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Review of questionnaire to AlHA accredited laboratories for the analysis of silica

机译:向AlHA认可的实验室调查问卷进行二氧化硅分析

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摘要

X-ray powder diffraction is one of the two principal methods used for the routine analysis of free SiO_2 for monitoring silica in the industrial workplace. During late 1996 and early 1997, a questionnaire was prepared and distributed to all the analytical laboratories on the American Industrial Hygiene Association (AIHA) list of accredited facilities that indicated they did analyses for silica. This report is based on the responses to that questionnaire with comments from the author on the responses and recommendations that suggest themselves from the responses.
机译:X射线粉末衍射是常规SiO 2常规分析的两种主要方法之一,用于监测工业车间中的二氧化硅。在1996年末和1997年初,准备了一份调查表,并分发给了美国工业卫生协会(AIHA)认可设施清单上的所有分析实验室,表明它们进行了二氧化硅分析。该报告基于对该问卷的答复,并附有作者对这些答复的评论以及从这些答复中提出自己的建议。

著录项

  • 来源
    《Powder diffraction》 |2001年第4期|p.192-197|共6页
  • 作者

    Deane K. Smith;

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 工程材料学;
  • 关键词

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