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【24h】

Typical values of Rietveld instrument profile coefficients

机译:Rietveld仪器轮廓系数的典型值

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摘要

GSAS instrument parameters are tabulated for a variety of laboratory and synchrotron diffractometers to give users an idea of the typical ranges of profile parameters when they generate their own instrument parameter files. For modern high-resolution laboratory diffractometers, the parameters fall in the ranges 0
机译:将GSAS仪器参数制成表格,以用于各种实验室和同步加速器衍射仪,以使用户在生成自己的仪器参数文件时了解轮廓参数的典型范围。对于现代高分辨率实验室衍射仪,参数的范围为0

著录项

  • 来源
    《Powder diffraction》 |2011年第1期|p.88-93|共6页
  • 作者

    James A. Kaduk; Joel Reid;

  • 作者单位

    Illinois Institute of Technology, 3101 S. Dearborn St., Chicago, Illinois 60616;

    International Centre for Diffraction Data, 12 Campus Blvd., Newtown Square, Pennsylvania 19073;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

    rietveld; instrument profile; profile function; convolution;

    机译:rietveld;仪器简介轮廓功能;卷积;

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