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机译:基于扩展逆高斯过程模型的偏移正常随机效应和测量误差的劣化分析
Beihang Univ Sch Reliabil & Syst Engn Beijing Peoples R China;
Beihang Univ Sch Reliabil & Syst Engn Beijing Peoples R China;
Univ Grenoble Alpes CNRS Grenoble INP GIPSA Lab Grenoble France;
Extended inverse Gaussian process model; Skew-normal random effects; Measurement errors; The MLE method; Extended MC integration algorithm;
机译:基于具有偏正态随机效应和测量误差的扩展逆高斯过程模型的退化分析
机译:基于逆高斯的模型,具有降解分析的测量误差
机译:基于具有测量误差的自适应逆高斯劣化过程剩余使用的生命预测
机译:随机效应的逆高斯过程模型的劣化分析:贝叶斯视角
机译:测量误差模型的两个方面:1.几何平均函数关系的一般化; 2.测量误差模型中过拟合和过拟合的影响。
机译:同时贝叶斯推断对偏光正常的半导体非线性混合效应模型具有协变量测量误差
机译:基于具有测量误差的自适应逆高斯劣化过程剩余使用的生命预测