOR MODELING MEASUREMENT DATA OVER A SUBSTRATE AREA AND ASSOCIATED APPARATUSES

机译:一种在基板区域和相关装置上建模测量数据的方法

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Disclosed is a method for modeling measurement data over a substrate area and associated apparatus. The method comprises obtaining measurement data relating to a first layout; modeling a second model based on said first layout; evaluating the second model on a second layout, the second layout being more dense than said first layout; and fitting a first model to this second model according to the second layout.
机译:公开了一种用于在基板区域和相关装置上建模测量数据的方法。该方法包括获取与第一布局有关的测量数据;基于所述第一次布局建模第二种模型;在第二个布局上评估第二模型,第二个布局比所述第一次布局更密集;根据第二布局将第一模型拟合到该第二模型。

著录项

  • 来源
    《Research Disclosure》 |2020年第676期|1384-1397|共14页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号