机译:未掺杂的栅极叠层双栅极(GSDG)MOSFET的漏极电流模型,包括热载流子退化效应
LEA, Department of Electronics, University of Batna, Algeria;
Department of Physics, University of Batna, Batna 05000, Algeria;
LEA, Department of Electronics, University of Batna, Algeria;
LEA, Department of Electronics, University of Batna, Algeria;
机译:用于长通道未掺杂栅极堆栈周围栅极MOSFET的分析漏极电流模型,包括界面固定电荷
机译:单栅MOSFET,未掺杂对称和非对称双栅SOI MOSFET的漏电流模型和量子力学效应:综述
机译:单栅MOSFET,未掺杂对称和非对称双栅SOI MOSFET的漏电流模型和量子力学效应:综述
机译:双栅极MOSFET中漏极电流的紧凑模型,包括载流子量化和短沟道效应
机译:对绝缘体上硅CMOS器件和电路(包括双栅MOSFET)的基于过程的紧凑建模和分析。
机译:栅堆叠结构和工艺缺陷对32 nm工艺节点PMOSFET中NBTI可靠性的高k介电依赖性的影响
机译:漏极电流模型,包括对称双栅极MOSFET的速度饱和
机译:无意离散电荷对薄体双栅极mOsFET的标称无效通道的影响:经典到全量子模拟