SENSOR+TEST Conference 2009

摘要

Im kommenden Jahr werden die begleitenden Kongresse zur SENSOR+TEST erstmals in einer neuen Struktur veranstaltet. Unter dem Oberbegriff SENSOR+TEST Conference 2009 sind die Einzelkongresse SENSOR 2009, OPTO 2009 und IRS~2 2009 zusammengefasst. Für alle drei Veranstaltungen, die vom 26. bis zum 28. Mai parallel zur internationalen Fachmesse SENSOR+TEST in Nürnberg stattfinden werden, sind nun die «Call for Papers» erschienen. Die Einreichungsfrist für Beiträge läuft bis zum 25. September 2008. Beim SENSOR-Kongress, dessen Leitung bei Prof. Dr. Werthschützky, Technische Universität Darmstadt, und Prof. Dr. Lerch, Universität Er-langen-Nürnberg liegt, dreht sich der Themenschwerpunkt um Sensoren für verschiedene physikalische und chemische Messgrössen sowie deren Technologie und Anwendungen. Ein spezielles Forum, das auch auf der SENSOR+TEST-Messe mit einem Stand vertreten sein wird, hebt ausserdem die besondere Rolle der Mikrosystemtechnik hervor.