SYSTÈME DE CARACTÊRISATION DES MATÉRIAUX INTEGRE POUR LES MICROSCOPIES OPTIQUE ET ÉLECTRONIQUE, L'ANALYSE D'IMAGES ET LA SPECTROMÊTRIE EDX

摘要

Nous présentons ici une approche et un système de caractérisation des matériaux en cours de réalisation qui intègre à partir d'une interface-usager unifiée le positionnement d'échantillons, l'acquisition d'images et leur analyse tant en microscopie optique qu'en microscopie électronique. Le système intègre aussi l'acquisition et l'analyse de spectres des rayons X par dispersion des énergies (EDX) pour permettre une analyse chimique ainsi que morphologique des aspects micro structuraux des matériaux.