机译:用同步辐射评估单层,双层和多层TiN和TiAlN薄膜的内部应力
tin film; TiN; TiAlN; residual stress; synchrotron radiation; x-ray diffraction; multi-layer structure;
机译:用同步辐射评估单层,双层和多层TiN和TiAlN薄膜的内部应力
机译:用同步加速器辐射评估TiN薄膜的内部应力
机译:热处理导致X射线和同步加速器辐射改变SiO2 / Cu / TiN薄膜内部应力的变化
机译:同步辐射评估多层膜中的内应力
机译:通过同步加速器辐射对纳米结构涂层中的残余应力进行无损评估。
机译:同步辐射法射频溅射WC-Co薄膜的结构和形貌数据集
机译:具有同步辐射的晶体中的前沿。利用同步辐射的各种性能。具有X射线全反射技术的薄膜的特征。
机译:用同步辐射辐照凝聚的分子前体生长介电薄膜。