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机译:在闩锁测试结构和以CMOS技术处理的I / O单元中发生外部瞬态闩锁现象期间,载流子等离子体的瞬态干涉图映射
Institute for Solid State Electronics, Vienna University of Technology, Floragasse 7, A-1040 Vienna, Austria;
Infineon Technologies AG, COM BTS LIB, D-85579 Am Campeon, Neubiberg, Germany;
Infineon Technologies AG, COM BTS LIB, D-85579 Am Campeon, Neubiberg, Germany;
Infineon Technologies AG, COM BTS LIB, D-85579 Am Campeon, Neubiberg, Germany;
Institute for Solid State Electronics, Vienna University of Technology, Floragasse 7, A-1040 Vienna, Austria;
Institute for Solid State Electronics, Vienna University of Technology, Floragasse 7, A-1040 Vienna, Austria;
Infineon Technologies AG, COM BTS LIB, D-85579 Am Campeon, Neubiberg, Germany;
机译:瞬态干涉图法在ESD和闩锁分析中的应用
机译:片上和片外保护对CMOS IC瞬变感应闩锁灵敏度的影响
机译:激光在CMOS传输门中闩锁的瞬态分析
机译:结合光发射和背面瞬态干涉映射方法的功率控制器件的瞬态闩锁分析
机译:用于BiCMOS应用的合并双极MOS结构的闩锁预防和建模。
机译:具有嵌入式载流子复合结构的新型高保持电压SCR可实现闩锁免疫和强大的ESD保护
机译:防止散装CMOS工艺中辐射引起的闩锁的设计技术
机译:闩锁和辐射集成电路 - LURIC:用于CmOs闩锁调查的测试芯片。