机译:高剂量γ射线辐照引起的缺陷及其对CdZnTe探测器中电荷输运性能的影响分析
Xiamen Univ Technol Fujian Prov Key Lab Optoelect Technol & Devices Xiamen 361024 Peoples R China|Northwestern Polytech Univ State Key Lab Solidificat Proc Xian 710072 Peoples R China;
Northwestern Polytech Univ State Key Lab Solidificat Proc Xian 710072 Peoples R China;
机译:布里奇曼生长的CdZnTe探测器中In,Al,Ni和Sn掺杂剂引起的点缺陷及其对电荷载流子俘获的影响
机译:CDZNTESE半导体室温γ射线探测器的电荷运输性能
机译:用α粒子和低能伽马射线评估CdZnTe探测器传输特性的灵敏度分析
机译:垂直布里奇曼技术生长的CdZnTe探测器的光谱响应和电荷传输性质
机译:分子动力学模拟分析了辐照引起的碳纳米结构缺陷及其对纳米力学和形态学特性的影响。
机译:利用亚带隙光辐射改善CdZnTe检测器的载流子传输性能
机译:传输特性对平面TlBr和CdZnTeγ射线探测器能量分辨率的影响:蒙特卡洛研究
机译:CdZnTe中点缺陷与电荷传输的相关性:室温X射线和γ射线探测器的应用