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Neue Source Measure Unit für Prüfung von Halbleitern/ Komponenten und Materialien

机译:新的源测量单元,用于测试半导体/组件和材料

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摘要

Agilent Technologies hat eine neue Source-Measure-Unit-Serie (B2900A) für den Test von Halbleitern, Komponenten und Materialien auf den Markt gebracht. Die Geräte bieten grossen Spannungs- und Strombereich, Präzision und hervorragende Leistung zu moderaten Preisen an. Sie sind mit Farbdisplay und intuitiver, grafischer Benutzeroberfläche ausgestattet. Die Aufzeichnung der Strom-versus-Spannung-Kurven (IV-Kurve) für Charakterisierung von Halbleitern, aktiven/passiven Bauteilen und Werkstoffen ist schnell und einfach. Der Spannungsbereich erreicht 210 V, während der Strom 3 A gross sein kann (DC, 10,5 A gepulst).
机译:安捷伦科技公司推出了一种新的源测量装置系列(B2900A),用于测试半导体,组件和材料。该器件以适中的价格提供了广泛的电压和电流范围,精度和出色的性能。它们配备了彩色显示屏和直观的图形用户界面。电流-电压曲线(IV曲线)的记录可快速简便地表征半导体,有源/无源组件和材料。电压范围达到210 V,而电流可以为3 A(DC,10.5 A脉冲)。

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  • 来源
    《eL forum》 |2011年第7期|p.47|共1页
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